Диффракционная решетка

Разложение излучения в спектр проводят в спектральных приборах. В данной главе невозможно подробно остановиться на конструкции всех выпускаемых промышленностью приборов, которые можно отнести к двум группам призменные спектральные приборы и приборы с диффракционными решетками. В основе такой классификации лежит способ разложения излучения [c.371]

Металлическая копия была использована в качестве матрицы, на которую наливали органическое стекло и по затвердевании отделяли слой стекла с отпечатанной на нем диффракционной решеткой. [c.150]

Уравнения (XVI,9) и (XVI, 10) точны при использовании монохроматического света. Монохроматический свет получают разложением белого света с помощью диффракционной решетки или системы призм. В менее точных приборах применяют окрашенные светофильтры с узкой областью пропускания Х- -).+АХ. [c.232]

Стеклянная оптика при исследовании инфракрасных спектров применима до X = 3, кварцевая оптика — до X = 5 (л, флюоритовая — до 8 (л, из каменной соли — до 14 л, из сильвина —до 24 р.. В далекой инфракрасной области вследствие малой дисперсии призматических аппаратов употребляются отражательные диффракционные решетки. [c.188]

Обе формы трифосфата натрия легче всего различаются по их рентгеновской диффракционной решетке [1]. Показатели преломления кристаллов слишком близки, [c.98]

Эмиссионный спектрограф с трехмерной диффракционной решеткой. [c.41]

Диффракционные решетки. Пучок монохроматического излучения, проходя через стеклянную пластинку, на которой нанесено большое число очень [c.133]

Рис. 97. Наложение спектров последовательных порядков друг на друга в диффракционной решетке.

Интерференционный светофильтр, применяемый в качестве монохроматора, изготовляют из слоя фторида магния неодинаковой толщины, имеющего форму клина. Таким образом длина волны пропускаемого излучения непрерывно изменяется от одного конца клина к другому. Весь монохроматор состоит только из узкой щели и приспособления из зубчатой рейки с шестеренкой, предназначенного для перемещения клина поперек светового потока перед щелью. Так же, как и в диффракционной решетке, возможны более высокие порядки спектров, соответствующие разделению 1 X, X и т. д. В случае необходимости можно [c.159]

Монохроматор по существу является спектроскопом, снабженным как входной, так и выходной щелями. В качестве диспергирующего элемента может применяться призма, диффракционная решетка или интерференционный клин (детали см. в главе 6). Часто рекомендуется дополнительно вставлять один или несколько светофильтров, назначение которых заключается в уменьшении количества паразитного света другой длины волны. Такое паразитное излучение обусловлено рассеянием или отражением от внутренней поверхности монохроматора и, в случае приборов с диффракционными решетками, наложением спектров более высоких порядков. Другой путь устранения паразитного излучения —применение двойного монохроматора, в котором излучение, прежде чем достигнуть выходной щели, проходит последовательно через две диспергирующие системы. [c.202]

Следует напомнить, что между дисперсией, производимой диффракционной решеткой, и длиной волны существует почти линейная зависимость, в то время как призма дает нелинейный спектр. По этой причине спектрофотометр, снабженный кварцевой призмой для ультрафиолетовых лучей и видимой области, будет давать спектр, линии которого расположены теснее к видимому концу. Тем не менее указанный прибор часто используется вследствие широкого диапазона длин волн. [c.202]

Фенол и три изомерных крезола можно определять в смеси по их поглощению в ультрафиолетовой области при следующих длинах волн . о-крезол, Х-274,4 л-крезол, 277,9 п-кре-зол, 283,0 т л фенол, 263,7 т[х. Указанные длины волн определяли фотографированием спектров поглощения пара, находящегося в равновесии с соответствующими жидкостями. Измерение проводили на большом спектрографе с диффракционной решеткой. Изображение, полученное на фотопластинке, разлагалось при помощи самопишущего микрофотометра и на основании его показаний определяли значения оптических плотностей. Преимущество этой техники заключается в том, что значительно уменьшается наложение нескольких полос поглощения вследствие того, что в паровой фазе, по сравнению с жидкой, полосы становятся более узкими. Отклонения в результатах анализа смесей лежат в пределах нескольких процентов. [c.231]

Для работы пригоден спектрограф, снабженный кварцевой оптикой или диффракционной решеткой, при условии, что его разрешающая сила и дисперсия достаточно велики, чтобы разделить линии присутствующих элементов. [c.457]

Праю-ика метода. В аналитических целях ИК-спектры поглощения получают в рабочей области 400—4000 см" (или 200—4000 см" ) обычно на различных двухлучевых (двухканальных) или (о 1ень редко в последние годы) на однолучевых инфракрасных спектрофотометрах (призменных, с диффракционными решетками и др.). Для записи спектров разных фаз (твердые, жидкие, газообразные) применяются следующие основные методики. [c.581]

I—осветительная часть II— оптическая часть III — приемно-регистрирую-щая часть / — источник света 2 —конденсорная система освещения щели спектрального прибора —щель 4. в —коллиматорный н камерный объективы 5 —диспергирующий элемент (призма, диффракциониая решетка) 7 —фокальная плоскость спектрального прибора I —окуляр 9 —глаз 10—фотографическая пластинка // — выходная щель /2 —фотоэлемент, фотоумножитель 13, / < —усилительное и отсчетно-регистрирующее устройство [c.650]

Помимо конечной ширины щели, немонохроматичность светового потока может быть вызвана присутствием рассеянного света. Под рассеянным светом обычно понимают полихроматическое излучение, попадающее в кюветную камеру спектрофотометра в результате различных отражений и рассеяний в диспергирующей системе. К рассеянию света приводят, например, дефекты в призмах, зеркалах или диффракционных решетках, возникающие на оптических деталях в промышленной атмосфере налеты, пыль и т. п. [8]. Длины волн рассеянного света не ограничены каким-либо интервалом, как это имеет место для немонохроматического света, проходящего через широкую щель. Как правило, [c.8]

Твердый образец подвергают облучению либо электронами, ускоренными в вакууме при разности потенциалов 5-40 кВ, либо первичным рентгеновским излучением высокой энергии и интенсивности. Испускаемое образцом вторичное характеристическое излучение рентгеновской частоты проходит через щель коллиматора на кристалл-анализатор, исполняющий роль диффракционной решетки для определения длины волны излучения, и попадает на регистратор для определения интенсивности отдельных линий и непрерывной записи рентгеновского спектра. Так работают приборы электронно-спектрального химического анализа (ЭСХА), рентгено-спектрального химического анализа (РСХА), электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы и др. В последнее время их объединяют с оптическими и электронными микроскопами для целенаправленного выбора объекта исследования в неоднородных средах. [c.109]

Диффракциониые ре1иетки применяются в физике для изучения спектров. В простейшем виде диффракциониая решетка представляет собой ряд прозрачных щелей одинаковой ширины, разделенных одинаковыми непрозрачными полосами. Диф-фракционные решетки изготовляются обычно на стекле, на которое специальной делительной машиной наносится до 300 линий на 1 мм. [c.148]

Автором совместно с Л. Э. Левиным были выполнены металлические копии с готовой диффракционной решетки, изготовленной на делительной мапшне. Процесс проводился по обычной схеме. Проводящий слой был нанесен химическим се-148 [c.148]

При замедлении электронов в мишени образуется целый спектр фотонов различных энергий. Рентгеновский спектр является непрерывным, начинается с предельно высокой частоты, определяемой уравнением (2), и простирается к более низким частотам с постепенно убывающей интенсивностью. Средняя энергия излучения может быть принята равной приблизительно половине величины Ьыша, получаемой по уравнению (2). На фоне этого непрерывного спектра наблюдаются отдельные пики значительно большей интенсивности. Эти пики, наблюдаемые лишь при более высоких напряжениях, отвечают электронным переходам между внутренними уровнями электронных оболочек атомов мишени. Рентгеновский спектр анализируют обычно, направляя излучение на кристалл (например, на кристалл хлористого натрия), который действует подобно диффракционной решетке спектрофотометра, работающего в области ультрафиолетового или видимого света. Более длинные волны рассеиваются кристаллом под большими углами 0 согласно уравнению Брегга [c.19]

Аналогичной формулой описывается интерференционное действие диффракционной решетки на видимый свет. Известно, что чем больше размеры решетки при неизменной величине ее постоянной, тем резче выражены инте )-ференционные максимумы. Подобно этому ограниченность пространственной ре-щетки всякого реального кристалла сказывается на резкости интерференционных максимумов интенсивности рассеянных им рентгеновских лучей. Ввиду того, что длина волны рентгеновских лучей порядка атомных размеров, т. е. порядка 1 А =10" см, указанный дополнительный эффект диффракционного расширения максимумов ничтожно мал для кристаллов микроскопического размера, т. е. для кристаллов, линейные размеры которых 1 [л. Однако этот эффект становится доступным наблюдению в случае рассеяния рентгеновских лучей кристал- [c.28]

Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными (не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения , диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные тины рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [c.56]

Спектрофотометр СФД-2 (рис. 80). В этом спектрофотометре монохроматизация света достигается с помощью диффракционнай решетки при этом создается одинаковая линейная дисперсия по всему участку (3,2 нм на 1 мм). С помощью этого спектрофотометра можно проводить измерения в области 220—1000 нм. ПриН цип работы и оптическая схема прибора такие же, как для СФ-4А. [c.210]

Если пользоваться кварцевым спектрографом или, еще лучше, спектрографом с диффракционной решеткой, то на фотопластинке можно обнаружить еще целый ряд характеристических линий водорода, располо- ённых в ультрафиолетовой части спектра. В этом случае получается спектр, показанный на рис. 17. Как видно из рисунка, при переходе от длинных волн к коротким отдельные линии все больше сближаются. При этом они ослабевают) пока, наконец. Совершенно не исчезают. [c.104]

Для измерения длины молекул выбирают обособленные, по возможности, вытянутые, целые и неповрежденные молекулы ДНК. Длина молекулы определяется в ангстремах .елением длгаы изображения нити ДНК на конечное увеличение снимка. Конечное увеличение представляет собой произведение первичного увеличения, получаемого на негативе, и увеличения при фоторепродукции. Значения первичного увеличения для всех ступеней электронного микроскопа должны быть точно проградуированы по диффракционной решетке и глобулам латекоа. [c.107]

Кварц прозрачен до 1800 А, область 4000—1850 А ) рактически наиболее важна, она исследуется в настоящее время главным образом с помощью кварцевой оптики (призмы, линзы, кюветы). Для более коротких волн-до 1200 А—употребляется оптика из флюорита. Для еще более коротких волн уже нет подходящих для призм, линз, кювет прозрачных материалов, обычно в. этих областях применяют отражательную оптику — вогнутые зеркала, отражательные диффракционные решетки с помощью такого рода оптики исследуются граничные коротковолновые области поглощения Лаймана, Милликена, Зигбана-Эдлена. Начиная с 2300— 2400 А, оказываются ненри-тодными обычные фотографические пластинки из-за поглощения желатиной в этой области дальнего ультрафиолета употребляются специально сенсибилизированные безжелатинпые тонкослойные пластинки. [c.186]

В основу конструкции спектрографов с такими вогнутыми решетками (рис. 100) положено важное геометрическое свойство (открытое Роуландом в 1882 г.). Строят большую окружность (называемую кругом Роуланда), радиус кривизны которой составляет половину радиуса решетки О при этом окружность касается центра диффракционной решетки. Можно показать математически, что если входная щель расположена на окружности, то диффраги-рованное излучение собирается в фокусе также на окружности. Часть излучения, которая не диспергируется, отражается от решетки только как от вогнутого зеркала, и фокусируется на окружности в точке Р, известной под названием главного фокуса или центрального изображения. Начиная от точки Р в обоих направлениях по кругу будут находиться в фокусе спектральные изображения щели, причем значения соответствующих длин волн будут почти пропорциональны их расстояниям от точки Р. [c.136]

Монохроматор для инфракрасного излучения может быть или призменный, или с диффракционной решеткой чаще употребляется призменный. Однако ни кварц, ни стекло не являются достаточно прозрачными для инфракрасного излучения это обстоятельство заставляет обращаться к другим материалам для изготовления призм и линз. Большие кристаллы некоторых галоидных солей хорошо пропускают инфракрасное излучение и поэтому могут использоваться для изготовления оптических частей прибора. Хлорид натрия (каменная соль), бромид калия, фторид лития и фторид кальция (флуорит) пригодны для указанной цели, но вследствие гигроскопичности их оптические свойства в области, в которой они проявляют максимальную дисперсию, изменяются. Для предохранения от влаги каждый из упомянутых материалов, за исключением флуорита, должен монтироваться в герметической камере, или эвакуированной, или осушаемой. [c.266]

Диффракция рентгеновых лучей. Рентгеновы лучи представляют собой электромагнитные волны, имеющие ту же природу, что и видимый свет поэтому они могут также подвергаться диффракции (рис. 218). Уравнение, приведенное в главе 6 для диффракционной решетки [c.283]

Аппаратура. Аппаратура для диффракции рентгеновых лучей по существу аналогична спектрометру с диффракционной решеткой. Линзы и зеркала не могут применяться для рентгеновых лучей поэтому по внешнему виду названные приборы отличаются [c.284]

Установка всех частей спектрального прибора для возможности ясного видения и точного наблюдения должна, очевидно, предшествовать всякого рода спектральным определениям. Подробности практического пользования спектральными приборами должно искать опять в специальных сочинениях. В нашем изложении предполагается уже некоторое знакомство читателя с физическими данными, относящимися до преломления света, рассеяния его, диффракции света и его теории, позволяющей определять длины у световых волн в абсолютных мерах на основании наблюдений с диффракционными решетками, расстояние делений которых легко может быть измерено в долях миллиметра, чрез что и получается возможность знать длины волн определенных лучей света. Две наиболее резкие линии D, или натрия, имеют длины волн, 0,0005890 и 0,0005896 мм, сверх того видны более и более слабые линии, длины волн которых в миллионных долях миллиметра суть 588,7 и 588,1 616,0 и 615,4 515,5 и 515,2 498,3 и 498,2 и т. д. (Liveing-Dewar). [c.345]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология