Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Кристаллы-анализаторы рентгеновского излучения, выбор

    Твердый образец подвергают облучению либо электронами, ускоренными в вакууме при разности потенциалов 5-40 кВ, либо первичным рентгеновским излучением высокой энергии и интенсивности. Испускаемое образцом вторичное характеристическое излучение рентгеновской частоты проходит через щель коллиматора на кристалл-анализатор, исполняющий роль диффракционной решетки для определения длины волны излучения, и попадает на регистратор для определения интенсивности отдельных линий и непрерывной записи рентгеновского спектра. Так работают приборы электронно-спектрального химического анализа (ЭСХА), рентгено-спектрального химического анализа (РСХА), электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы и др. В последнее время их объединяют с оптическими и электронными микроскопами для целенаправленного выбора объекта исследования в неоднородных средах. [c.109]


    Можно сказать, что в этом методе под действием возбуж-дающих рентгеновских лучей подкладка сама превращается источник рентгеновского излучения, который дает почти монохроматический пучок, используемый для абсорбциометрии оловянного покрытия. Поскольку кристалл-анализатор здесь не используется, то нежелательно, чтобы на детектор попадало какое-либо другое рентгеновское излучение з аметной интенсивности, кроме характеристических линий подкладки.. Среди рентгеновских лучей, которые могли бы исказить результаты, возможны дифракционные максимумы ( рис. 60) и характеристические линии слоя покрытия. Детектор следует расположить так, чтобы дифракционные максимумы в него не попадали характеристического излучения покрытия в благоприятных случаях можно избежать выбором такого напряжения на рентгеновской трубке, которого достаточно для возбуждения характеристического спектра подкладки, но недостаточно для возбуждения мешающего характеристического спектра слоя покрытия. В случае оловянного покрытия напряжение возбуждения составляет для /(-спектра железа 7,11 кв, а для /С-спектра олова 29,2 ке напряжение на трубке выбрано 20 кв. Линии /.-серии олова [c.161]


Физические методы анализа следов элементов (1967) -- [ c.221 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Анализаторы

Выбор кристалла-анализатора

Рентгеновское излучение



© 2025 chem21.info Реклама на сайте