Интерференционные кривые

Найдем интегральную интенсивность рассеяния цепочки, измеряемую площадью, ограничиваемой интерференционной кривой, включая площади побочных максимумов. Как показывает [c.32]

Электромагнитные параметры слоя, толщина которого измеряется, также влияют на ход интерференционной кривой, и чтобы не возникало больших погрешностей, их отклонения от номинальных значений не должны выходить за допустимые пределы. Так как обобщенным параметром для зависимости СВЧ-сигналов от геометрических размеров к длине волны в материале (4.5), нетрудно видеть, чТо составляющая относительной погрешности измерения будет равна [c.140]

Интерференционные методы позволяют контролировать объекты, размеры которых значительно превышают длину волны, путем сравнения с эталоном, подобно тому, как это делается в оптическом виде неразрушающего контроля (см. ниже). Следует вместе с тем заметить, что в СВЧ-диапазоне почти всегда накладываются прямая и отраженная волны, т. е. присутствует интерференция, и обычно под интерференционными методами подразумевают такие, когда контроль производится с использованием нескольких максимумов или минимумов интерференционной кривой. Существенным ограничением в таких вариантах контроля является трудность в обеспечении однозначного отсчета контролируемой величины, что и сдерживает широкое применение интерференционных методов. [c.161]

Отличие электромагнитных свойств дефектной области от бездефектной является причиной изменения амплитуды и фазы отраженного сигнала. Это приводит к изменению вида интерференционной кривой. Возможность регистрации дефекта основана на существовании разности интенсивностей Д/ при заданном положении антенны (при данном расстоянии между поверхностью образца и антенной). [c.431]

Ag—Си. При выделении новой фазы сразу же в твердом растворе возникают участки с конечной концентрацией, но зато часть твердого раствора вовсе не испытывает распада. На рентгенограммах наряду с линиями, отвечающими исходному пересыщенному твердому раствору, появляются сильно смещенные линии распавшегося раствора (интерференционные кривые на рис. 18.2,6). С течением времени исходные линии. ослабевают, линии распавшегося твердого раствора становятся все интенсивнее. [c.408]

Фурье-снектроскопия — метод получения колебательного спектра, основанный на Фурье-преобразовании интерферограмм. В интерферометре (напр., Майкельсона) свет источника (обычно ртутной лампы) делится на два луча, между к-рыми создается оптич. разность хода х при помощи подвижного зеркала. В результате интерференции этих лучей на образце приемник регистрирует спектр образца как зависимость интенсивности света I х) от разности хода. Суперпозиция интерференционных кривых, соответствующих каждой из присутствующих в спектре частот, образует интерферограмму образца. Последняя м. б. представлена в виде функции разности хода с помощью общего Фурье-преобразования [c.235]

Линии, проведенные через пятна с индексами, подчиняющимися определенному условию, называют интерференционными кривыми. [c.328]

Простейшим типом интерференционных кривых являются сами слоевые линии. Индексы пятен, расположенных на них, подчиняются следующему условию. [c.328]

Пересечение цилиндра со сферой отражения вырисовывает на поверхности последней кривую гантельного типа (рис. 198). Совокупность лучей, проведенных из центра О через все точки кривой, оставила бы на поверхности пленки след в виде кривой почти такого же вида. На этой кривой должны, следовательно, расположиться все пятна, соответствующие узлам обратной решетки, лежащим в одном ряду, параллельном оси вращения. Другим параллельным узловым рядам отвечают аналогичные интерференционные кривые увеличив радиус исходного цилиндра, получим кривую большего размера, уменьшив — такую же кривую, целиком расположенную внутри первой. [c.329]

Совокупность подобных интерференционных кривых изображена на рис. 199. [c.329]

Поскольку масштаб обратной решетки пропорционален X, решетки, построенные для лучей аир, подобны друг другу. Радиальные узловые прямые будут проходить через одноименные узлы обеих решеток. Следовательно, отражения Ка и /Ср от одних и тех же плоскостей также ложатся на общую интерференционную кривую этого типа. [c.330]

Рис. 202. Расположение пятен по интерференционным кривым а —в случае решетки, не центрированной по плоскостям, параллельным оси вращения б —-в случае решетки, центрированной по плоскостям, параллельным оси вращения

Отметим еще одно интересное для нас обстоятельство. Если интерференционные кривые на рентгенограммах, снятых при вращении кристалла вокруг всех трех осей, выражены достаточно четко, то из них можно получить сведения о типе решетки, даже не производя индицирования. Если обратная решетка примитивна, узлы, лежащие на одной прямой, параллельной оси вращения, располагаются по всем этажам обратной решетки (по всем сеткам ее, перпендикулярным оси вращения). Если же обратная решетка является объемноцентрированной или центрированной по плоскостям, параллельным оси вращения, то лежащие на одной вертикальной прямой узлы располагаются через этаж — они лежат либо т,олько в четных, либо только в нечетных сетках. Соответственно этому пятна одной интерференционной кривой в первом случае лежат на всех слоевых линиях, во втором — либо только на четных, либо только на нечетных слоевых линиях (рис. 202, а и б). [c.334]

При индицировании нулевой слоевой линии можно обойтись и без сетки интерференционных кривых, так как здесь формулы значительно упрощаются угол v = 0, т = 2 б и [c.337]

На прямой ОА Отложены расстояния, полученные из рентгенограммы при помощи сетки интерференционных кривых. Дуги указывают на узлы обратной решетки, соответствующие этим значениям нескольких случаях индицирование являет- [c.341]

Тогда сопоставление пятен и узлов обратной решетки можно проводить непосредственно на пленке, не пользуясь интерференционными кривыми. [c.346]

Рис. 219, Иллюстрация при помощи китайского веера расположения и формы интерференционных кривых, соответствующих параллельным узловым рядам нулевой сетки обратной решетки

Вторая серия узловых прямых, выделенных на рис. 219, а (перпендикулярных POP ), перейдет в другую серию интерференционных кривых, пересекающих кривые первой серии. Рис. 219, 6 является схемой верхней половины рис. 220. [c.352]

Рис. 221. Построение интерференционной кривой, соответствующей точкам радиальной узловой прямой п-ной сетки обратной решетки а—радиальная узловая прямая и сфера отражения б — интерференционная

Всем радиальным узловым прямым соответствуют на рентгенограмме одинаковые кривые (рис. 222). Переход от сетки к рентгенограмме можно условно описать почти так же, как и в случае нулевой слоевой линии лишь в заключительной стадии вместо деформации однородного сдвига требуется произвести деформацию неоднородного сдвига (точки, лежащие вблизи оси 2 рентгенограммы и наиболее удаленные от нее, смещаются сильнее, чем точки промежуточной части). Интерференционные кривые, соответствующие параллельным узловым прямым сетки, почти не меняют своего вида, и-образный характер их сохраняется (рис. 223). [c.355]

Рис. 222. Интерференционные кривые, соответствующие разным радиальным узловым прямым п-ной сетки обратной решетки

Той же причиной обусловлен и другой, пожалуй, еще более существенный недостаток схемы перпендикулярного пучка—расположение пятен, отвечающих радиальным узловым рядам, не на прямых, а на зигзагообразных кривых. Особенно неудобно то, что степень вогнутости этих кривых зависит от значения nd (чем меньше размер круга сечения на рис. 221, а, тем позже прямая ОР касается круга и, следовательно, тем больше холостой поворот ряда — ф1 и холостое смещение пленки — ). Как следствие этого, с изменением nd меняют очертания и интерференционные кривые, отвечающие параллельным узловым рядам. Эта зависимость формы интерференционных кривых от номера слоевой линии и периода решетки кристалла вдоль оси вращения значительно затрудняет индицирование. [c.357]

Такие интерференционные кривые обычно легко угадываются на рентгенограмме (см., например, рентгенограмму на рис. 230). В слож- [c.361]

Следует иметь в виду, что в точках пересечения, соответствующих точкам пересечения двух интерференционных кривых, невозможно обнаружить дефект, т.е. могут существовать зоны необнаружения. Их ширина Д/ определяется тем минимальным значением сигнала, которое может быть зафиксировано системой регистрации. [c.431]

На рис. 28 приведены интерференционные кривые, снятые для материала, находящегося на металлической подложке. Из анализа этих кривых следует, что, подбирая определенную величину зазора, можно перекрыть весь диапазон изменения толщин от 2 до 16мм. [c.437]

Рис. 4.35. Интерференционные кривые распределения градиента показателя преломления раствора сополимера стирола с 20 мол. % метакриловой кислоты в тетрагидрофуране.

Возникающая разность хода проявляется в искривлении интерференционных полос. Форма интерференционной кривой определяется градиентом показателя преломления. Зная экспериментальную кривую, легко восстановить зависимость dddr. Простота оптической настройки, отсутствие дифракционных явлений и высокая чувствительность делают поляризационный интерферометр одним из самых удобных современных приборов для определения градиента показателя преломления. [c.163]

Рис. 198. Построение интерференционной кривой, соответствующей точкам одного узлового ряда обратной решетки, параллельного оси вращения = onst)

Рис. 200. а — Построение интерференционной кривой, соответствующей точкам радиального узлового ряда обратной решетки, наклоненного к оси вращения (р= onst), б — построение интерференционной кривой, соответствующей точкам обратной рещетки, лежащим в одной вертикальной плоскости, проходящей через ось вращения (ф= onst) [c.331]

Если, кроме того, в обратной решетке имеются узловые ряды, параллельные оси вращения, то соответствующие им пятна ложатся на интерференционные кривые гантельного типа и требуется проинди-цировать лишь какую-либо одну слоевую линию вдоль интерференционной кривой два индекса остаются неизменными, а третий определяется номером слоевой линии (интерференционные кривые легко выявляются при наложении вспомогательной сетки, а часто и просто на глаз). Этот случай относится к кристаллам с ортогональной решеткой при вращении вокруг любой из осей, к гексагональным кристаллам при вращении вокруг оси 2и к моноклинным—при вращении вокруг оси У (перпендикулярной к моноклинной плоскости Х2). Если, напри- [c.333]

Численный расчет по этой формуле для каждого пятна является довольно трудоемкой и скучной процедурой. Проще и удобнее пользоваться заранее приготовленными сетками интерференционных кривых хНj = onst, для построения которых формула (40, III) преобразуется в уравнение [c.337]

Рис. 210. Интерференционные кривые = onst, проходящие через пятна рентгенограммы вращения вокруг оси Z кристалла соли Жерара

Чтобы проиндицировать рентгенограмму, достаточно сопоставить расстояния от оси вращения узлов, находящихся в заштрихованной области, со значениями яЯ [ , полученными из рентгенограммы при помощи интерференционных кривых. Один из двух заштрихованных полумесяцев (на чертеже верхний) соответствует левой половине рент-генограммъ , другой — правой. [c.346]

Найдем вид интерференционной кривой, соединяющей пятна, возникшие от узлов ряда ОР. Рис. 216, в воспроизводит часть рис. 216, а. Поскольку ММ перпендикулярно ОР, а высота равнобедренного треугольника ОА перпендикулярна ОР, углы РОР = ф и А00—х12 равны между собой. Это значит, что при вращении ряда угол т остается все время равным 2ф. Равномерному повороту кристалла соответствует равномерное же движение точки О по поверхности сферы равномерное смещение пленки вдоль оси 2 сопровождается равномерным перемещением точки падения луча на пленку вдоль оси X. Интерференционная кривая является наклонной прямой линией (отрезок АВ рис. 216, б). После того как угол ф достигнет 90°, луч пepexo дит с одной половинки рентгенограммы на другую и начинает прочерчивать отрезок [c.348]

Рис. 220. Интерференционные кривые /г=соп51 и /г=сопз1, проведенные через пятна рентгенограммы Вейсенберга при развертке нулевой слоевой линии

При индицировании рентгенограмм, полученных по равнонаклонной схеме, как правило, нет необходимости производить точное определение координат всех пятен и расчет значений фо по формулам, аналогичным (44—46) для схемы перпендикулярного пучка. Благодаря единообразию формы интерференционных кривых задача существенно облегчается. [c.361]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология