Метрологическое обеспечение оптического контроля

МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ОПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ [c.527]

Работа дефектоскопов всех типов основана на взаимодействии проникающих полей и излучений с веществом, и только дальнейшие успехи в изучении более глубоких процессов этого взаимодействия позволят создать принципиально более совершенные приборы. Именно поэтому наиболее актуально сегодня дальнейшее совершенствование методов оптической и ультразвуковой голографии и других методов, воспроизводящих объемную трехмерную информацию об объекте контроля. Нужно развивать соответствующую теорию взаимосвязи полей и дефектов в трехмерной системе координат. Необычайно остро встают вопросы метрологического обеспечения дефектоскопической аппаратуры, создания поверочных схем, контрольных образцов изделий, имитаторов. [c.62]

Справочник химика 21