Интерференционные кривые сетки

Отметим еще одно интересное для нас обстоятельство. Если интерференционные кривые на рентгенограммах, снятых при вращении кристалла вокруг всех трех осей, выражены достаточно четко, то из них можно получить сведения о типе решетки, даже не производя индицирования. Если обратная решетка примитивна, узлы, лежащие на одной прямой, параллельной оси вращения, располагаются по всем этажам обратной решетки (по всем сеткам ее, перпендикулярным оси вращения). Если же обратная решетка является объемноцентрированной или центрированной по плоскостям, параллельным оси вращения, то лежащие на одной вертикальной прямой узлы располагаются через этаж — они лежат либо т,олько в четных, либо только в нечетных сетках. Соответственно этому пятна одной интерференционной кривой в первом случае лежат на всех слоевых линиях, во втором — либо только на четных, либо только на нечетных слоевых линиях (рис. 202, а и б). [c.334]

При индицировании нулевой слоевой линии можно обойтись и без сетки интерференционных кривых, так как здесь формулы значительно упрощаются угол v = 0, т = 2 б и [c.337]

На прямой ОА Отложены расстояния, полученные из рентгенограммы при помощи сетки интерференционных кривых. Дуги указывают на узлы обратной решетки, соответствующие этим значениям нескольких случаях индицирование являет- [c.341]

Рис. 219, Иллюстрация при помощи китайского веера расположения и формы интерференционных кривых, соответствующих параллельным узловым рядам нулевой сетки обратной решетки

Рис. 221. Построение интерференционной кривой, соответствующей точкам радиальной узловой прямой п-ной сетки обратной решетки а—радиальная узловая прямая и сфера отражения б — интерференционная

Всем радиальным узловым прямым соответствуют на рентгенограмме одинаковые кривые (рис. 222). Переход от сетки к рентгенограмме можно условно описать почти так же, как и в случае нулевой слоевой линии лишь в заключительной стадии вместо деформации однородного сдвига требуется произвести деформацию неоднородного сдвига (точки, лежащие вблизи оси 2 рентгенограммы и наиболее удаленные от нее, смещаются сильнее, чем точки промежуточной части). Интерференционные кривые, соответствующие параллельным узловым прямым сетки, почти не меняют своего вида, и-образный характер их сохраняется (рис. 223). [c.355]

Рис. 222. Интерференционные кривые, соответствующие разным радиальным узловым прямым п-ной сетки обратной решетки

Если, кроме того, в обратной решетке имеются узловые ряды, параллельные оси вращения, то соответствующие им пятна ложатся на интерференционные кривые гантельного типа и требуется проинди-цировать лишь какую-либо одну слоевую линию вдоль интерференционной кривой два индекса остаются неизменными, а третий определяется номером слоевой линии (интерференционные кривые легко выявляются при наложении вспомогательной сетки, а часто и просто на глаз). Этот случай относится к кристаллам с ортогональной решеткой при вращении вокруг любой из осей, к гексагональным кристаллам при вращении вокруг оси 2и к моноклинным—при вращении вокруг оси У (перпендикулярной к моноклинной плоскости Х2). Если, напри- [c.333]

Численный расчет по этой формуле для каждого пятна является довольно трудоемкой и скучной процедурой. Проще и удобнее пользоваться заранее приготовленными сетками интерференционных кривых хНj = onst, для построения которых формула (40, III) преобразуется в уравнение [c.337]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология