Линии спектральные, интенсивност

Интенсивность спектральной линии зависит от температуры источника света пропорционально фактору (1—л )ехр(—Е кТ)]. Поэтому в атомно-эмиссионном спектральном анализе принято измерять интенсивность аналитической линии относительно интенсивности некоторой линии сравнения (внутренний стандарт). Чаще всего — это линия, принадлежащая основному компоненту пробы. Иногда компонент, играющий роль внутреннего стандарта, специально вводят в анализируемую пробу. [c.55]

На рис. XII.1, а представлены частотные зависимости каждого из выше перечисленных членов выражения (ХИ.З). Очевидно, что спектральная интенсивность релеевского рассеяния в пределах ширины линии вблизи резонанса практически совпадает со спектром падающего излучения. [c.227]

Рентгеновский спектр рения содержит более сотни линий, что послужило основой для разработки рентгеноспектрального метода анализа (см. стр. 166). Оптический спектр рения насчитывает около 6000 линий, наиболее интенсивные из которых используются в аналитических целях для спектрального анализа рения. [c.18]

Принимая ДЯ=10 2 нм и Х = 500 нм, получаем / = 50000. Спектральные приборы такого класса, как правило, имеют малую светосилу. Это приводит к тому, что с помощью монохроматоров не удается выделить интенсивную монохроматическую линию даже интенсивного непрерывного спектра. [c.132]

В каком виде газового разряда — в дуге или искре — больше самообращение и самопоглощение спектральных линий и интенсивность сплошного фона [c.65]

Точность определения относительной интенсивности зависит также от яркости линий. Сравнение интенсивностей слабых линий затруднительно и обычно ведет к большим ошибкам. Поэтому при применении визуальной фотометрии необходимо пользоваться возможно более яркими источниками света. Необходимо также следить за правильностью установки электродов и конденсоров с тем, чтобы обеспечить максимальную яркость и равномерную освещенность спектральных линий. [c.155]

Чувствительность пламенно-фотометрических определений в значительной степени зависит от чувствительности используемых в анализе спектральных линий, их интенсивности, температуры пламени, конструкции прибора и системы регистрации излучения. Предел обнаружения методом пламенной фотометрии (в г/мл) для одних элементов составляет по наиболее чувствительным линиям p = 8(Bi, Си, Li, Мл, Na, Rb), а для других рС — 3(Zn). [c.697]

Для построения характеристической кривой фотографируют какой-нибудь линейчатый спектр, имеющий достаточное число линий разной интенсивности в нужной области длин волн. Предварительно необходимо убедиться, что интенсивность спектральных линий по высоте строго одинакова. Только в этом случае можно пользоваться градуировкой ослабителя, так как пропускаемость ступенек измерена для случая одинаковой интенсивности света, падающего на каждую ступеньку. После того как проверена освещенность линии по высоте в, спектре, полученном без ослабителя, контроль освещенности проводят по первой и девятой ступенькам ослабителя. Соответствующие им участки спектральной линии должны иметь одинаковые почернения. Измерив на микрофотометре почернения для разных ступенек одной и той же спектральной линии, получают 8 точек для построения характеристической кривой. На оси абсцисс откладываем lg/ ступенек ослабителя, а на оси ординат — почернение (рис. 115). [c.179]

Пример. Световой поток, составляющий спектральную линию средней интенсивности в приборе со средней дисперсией, равен примерно 10 лм. При его регистрации с помощью вакуумного фотоэлемента с чувствительностью 100 мка лм на выходе получается электрический сигнал 10" 10 а/лл< = 10" а, тогда как даже весьма чувствительные гальванометры могут непосредственно измерять ток порядка 10 а (одно деление шкалы гальванометра). Но при количественном анализе нужно не просто отметить появление сигнала, а измерить его с достаточной точностью, чтобы было видно изменение сигнала в зависимости от концентрации анализируемого элемента. Поэтому необходимо усиление сигнала по крайней мере в 10 ООО раз, даже если для измерения усиленного сигнала использовать чувствительный гальванометр. [c.190]

Предельное разрешение двух спектральных линий одинаковой интенсивности достигается при таком их наложении, когда главный максимум дифракционного изображения % налагается на первый минимум дифракционного изображения щели лучами с длиной волны Я-< -АЯ, (предел разрешения Релея). Очевидно, что две полосы поглощения "к И могут быть разрешены, т. е. зафиксированы раз- [c.39]

В аналитической практике большую роль играет абсолютная чувствительность спектральных линий. Наибольшую интенсивность в исследуемой области спектра имеют линии с низким потенциалом возбуждения и соответствующие разрешенным переходам. Такие линии называют последними, так как они исчезают в спектрах эталонных и анализируемых образцов при уменьшении содержания элементов последними после исчезновения других линий. К их числу принадлежат также резонансные спектральные линии, которые соответствуют переходу из нижайшего возбужденного уровня на основной уровень. Основной уровень имеет особое значение в процессах излучения и поглощения, так как его заполнение всегда относительно велико. [c.648]

Спектральное определение малых количеств урана в руда представляет собой трудную аналитическую задачу, так как абсолютная чувствительность обнаружения этого элемента невелика вследствие низкой летучести его окислов и сложности спектра, обладающего большим числом линий малой интенсивности. [c.248]

Наиболее полными являются таблицы спектральных линий Гаррисона [1], содержащие данные о длинах волн и интенсивностях 110000 спектральных линий. Оценки интенсивностей в этих таблицах даны в основном для дугового и искрового источников возбуждения спектров. Для некоторых линий приведены также оценки их интенсивностей в тлеющем разряде. [c.354]

Диапазон определяемых содержаний. Верхняя граница определяемых содержаний в методах АЭС лимитируется, главным образом, эффектом самопоглощения и связанным с ним нарушением линейности градуировочной характеристики. Тем не менее, в зависимости от содержания элемента для его определения методами АЭС можно использовать спектральные линии различной интенсивности и тем самым расширять диапазон определяемых содержаний. [c.425]

Отношение J — величина отношения интенсивности спектральной линии к интенсивности фона на той же длине волны при распылении в плазму одноэлементного раствора с концентрацией данного элемента, указанной в следующей колонке. [c.750]

Угловое, высотное и спектральное распределения интенсивностей поля коротковолновой радиации определяются процессами отражения солнечного излучения подстилающей поверхностью, молекулярным и аэрозольным рассеянием радиации, молекулярным и аэрозольным поглощением коротковолновой радиации Солнца. В связи с изменением освещенности на верхней границе атмосферы в зависимости от угла визирования Солнца и вариациями оптической толщи аэрозоля, поглощательной способности газовых компонентов по линии визирования в зависимости от зенитного и азимутального углов наблюдения спектральные интенсивности коротковолновой радиации при фиксированном состоянии атмосферы в значительной мере будут определяться положением Солнца на небосводе. [c.183]

Существенным при рассмотрении вопроса об излучении пламени является определение начала высвечивания спектральных линий продуктов В пламени по отношению к поверхности образца. -На рис. У.7 Приведено распределение основных компонентов по высоте пламени нитроклетчатки (///о — отношение интенсивности исследуемой спектральной линии к интенсивности линии ртутного источника с Я=435,8 нм). На расстоянии 0,5—0,7 мм от поверхности горения высвечивает радикал. ОН. В темной воне на высоте 1,5—2 мм интенсивно высвечивает радикал СЫ. Это связано, по-видимому с повышенным содержанием связанного азота в продуктах разложения нитроклетчатки. Появление радикала Сг наблюдается вблизи зоны максимальной температуры. Кроме того, [c.281]

Как известно из теории, критерий Релея, объективно оценивающий разрешимый спектральный интервал бX, заключается в том, что две спектральные линии равной интенсивности считаются разрешенными, если направление на нулевой дифракционный максимум [c.71]

Понятие разрешающей способности для определения теоретического разрешения двух близких спектральных линий равной интенсивности, основанное на критерии Релея, одинаково для призменных и дифракционных приборов ( 12). [c.99]

Следовательно, если необходимо сравнить два излучения (две спектральные линии) разной интенсивности, достаточно так изменить интенсивность одной линии, чтобы почернения обоих сравниваемых излучений были равны. Пусть имеются две линии [c.221]

При анализе сталей спектр основы достаточно богат спектральными линиями (спектр железа). Поэтому всегда можно в той области спектра, в которой лежит анализируемая линия, найти такую линию основы, которая при данной концентрации будет равна интенсивности линии примеси. Точное равенство интенсивности линии примеси и основы является спектроскопическим признаком определенной концентрации примеси в сплаве. Однако подобрать пары линий одинаковой интенсивности при различных концентрациях элемента не всегда возможно, поэтому прибегают к оценкам ярче или слабее . В этом случае обычно пользуются несколькими парами анализируемых линий и линий сравнения в разных областях спектра для уточнения результата анализа. Иногда для уточнения оценки одну линию примеси сравнивают с несколькими линиями основы. [c.258]

Назовем идеальным спектральным прибором такой прибор, в котором искажения изображения определяются исключительно волновой природой света. Для такого прибора Рэлей предложил считать, что две спектральные линии одинаковой интенсивности находятся на пределе разрешения в том случае, когда главный максимум дифракционного изображения одной совпадает с первым минимумом другой при этом суммарная освещенность посредине между линиями равна приблизительно 80% освещенности в главных максимумах. Глаз вполне может заметить провал освещенности в 20%. Критерий Рэлея очень удобен для различного рода расчетов, когда разрешающая сила прибора определяется дифракцией. В настоящее время приборы способны зарегистрировать провал освещенности меньше 5% поэтому имеет смысл ввести новое понятие — предел разрешения по Спэрроу [2.1], определяя его как расстояние между линиями, при котором провал суммарной освещенности стремится к нулю при сближении дифракционных изображений двух линий одинаковой интенсивности. Чем больше отношение рэлеевского предела разрешения к пределу разрешения Спэрроу, тем больше возможность повысить реаль- [c.21]

Разрешающая сила эталона. Выражение (12.12) дает возможность вычислить разрешающую силу эталона. Критерий Рэлея в том виде, как он его сформулировал (совпадение максимума одной линии с первым минимумом другой), здесь уже не годится. Будем считать, что две бесконечно узкие спектральные линии одинаковой интенсивности находятся на пределе разрешения в том [c.103]

Однако не всегда можно считать, что интенсивность спектральной линии пропорциональна концентрации элемента в смеси. При больших концентрациях приходится учитывать влияние реабсорбции излучения (см. гл. I), которая приводит к тому, что наблюдаемая интенсивность спектральной линии меньше интенсивности, излучаемой внутри источника, так как часть излучения оказывается поглощенной в пределах источника. Реабсорбция максимальна для резонансных линий и для линий, соответствующих переходам на метастабильные уровни. В результате реабсорбции интенсивность линии растет с концентрацией медленнее, чем по линейному закону. Можно считать, что [c.142]

Установлено [748], что даже при нарушении корреляции излучения линии и фона, вызываемом флуктуациями условий возбуждения в источнике света (например, в дуге постоянного тока), интегральный прием позволяет достигнуть величины предела обнаружения, близкой к минимальному теоретически возможному пределу обнаружения слабой спектральной линии на интенсивном фоне. Непрерывное интегрирование всего входного сигнала является, по-видимому, практически оптимальным и в том весьма распространенном случае, когда интенсивность аналитической линии во время экспозиции уменьшается, спадая до нуля ( полное Выгорание определяемого элемента в источнике света). При этом регистрировать сигнал рекомендуется в течение такого времени, за которое интенсивность излучения линии уменьшается не более чем в 3—4 раза [240], так как при дальнейшем интегрировании отношение сигнал/фон на регистрограммах будет резко ухудшаться. [c.43]

К оптическим характеристикам монохроматора относятся линейная дисперсия, разрешающая способность и светосила. Линейная дисперсия — часть спектра в плоскости выходной щели, приходящаяся на спектральный интервал, равный 1А. Разрешающая способность монохроматора — способность различать две близко расположенные спектральные линии равной интенсивности. Призменные монохроматорь обладают малой разрешающей способно- [c.54]

Обратной линейной дисперсией прнзмы определяется разрешающая сила и прибора, которая представляет собой отношение средней длины волны двух самых близких линий, разрешаемых данным прибором, к разности их длин волн. Две спектральные линии равной интенсивности считаются разрешенными, если дифракционный максимум одной из них находится против минимума другой линии (рнс. 71). [c.237]

Третий метод определения распределения температур по радиусу дуги исходит из возможности измерения абсолютной интенсивности одной спектральной линии. Абсолютная интенсивность одной опектральной линии равна [c.108]

Ряд источников излучения имеет спектральные линии подходящей интенсивности, распределенные соответствующим образом в избранной спектральной области. Точные значения положения характерных линий кварцево-ртутной дуги — 253,7 302,25 313,16 334,15 365,48 404,66 и 435,83 нм. Шкалу длин волн можно также калибровать при помощи соответствующих стеклянных фильтров, которые имеют приемлемые полосы поглощения в видимой и ультрафиолетовой областях. Широко используются стандартные стекла, содержащие дидимий (смесь празеодима и неодима). Лучшим считается стекло, содержащее гольмий. Точные значения положения характерных максимумов фильтров из гольмиевого стекла — 241,5 1 281,5 1 360,9 1 и 536,2 3 нм. Фильтры из гольмиевого стекла можно получить из некоторых национальных учреждений и коммерческих источников. Эксплуатационные качества непроверенного фильтра должны быть установлены по отношению к фильтру, подвергнутому правильной проверке. [c.40]

Как одно из перспективных направлений в развитии методов учета матричных эффектов следует отметить метод корреляционного спектрального анализа. Сущность метода состоит в том, что для коррекции аналитических сигналов привлекается дополшпельная спектральная информация за счет регистрации интенсивностей специально подобранных пар линий, относительная интенсивность которых резко реагирует на изменения условий возбуждения спектров (например, на изменения температуры и электронной концентрации в плазме разряда) и переноса анализируемой пробы через зону возбуждения спектров. Зафиксированные сигналы от корректирующих пар позволяют ввести соответствующие поправки в результаты измерений аналитического сигнала для определяемого элемента, приводя его к некоторым стандартным условиям, установленным на стадии изначальной градуировки спектрометра. [c.416]

Если теперь входную щель и ее изображение в точке Р поменять местами, то каждой точке изображения входной щели будет соответствовать первая астигматическая фокаль в месте установки входной щели (точка Р) и вторая фокаль в точке В. Это свойство вогнутой решетки используется для работы со ступенчатыми ослабителями, с помощью которых изменяют ступенями яркость изображения спектральных линий при сравнительной оценке линий различной интенсивности. Ступенчатый ослабитель представляет собой кварцевую пластинку, на которую параллельными полосами нанесены слои платины различной оптической плотности. Его устанавливают в точке О ступенями (полосами) перпендикулярно входной щели, помещенной в точке Р — схема Сиркса (рис. 10.5). На спектрограмме в точке Q и вблизи нее изображения спектральных линий получаются ослабленными ступенями по заданному закону, что дает возможность оценить относительную интенсивность отдельных линий. По мере удаления от точки С [c.87]

Измерительная схема прибора ДФС-ЮМ. Работа измерительной схемы прибора основана на накоплении зарядов на конденсаторах подобно тому, как это имело место в стилометре ФЭС-1. Измерение и сравнение интенсивностей спектральных линий с интенсивностью линии сравнения производится послел ова-тельно с помощью электрометра и лампового вольтметра (рис. 38.7). [c.297]

Спектр, возбуждаемый в плазменной струе, характеризуется интенсивным сплошным фоном, возникающим вследствие высокой концентрации электронов. Отмечено уменьшение фона при добавлении в поток аргона гелия [1119, 1432]. Однако несмотря на интенсивный фок высокая временная и пространственная стабильность всех параметров плазменной струи позволяет надежно регистрировать излучение очень слабых линий, интенсивность которых составляет сотые доли интенсивности сплошного фона. Это — одно йз главных достоинств плазматрона как источника света для спектрального определения следов элементов. Оптимальные условия, обеспечивающие найлучшее отношение интенсивности аналитических линий к интенсивности фона, подбирают регулировкой параметров источника они различны для разных плазматронов. Флуктуации абсолютных и относительных интенсивностей излучения спектральных линий характеризуются обычно коэффициентом вариации 2—3%, а в ряде случаев — 1 % л меньше. [c.163]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология