Длины волн спектральных линий цинка

Например, в спектре пробы имеется интенсивная линия, расположенная на расстоянии 54 мм от линии меди 5218 А. Опустив перпендикуляр из соответствующей точки дисперсионной кривой на горизонтальную линию, отложенную на высоте 54 мм от нуля графика, определяют, что длина волны неизвестной линии приблизительно равна 3300 5 А. По таблицам спектральных линий устанавливают, что в этом интервале имеют интенсивные линии элементы натрий, цинк и палладий. Чтобы уточнить, какому из этих трех элементов принадлежит искомая линия, проверяют наличие других аналитических линий этих элементов в спектре пробы. [c.182]

Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология