Данные о транзисторах

Недостаточно надежная работа управляющего устройства может свести на нет преимущества автоматизации препаративного газожидкостного хроматографа. Управляющее устройство может включать в себя до 1500 деталей, одна треть из которых — полупроводниковые элементы. По одним только значениям опасности отказов элементов системы невозможно вычислить ее надежность, поскольку, как правило, не бывают точно известны условия работы этих элементов. Для того чтобы дать представление о величине надежности управляющего устройства, допустим, что для каждого из 500 его полупроводниковых элементов опасность отказов равна 10 ч. В результате для совокупности всех этих элементов получаем время безотказной работы, равное 2000 часов, или 3 месяцам, при условии непрерывной работы всего устройства. Принятое выше значение опасности отказов примерно соответствует действительности для транзисторов в пластмассовой оболочке, работающих с неполной нагрузкой, причем это значение увеличивается с увеличением продолжительности их работы. Температура окружающей среды по-разному может влиять на надежность управляющего устройства. Слишком сильное повышение температуры может вызвать немедленные отказы или уменьшить продолжительность жизни элементов, подверженных старению. Поэтому управляющее устройство не следует располагать слишком близко к источникам тепла. [c.193]

Метод жидкокристаллической термографии не является универсальным, однако есть области, где только этот метод может дать быструю и достаточну ю информацию о поле температур. Это гфежде всего области, где требуется панорамное изображение температур без нарушения исследуемой поверхности, когда исследу емая область настолько мала, что не представляется возможным препарирование ее термодатчиками, сенсорами и другими приборами. К таким областям можно отнести неразрушающий контроль качества различных материалов. Это быстрый и дешевый метод отбраковки изделий электронной техники, выпрямителей, интегральных и печатных плат, транзисторов. ЖКК с холестериками широко используются для визуализации невидимых излучений (контроль ИК - лазеров, визуализация аэродинамического нагрева при изучении перехода от ламинарного течения в турбулентное и др.). [c.154]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология