Определение количества адсорбированного вещества методом оптическим

Для изучения поверхностей электродов в последние годы использовались три основных оптических метода эллипсометрия, спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения на поверхностях полупрозрачных пленочных электродов или на поверхностях проводящих стекол или окислов и спектроскопия зеркального отражения. Другие оптические методы основаны на абсорбции в пористых структурах из двуокиси кремния или глинозема с металлическим покрытием (ср. с поверхностью раздела газ - твердое тело [ 38]) с использованием подходящих растворителей, прозрачных для ИК-излучения в определенной области длин волн, а также на оптических исследованиях растворов, находящихся в равновесии с поверхностью, в качестве основы для определения in situ количества вещества, адсорбирующегося на большой поверхности электрода при соответствующем контроле по потенциалу или по току [39, 40]. [c.399]