Уточнение юстировки кристалла

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛА ПО ЛАУЭГРАММАМ ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ НЕОГРАНЕННЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБЛОМКОВ И УТОЧНЕНИЕ ЮСТИРОВКИ КРИСТАЛЛОВ [c.392]

УТОЧНЕНИЕ ЮСТИРОВКИ КРИСТАЛЛА [c.416]

Уточнение юстировки кристалла вдоль первичного пучка [c.429]

Сравнительно просто производится уточнение юстировки в дифрактометре, где имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при изменении ориентации кристалла (см. стр. 428). [c.417]

Можно предложить довольно много различных приемов уточнения юстировки кристалла. Отметим, прежде всего, что такое уточнение выгодно проводить в том приборе, в котором предполагается проводить дальнейшее исследование кристалла. Это обстоятельство определяет в известной мере выбор приемов уточнения. Наибольшего предпочтения заслуживают те из них, в которых используется метод Лауэ, поскольку съемка лауэгра Мм требует наименьших экспозиций. Экспреосность лауэвского метода позволяет производить уточнение в несколько последовательных этапов, что особенно полезно в тех случаях, когда первоначальная установка кристалла значительно отклоняется от требуемой. [c.417]

При регистрации рентгеновских лучей с помощью ионизационного прибора имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при отклонении кристалла от положения, отвечающего условию Брегга — Вульфа. Эта особенность и используется при уточнении юстировки кристалла в дифрактометрах. Монокристальная приставка к дифрактометру УРС-50И позволяет проводить исследование порядным методом по экваториальной схеме. Как было выяснено в гл. ХП1, этот метод требует, чтобы с осью гониометрической головки был совмещен некоторый заданный узловой ряд обратной рещетки. Иначе говоря, кристалл должен быть ориентирован на головке так, чтобы заданная серия узловых сеток его решетки располагалась строго перпендикулярно оси головки. Уточнение юстировки удобнее всего проводить по отражениям от этой серии сеток. [c.428]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология