Спектроскопия зеркального отражения

Среди неэлектрохимических методов исследования поверхностных групп ХМЭ следует указать спектроскопию на оптически прозрачных углеродных электродах [201], спектроскопию зеркального отражения [202], а также ИК- и рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию [184, 192, 202, 203]. Если два первых метода служат для исследования редокс-превращений привязанных групп, то два последних обеспечивают доказательства осуществления тех или иных стадий реакции присоединения. [c.206]

Спектроскопия зеркального отражения (30) [c.117]

В физической химии, в частности в молекулярной спектроскопии, для обозначения точечных групп применяется символика, введенная Шенфлисом. Точечные группы, содержащие операции только одной поворотной оси, обозначаются буквой С с индексом, показывающим порядок оси (например, Сз-группа, включающая только повороты на 120, 240, 360°). Точечные группы с единственной зеркально-поворотной осью -го порядка обозначаются через Зп- Группы с дополнительными осями симметрии второго порядка, перпендикулярными главной оси, обозначаются буквой О с индексом, показывающим порядок главной оси. Наличие плоскости зеркального отражения, перпендикулярной главной оси, передается индексом /г а плоскостей, параллельных главной оси, — индексом и и т, д. Например, — группа с поворотной осью четвертого порядка и перпендикулярными ей осями второго порядка С ч — группа с по- [c.21]

Спектроскопия диффузного отражения получила достаточно широкое распространение благодаря простоте использования и наличию теоретических исследований, обеспечивающих интерпретацию результатов (14]. Явление диффузного отражения (ДО) состоит в том. что, проникая вовнутрь диффузно рассеивающего слоя, излучение испытывает многочисленные акты отражения и преломления, в результате чего диффузно отраженное излучение в отличие от зеркального рассеивается равномерно под всеми углами. Если вещество обладает избирательным поглощением, то излучение испытывает ослабление на частотах, соответствующих положению линий собст-68 [c.68]

Метод НПВО представляет собой разновидность спектроскопии, но его следует отличать от других форм спектроскопии отражения. Спектроскопия, использующая обычное отражение, отличается тем, что излучение падает на поверхность образца и отражается в монохроматор, проходя через ряд оптических зеркал. Устройства для этих исследований позволяют работать с постоянными или переменными углами падения. Обычный спектр зеркального отражения непохож на спектр пропускания. [c.300]

Другая распространенная методика спектроскопии отражения имеет дело с тонкими пленками, нанесенными на сильно отражающую поверхность, например из алюминия, и все это устройство помещается в обычную установку для измерения зеркального отражения. Получаемый таким образом спектр похож на обычный спектр поглощения. Этот вид отражательной спектроскопии иногда называют двукратным пропусканием, поскольку излучение проходит через образец, отражается от зеркальной поверхности, проходит образец еще раз и попадает затем в монохроматор. Техника двукратного пропускания довольно широко распространена, но применение ее ограничено теми веществами, которые могут быть приготовлены в виде очень тонких слоев. Она непригодна, если исследуемые образцЕ.1 имеют очень большую толщину или очень сильно поглощают. [c.300]

Наряду с обычными методами абсорбционной спектрофото-метрии, основанными на измерении пропускания образцов, в прикладной молекулярной спектроскопии получили также значительное развитие методы, базирующиеся на изучении свойств света, отраженного веществом. Существенно при этом, что коэффициент зеркального отражения Я, представляющий собой отношение интенсивностей отраженного (/отр) и падающего (/о) световых потоков (рис. 5.22), довольно просто связан с показателем поглощения и (V) и коэффициентом поглощения К (у) вещества. Так, для нормального падения света на границу раздела двух сред, одно из которых является поглощающим (показатель преломления п = п — Ы), а второе прозрачным (показатель [c.153]

Известно, что молекулы, не имеющие элементов симметрии второго порядка (плоскость зеркального отражения, центр инверсии и инверсионные оси), проявляют оптическую активность. Среди оптически активных молекул встречаются как низкосимметричные органические молекулы, так и различные кинетически инертные комплексы металлов. Все реакции, которые сопровождаются изменением их симметрии, ведут к изменению оптической активности. Поэтому неудивительно, что в результате изменения симметрии при сольватации в случае оптически активных систем эффект растворителя проявляется в спектре дисперсии оптического вращения (ДОВ) и, более заметно, в спектре кругового дихроизма (КД). Таким образом, спектроскопия КД становится ценным методом изучения влияния растворителя. [c.101]

Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия (рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. Эти методы дают информацию о микроструктуре поверхности твердых электродов, о химическом составе поверхностного слоя, изменение которого могло произойти в результате необратимой адсорбции тех или иных компонентов раствора, о составе и структуре возникших на поверхности окисных пленок. Однако для изучения обратимых адсорбционных явлений на электродах эти методы не подходят. [c.80]

Различить возможные механизмы реакции позволяет сочетание вольтамперометрни со спектроскопией зеркального отражения [14, 15, 52] В основе этих экспериментов лежит контроль за поверхностью электрода с помощью спектроскопии и ВИДИМОЙ области в условиях электро.г]Иза при посюяином потенциале Можно также контролировать поглощение при прея варительном определении значения в зависимости от по- [c.405]

Спектроскопия зеркального отражения эллипсометрия модуляционная спектроскотия спектроскопия НПВО [c.152]

Для изучения поверхностей электродов в последние годы использовались три основных оптических метода эллипсометрия, спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения на поверхностях полупрозрачных пленочных электродов или на поверхностях проводящих стекол или окислов и спектроскопия зеркального отражения. Другие оптические методы основаны на абсорбции в пористых структурах из двуокиси кремния или глинозема с металлическим покрытием (ср. с поверхностью раздела газ - твердое тело [ 38]) с использованием подходящих растворителей, прозрачных для ИК-излучения в определенной области длин волн, а также на оптических исследованиях растворов, находящихся в равновесии с поверхностью, в качестве основы для определения in situ количества вещества, адсорбирующегося на большой поверхности электрода при соответствующем контроле по потенциалу или по току [39, 40]. [c.399]

Ha опыте обычно фиксируют не AR, а относительную величину AR/Ro, которая не зависит ни от интенсивности падающего света, ни от дефокусировки его в ячейке, ни от диффузионного рассеивания света. Это позволяет избавиться от трудностей, связанных с необходимостью учета этих факторов в методе прямого зеркального отражения. Величины AR/Ro регистрируют в зависимости от среднего потенциала Во при заданной длине волны света (X= onst) либо от длины волны при 0 = onst. Впервые для изучения поверхностных свойств серебряного и золотого электродов метод модуляционной спектроскопии отражения был применен Дж. Фейнлейбом (11966). [c.183]

Применение двухквантовой спектроскопии для идентификации связанной пары спинов С известно под акронимом INADEQUATE (эксперимент с переносом двухквантовой когерентности при естественном изотопном содержании) [8.54—8.64]. Импульсная последовательность, которая при этом обычно используется, показана на рис. 8.4.2, а. Фазовый цикл, необходимый для устранения нежелательной одноквантовой когерентности, может быть получен из путей переноса когерентности, показанных на рис. 8.4.1, г, с применением правил, установленных в разд. 6.3, которые приводят к минимальному четырехщаговому циклу. Для улучшения подавления фазовый цикл может быть расширен до 16, 32 или 128 щагов [8.61]. Чтобы уменьшить спектральную ширину по оси wi, можно сохранить лишь путь / = 0-> +2-> -1 для этого используют либо г-импульсы [8.58], применяя смешивающий импульс с /3 = 135°, который воздействует лишь на сигналы, представленные на рис. 8.4.3 небольшими квадратами [8.60], либо более точно фазовый цикл с N> А шагами [8.65]. Однако оказывается, что более предпочтительно оставлять оба зеркально отраженных пути на рис. 8.4.1, г с /3 = ir/2 и применять пропорциональные времени фазовые инкременты для разделения пиков с р = 2, как показано на рис. 6.6.4. Так как двухквантовые сигналы двухспиновых систем лежат внутри узкой полосы вдоль диагонали (рис. 8.4.9), то применяя коррекцию отражений или реги- [c.537]

В вольтамперометрии с линейной разверткой напряжение изме няется между двумя предельными значениями с постоянной скоростью. Это изменение может быть однократным или циклическим в виде тре угольных волн, причем проводятся измерения соответствующего то ка (см. метод 7, табл. 2). Этот метод часто используется для получе ния количественных или полуколичественных представлений об электродной системе. По вольтамперометрическим кривым можно приблизительно проверить обратимость электродной системы, выяснить, имеет ли место многостадийность, распознать фарадеевский и нефа-радеевский адсорбционно-десорбщонный процессы и с помощью циклической вольтамперометрии определить электроактивные промежуточные соединения [201, 290 общий обзор вольтамперометрии с линейной разверткой содержится в 123, 248, 289, 490, 576]. Вольтамперометрия с линейной разверткой является особенно мощным средством для исследования сложных электродных процессов с участием органических соединений, если она применяется совместно с другими методами, такими, как оптическая абсорбционная спектроскопия [225, 231, 232] и электронно-спиновая резонансная спектроскопия [114, 309, 450]. Используя для контроля спектроскопию при зеркальном отражении, с помощью вольтамперометрии с линейной разверткой также легко изучать адсорбцию различных анионов и образование монослоев окислов или атомов чужеродных металлов [556]. [c.208]

С помощью инфракрасной спектроскопии поверхности можно определять поверхностные химикаты-добавки, такие как глицерилмоноолеат, полиизобутилен и вещества, улучшающие скольжение, а также результат обработки коронным разрядом. Распространенным методом является многократное нарушенное полное внутреннее отражение применяются также методики зеркального отражения и отражения под углом скольжения, с помощью которых инфракрасный спектрометр можно использовать для исследований в области химии поверхности. На рис. 1.18 показана схема анализа поверхности полимера с помощью многократного нарушенного полного внутреннего отражения. [c.42]

Для описания точечной симметрии нужно рассмотреть только четыре типа элементов симметрии центр симметрии, плоскость зеркального отражения, оси вращения н альтернирующие или инверсионные оси. К сожалению, для описания элементов симметрии используются две различные системы обозначений. Более поздней является система Германа — Могена, и ее, пожалуй, следует предпочесть, так как она одинаково пригодна для описания как точечной, так и пространственной симметрии. В кристаллографии обычно используется эта система. Однако более старая система описания точечной симметрии, пред-ложенная Шёнфлисом, не уступает системе Германа — Могена, и именно она применяется в спектроскопии, где, как правило, рассматривают только изолированные молекулы. Поэтому мы заключим обозначения по Шён-флису в скобки после обозначений по Герману — Могену, [c.15]

Вид кривой зависимости интенсивность поглощения—время зависит от типа механизма химической реакции, и эту кривую используют для его интерпретации. В принципе для изучения химических реакций электрогенерированных частиц можно применять не только метод с оптически прозрачным электродом, но и метод с зеркальным отражением луча (см. рис. 13) и его внутренним отражением от электрода, а также спектроскопию отражения или люминесценции. С помощью всех этих методов можно контролировать ход очень быстрых химических реакций первичных электродных продуктов (вплоть до диффузионного предела). Однако при этом возрастают требования к быстроте действия по-тенциостатов и спектрофотометров. [c.56]

Описана [909] система с зеркальным отражением для анализа ИК-спектроскопией микрообразцов полистирола и других материалов массой 10—100 мкг. Обсуждаются преимущества и недостатки этого метода по сравнению с другими модификациями инфракрасной микроспектроскопии. Анализируемый образец помещают на маленькое металлическое зеркало, которое отражает световой луч и направляет его обратно через образец. В результате этого удается получить спектр пропускания образца, причем эффективная длина пробега луча в два раза больще фактической толщины образца. Благодаря этому интенсивность всех полос поглощения в два раза превышает значение, получаемое при измерении обычным методом. Основные ограничения в этом случае связаны с явлением рассеяния света , эффектами полиморфизма и с трудностями в получении однородного образца. [c.230]

ЭЛЕКТРОННОЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ, физические методы исследования и локального анализа тв. тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). После взаимод. электронного зонда с в-вом можно регистрировать 1) электронные сигналы, т. е. электроны, прошедшие через образец (в методах просвечивающей электронной микроскопии, микродифракции электронов, спектроскопии, характеристич. потерь энергий электронов и др.), отраженные электроны (в электронографии на отражение, методе дифракции медленных электронов, зеркальной электронной микроскопии и др.), вторичные электроны, в т. ч. Оже-электроны (в методах электронной Оже-спектроскопии, растровой электронной микроскопии) 2) электрич. сигналы — ток в образце (поглощенные электроны), наведенный ток и наведенную эдс в полупроводниках 3) электромагн. излучение — рентгеновское (в методах рентгеноспектрального микроанализа, спектроскопии пороговых потенциалов), катодолюминесценцпю (в катодолюминесцентном микроанализе). Наиб, распространены рентгеноспектральный [c.700]

Так как отражательная спектроскопия еще не стала достаточно многообещающей, исследователи в ряде лабораторий изучали спектры пропускания тонких напыленных пленок с переменным успехом. Полоса валентных колебаний связи С — О около 2000 см для хемосорбированной СО имеет необычайно высокий коэффициент экстинкции, и, следовательно, ее можно обнаружить там, где низкая интенсивность полос поглощения затрудняет проблему исследования. Поэтому окись углерода часто применяется при разработке новых методик, однако нужно помнить, что необходимо, чтобы данный метод обеспечивал достаточно интенсивную полосу поглощения хемосорбированной СО, если можно ожидать, что будут получаться также и спектры других соединений. Пленки обычно испаряют, наматывая небольшие количества напыляемого металла на вольфрамовую нить, нагреваемую электрическим током. Там, где это возможно, лучше проводить напыление металла, не применяя вольфрамовой подложки это позволит избежать осложнений из-за загрязнений вольфрамом. Если пленку наносят в вакууме на пластину из соли, получающаяся зеркальная пленка приводит к сопутствующим большим потерям излучения в результате отражения. Напыление в присутствии инертного газа при давлении от 0,5 до нескольких миллиметров ртутного столба дает слой металлической черни со средним размером частиц около 150 А в диаметре. Потери за счет отражения нри этом уменьшаются, однако слой металла рассеивает так много излучения, что образец, едва пропускающий такое количество из-пучепия, которое способен зарегистрировать спек-тролтетр, дает в ИК-спектре, например, хемосорбированной СО только слабые полосы валентных колебаний связи С — О. Спекание отдельных небольших частиц металла в крупные агрегаты является одной из причин того, что пленки метал.т1ической черни рассеивают больше излучения, чем это допустимо для получения подходящего пропускания. [c.346]

Взаимодействие полиэфира с аэросилом исследовалось методом ИК-спектроскопии по специально разработанной методике [126]. Покрытие формировалось на поверхности частиц аэросила с удельной поверхностью 175 и /т. При таком способе приготовления образцов количество пленкообразующего, взаимодействующего с твердой поверхностью, значительно превыщает его объемное содержание, что дает возможность исследовать характер взаимодействия непосредственно на границе полимер — твердое тело методом ИК-спектроскопии. Примененный в данной работе метод приготовления образцов в отличие от методов, предусматривающих многократное отражение луча от зеркальной поверхности, покрытой монослоем полимера [127], или пропитку мономером пористого стекла [128, 129], является более простым и прямым, так как дает возможность исследовать характер взаимодействия с твердой поверхностью пленкообразующих, применяемых в промышленности. Адсорбция олигомера проводилась в течение двух суток при 20°С из 0,5 и 2,5%-ных растворов смолы в ацетоне с последующим добавлением нафтената кобальта и гидропероксида кумола. Полимеризация осуществлялась при 80 °С в течение 3 ч. Обработанный смолой аэросил прессовался в таблетки размером 10X18 мм под давлением 3,5 МПа. Спектры пересчитывали в щкалу оптических плотностей относительно фона поглощения аэросила. В спектре аэросила наблюдается узкая полоса поглощения валентных колебаний свободных поверхностных гидроксильных групп 3750 см 1 и широкая полоса с максимумом около 3500 см , обусловленным поглощением возмущенных адсорбцией воды гидроксильных групп поверхности и связанных друг с другом водородной связью адсорбированных молекул воды [130]. [c.98]

Первые публикации по инфракрасной спектроскопии содержат много примеров поляризационных спектров, т. е. сЯектров поглощения, которые меняются при изменении направления электрического вектора падающего излучения [119]. К ним относятся почти все спектры неорганических кристаллов, которые получали с помощью поляризованного луча, отраженного от зеркальной поверхности аморфного селена [112]. Незадолго до второй мировой войны Иллис с сотрудниками наблюдали эффекты дихроизма в ориентированных полимерах, таких, как фибриллярные белки. Эти наблюдения были сделаны при использовании призмы из кальцита и ограничивались областью до 2 мкм, где расположены обертоны и комбинационные полосы. В гл. 3 показано, что интерпретация этих полос может быть затруднена. Первые важные наблюдения основных полос поглощения ориентированных полимеров в поляризованном излучении проведены Эллиотом и сотр. [39, 40] с помощью вновь разработанного пропускающего поляризатора с пластинами из селена. Впоследствии при исследовании полимерной структуры нашли широкое применение поляризаторы из селена и хлористого серебра [99]. [c.86]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология