Ориентация образцов

Уменьшение с ростом ориентации образца 4- 10- <Дп<14- 10-< [45] [c.347]

Исследования с помощью микроскопа начинают на образце высокоориентированного ПП, в котором-оси макромолекулы расположены в направлении растяжения пленки. Вращением предметного столика микроскопа добиваются положения, при котором ось ориентации образца становится параллельной пробной пластинке. Наблюдают изменение интерференционной окраски (разности хода) при последовательном прохождении поляризованного света через пробную пластинку и пленку ПП, на основании чего делают вывод о прямой или обратной параллельности индикатрис макромолекулы и стандартного кристалла (см. рис. VI. 15). [c.196]

Кристаллический полистирол не растворим в общераспространенных растворителях при обычной температуре, но полностью растворяется в кипящем бензоле, толуоле, ксилоле, метилэтилкетоне. Растворы стабильны при комнатной телшературе. Плотность кристаллического полистирола 1,08 г/см . Свойства кристаллического полистирола мало изменяются до 200°, при 220° происходят плавление кристаллов и переход полимера в вязкотекучее состояние. Хрупкость кристаллического стирола выше хрупкости аморфного, но ее можно несколько снизить ориентацией образца или введением пластификаторов [111]. Введение пластификатора в аморфный или кристаллический полистирол резко снижает температуры их стеклования и плавления, уменьшая температурный интервал применения полистирола. [c.806]

Ориентация образца по отношению к направлению течения металла [c.182]

Анализ текстуры — это определение преимущественной ориентации кристаллитов в поликристалличе-ском материале. Термин текстура используется здесь как синоним преимущественной кристаллографической ориентации в поликристаллическом, как правило, однофазном, материале. Для описания преимущественной ориентации обычно производится построение полюсных фигур посредством измерения интенсивности дифракции данного рефлекса (при постоянном значении угла 20) при различных значениях угловой ориентации образца. Затем строится контурная карта интенсивности в зависимости от угловой ориентации образца. Наиболее распространенными способами построения полюсных фигур являются стереографическая и равновеликая проекции. [c.49]

Эффект толщины может быть также результатом зависимости между ориентацией образца и текстурой в а фазе. Как [c.318]

Влияние потенциала велико также и на скорость роста трещины при КР. В работе [72] отмечена примерно линейная зависимость между потенциалом и средней скоростью роста трещины V. Эта зависимость справедлива для растворов, содержащих С1 , I- и Вг- (рис. 19). Подобная линейная зависимость была показана на сплавах —8 Мп, Тх—13 V—11 Сг—3 А1, Т1—11,5 Мо—6 2г— —4,5 5п (рис. 20) [103—105]. Наклон этой зависимости не постоянен и определяется химическим составом сплава и термообработкой. Значение других металлургических параметров на ускоренное распространение трещины в условиях контролируемого потенциала для сплава Т1—8А1—1 Мо—IV представлено на рис. 21 [31]. Кривые 1 и 2 показывают изменение скорости роста трещины при наложении потенциала для двух ориентаций образцов, вырезанных из одного и того же листа. Трещины быстрее распространяются в продольном направлении, чем в поперечном. Кри- [c.326]

Рлс. 21, Влияние ориентации образца с односторонним надрезом (1 — поперечный [c.328]

Для оценки влияния параметров, плавления иа свойства материала все другие параметры обработки, такие как термообработка,, ориентация образца и т. д., даи-жны быть постоянными. В литературе имеется очень мало данных, которые можно использовать для проведения строгого статистического анализа изменения свойств. В табл. 12 приводятся данные четырех плавок сплава Т1—6А1—4У, предоставленные различными производителями. Заметим, что изменения Ки составляют 15%, а Кшр -25%. [c.420]

Наиболее распространенной характеристикой степени ориентации является величина os 6, где 0 — угол между осью данного участка структурного элемента и осью ориентации образца. В аморфных ориентированных полимерах ориентации никогда не бывает полной и eos O редко достигает 0,5. Это связано, в первую очередь, со стерическими затруднениями для перегруппировок и с высокой подвижностью макромолекул. [c.66]

Количественной характеристикой степени ориентации полимера служит величина соз 0, где 0 - угол отклонения макромолекул от оси ориентации образца. Значение этого показателя лежит в интервале от 1/3 для неориентированного полимера до 1 для идеально ориентированного. У ориентированных аморфных полимеров ориентация всегда неполная и [c.142]

Необходимо различать параметры упорядоченности движения и среды. Первый характеризует движение спиновых зондов или меток относительно некоторого направления в пространстве (длинной оси молекулы, оси ориентации образца или директора жидкокристаллической матрицы). Второй же характеризует ориентацию молекул самой среды. Параметр упорядоченности движения равен [c.285]

В случае анизотропных образцов для нахождения параметра порядка определяются два значения максимального расщепления в спектре ЭПР при параллельном и перпендикулярном по отношению к внешнему магнитному полю направлениях оси ориентации образца, соответствующие 2Лц и 2Л . Если свободнорадикальная молекула ковалентно связана с макромолекулой, ее движение практически всегда анизотропно. Собственное движение метки относительно кинетической единицы главной цепи (сегмента) приводит к частичному усреднению тензоров и А, как и в случае зонда. Количественной мерой усреднения также может быть параметр упорядоченности движения 5. Его величина показывает, в какой мере метка способна отражать движение сегмента. На рис. XI. 18 изображена метка и конус ее движения относительно сегмента цепи. Параметр 5-определяется выражением (XI. 10). Если 5=1 (а = 0), например, в случае жесткой связи метки с сегментом, то при условии аксиальной симметрии тензоров g и А собственное вращение метки вокруг связи, параллельной г, не влияет на форму спектра ЭПР. Изменение формы спектра будет происходить только вследствие движения сегмента цепи. При 5 = 0 (а = 90°), т. е. связка гибкая (достаточно длинная). [c.286]

Из-за отсутствия гониометрического столика электронно-микроскопическая картина дефектов имела несколько случайный характер, однако окончательный ее вид был скорректирован на основании многих наблюдений. Трудность, возникавшая при непосредственном исследовании алмаза в электронном микроскопе, заключалось в том, что наблюдавшаяся картина исчезала под пучком электронов через 2—5 с. Непосредственная дифракционная картина дефекта зависела от ориентации образца по отношению к электронному лучу. Контраст на изображении по этой причине является функцией толщины образца и глубины залегания дефекта. Для дефекта, расположенного наклонно к плоскости образца, периодичность чередования светлых и темных участков, отражающая глубину залегания дефекта, выявится в виде ряда контуров, параллельных линии пересечения плоскости дефекта с поверхностью образца. [c.410]

Таблица 7. Вязкость разрушения высокопрочных алюминиевых сплавов в сухом воздухе (Ки) и в ртути ( Сгожм) при комнатной температуре, ориентация образцов ВД)

Для описания направлений ориентации кристаллитов можно использовать ориентацию элементарной ячейки. Обратная полюсная фигура дает вероятность нахождения данной ориентации образца в положении, параллельном ориентации кристалла (элементарной ячейки). Получив дифрактометрические данные для нескольких рефлексов, и объединив соответствующие полюсные фигуры, можно построить полную функцию распределения ориентации кристаллитов в однофазном поликристаллическом материале. [c.50]

Получены формулы для практически важных случаев дефектоскопии подобным методом. Например, установлено количественное соответствие между наблюдаемой зависимостью резонансных частот от ориентации образца в измерительном узле и характеристиками дефектов. В частности показано, что при изменении угла д между раДиус-векторами, проведенными из центра к дефекту и к возбудителю, резонансные частоты изгибных колебаний пластинки меняются по закону [c.158]

Для получения особо чистых образцов, карбазол марки ч очищался хроматографическим методом, затем сублимацией и зонной плавкой. Оценка чистоты образцов проводилась методом хромато-масс-спектрометрии. Обнаруженные примеси составляют антрацен—0,0%, метилкарбазол—0,005% и тетраметилнафта-лин — 0,005%. Исследование физических свойств проводилось на монокристаллических образцах, выращенных по методу Бриджмана [1]. Ориентация образцов осуществлялась рентгенографическим методом по прямым лауэграммам [2]. [c.123]

Экспериментальные данные Регеля и Лексовского [75], полученные для долговечности частично-ориентированного волокна ПАН сравниваются на рис. 3.11 с теоретическими кривыми, полученными с помощью уравнения (3.32). Следует подчеркнуть, что увеличение прочности благодаря лучшей ориентации волокна ПАН (или его модельного представления) достигает Ч о/оо = 5. Аналогичные значения увеличения прочности (в 2—5 раз) при ориентации образцов были получены для ПЭ, ПП, ПС, ПВХ, ПММА, ПА [51, 54]. В какой-то степени ограниченный рост жесткости в данных экспериментах, как можно заметить, указывает на то, что ориентированные элементы являются не просто сильно выпрямленными сегментами, а скорее молекулярными доменами с небольшой анизотропией. Последнее не снимает предположения о том, что разрушение элемента, по существу, представляет собой разрушение наиболее сильно напряженных цепных молекул. Так будет в случае. [c.88]

Бехт и Фишер [2] показали, что свободные радикалы образуются в аморфных областях. Эти авторы обнаружили, что при воздействии напряжения на образцы поликапролактама, набухшие в метакриловой кислоте, не выявляется спектр ЭПР, типичный для радикала полиамида, а вместо него регистрируется полимеризационный радикал метакриловой кислоты. Следовательно, на основании логичного предположения, что набухают только аморфные области, доказано, что свободные радикалы образуются лишь в этих областях. Верма и др. [3] пришли к такому же, не раз подтвержденному выводу путем изучения радикалов, полученных облучением частично кристаллических полимеров. Такие радикалы были получены v-облу-чением во всем объеме пленки ПА-66, т. е. как в аморфных, так и в кристаллических областях. При комнатной температуре Верма получил три, четыре или шесть компонент в спектре в зависимости от ориентации образца в ЭПР-резонаторе в магнитном поле. Он объяснил явную анизотропию спектра тем, что большинство оставшихся радикалов располагается в хорошо ориентированных кристаллических блоках. Если свободные радикалы были получены в том же самом материале путем растяжения последнего, то не было обнаружено заметной анизотропии спектра ЭПР. Очевидно, в данном случае радикалы располагались в местах с достаточно слабой локальной [c.188]

Под влиягшем длительного воздействия нагрузки на образец при температуре ниже 250" происходит постепенное разрушение хаотично расположенных сферолитов и образование новых кристаллитов, ориентирующихся в направлении приложенной силы. Если процесс рекристаллизации, вызванный ориентацией образца, успел достигнуть максимума, сопротивление полимера деформирующему действию данной нагрузки увеличивается, что проявляется в заметном возрастании предела пропорциональности. Так, растягиванием пленок политетрафторэтилена можно вызвать его рекристаллизацию, при этом предел прочности при растяжении в направленпи ориентации возрастает в 3 раза (до 300 кг см вместо 100 кг1см- для неориентированного образца). [c.257]

Картины дифракции ориентированных полимеров в зависимости от степени растяжения представляют собой либо системы концентрическ/.х колец с неодинаковой плотностью почернения, либо совокупность отдельных дуг различной протяженности. Такие картины называют текстур-рентгенограммами (рис. VI. 16). На них различают меридианальные и экваториальные линии. Меридианом является воображаемая линия, проходящая через центр текстур-рентгенограммы параллельно направлению ориентации образца. Экватором называют линию, перпендикулярную меридиану и также проходящую через центр текстур-рентгенограммы. [c.179]

Почти все виды разрушений при коррозионном растрескивании представляют собой ма <роскопически плоские поверхности. Однако если растрескивание транскристаллитное, то наклон плоскости трещпны по отношению к главным кристаллографическим осям будет зависеть от степени преимущественной ориентации образца. Ветвление трещины может также изменить направление растрескивания. На тонких образцах титанового сплава часто проявляется смешанный характер разрушения — вязкий отрыв и разру- [c.375]

Прн растяжении кристалличной плеикк происходит ориентация. Образцы ориентированной пленки очень прочны. Выше температуры плавления кристаллитов (около 55°) лленкн становятся похожими на каучук, однако сохраняют свою прочность. [c.309]

Рис. 28. Влияние ориентации образца на примере кривых V—K, полученных на сплаве 7079-T6SI (КР в растворе 4,5 М Na l. <=23 С) а — область возможного ветвления трещины

Принцип определения остаточных напряжений методом рентгеновского дифракционного анализа основан на измерении углового распределения удельной деформации решетки. Для этого выбирается пик, соответствующий высокому значению угла 20, а затем измеряется изменение межплоскостного расстояния ё при различной ориентации образца. Используя закон Гука, по распределению удельной деформации можно рассчитать остаточные напряжения. [c.49]

Ориентация образца. В разделе электронно-микроскопических исследований позже будет показано, что большинство титановых сплавов во многих средах разрушаются подобно процессу скола. Так как такие процессы происходят по определенным плоскостям, средняя их ориентация по отношению к оси растяжения будет влиять на определяемую степень чувстви- [c.316]

Интерферированные лучи регистрируют двумя способами фотографическим и днфрактометрнческим. При фотографическом способе в специальных рентгеновских камерах на фотопленке получают рентгенограмму в виде серий линий или пятен (рефлексов), в зависимости ov степени ориентации образца. Их расположение характеризует направление, а степень почернения - интенсивность интерферированных лучей. При дифрактометрическом способе интенсивность интерферированных лучей измеряют в рентгеновском дифрактометре, снабженном счетчиком рентгеновских квантов и самопишущим устройством в результате получают дифрактограмму в виде кривой с рядом пиков (рефлексов), отражающих направление и интенсивность интерферированных лучей. [c.145]

Так, в работе [211] структура межламелярных аморфных областей растянутого ПЭ высокой плотности исследована с помощью линейных зондов — производных 4,4-диметилоксазоли-ден-Ы-оксида с различной длиной алкильной части радикала. Максимальная вытяжка составляла 900 %. Спектры ЭПР обнаруживали явную анизотропию компонентов аксиально — симметричного тензора СТВ. Максимальное расщепление в спектре испытывало ступенчатое уменьшение с ростом температуры, причем температура перехода зависела от ориентации образца в магнитном поле. Анизотропия СТВ возрастала с длиной молекулы зонда и степенью вытяжки, что связывается с уменьшением подвижности и увеличением распрямленности цепей ПЭ в аморфной фазе. Параметр порядка 5 при низких температурах составлял 0,9 при 423 К 5 = 0,1. [c.291]

Интенсивность данного рефлекса (/г, к, [) согласно закону Вульфа—Брэггов пропорциональна числу отражающих плоскостей (/г, к, I). Следовательно, полюсная фигура дает вероятность нахождения данного рефлекса в положении нормали к кристаллической плоскости как функции ориентации образца. Если ориентация кристаллитов в образце имеет случайный характер, интенсивность дифракции будет равномерна. [c.49]

ОТ —180 до —100°С третий вид релаксационных потерь, уменьшающихся при понижении степени кристалличности. Энергия активации низкотемпературных потерь 12,6 кДж/моль (3 ккал/моль) характерна для дипольно-радикальных потерь аморфных полимеров. Максимумы tg6 в интервале температур от —50 до 50 °С обусловлены тепловым движением макромолекул в аморфных областях сополимеров. Максимумы и е в диапазоне 100—200°С связаны с плавлением кристаллитов сополимеров. Перед плавлением кристаллитов сополимеров, а также ПВДФ, при низких частотах е достигает значений 30—50 и резко уменьшается при плавлении, что может быть обусловлено ориентационными процессами в кристаллических областях сополимеров [52]. Ориентация образцов сополимера приводит к возрастанию удельного электрического сопротивле- [c.130]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология