Факторы, влияющие на интенсивность дифракционных лучей

Во-вторых, оценка интенсивности дифракционных лучей, существенная для успешной расшифровки структуры, является здесь очень ненадежной. В отличие от других методов в данном случае на интенсивность пятен влияет целый ряд побочных факторов (не говоря уже об упомянутом наложении отражений разных порядков). Общий источник этих факторов состоит в том, что разные пятна лауэграммы создаются лучами различной длины волны. Необходимо поэтому учитывать распределение интенсивности лучей первичного пучка по спектру (спектральную кривую трубки), различие фотографического действия рентгеновских лучей разной длины волны (см. стр. 163), различное поглощение лучей в кристалле в зависимости от длины волны. Все это. делает метод Лауэ почти полностью непригодным в тех случаях, когда для решения задачи надо использовать интенсивности отраженных, кристаллом лучей. [c.220]

Исследователя интересует зависимость интенсивности дифракционных лучей от координат атомов в элементарной ячейке кристалла. Но интенсивность луча зависит и от целого ряда других факторов и вторичных эффектов. На нее влияет характер поляризации рентгеновской волны (поляризационный фактор Р), кинематическая схема прибора (фактор Лорентца Ь), степень поглощения рентгеновских лучей в кристалле (адсорбционный фактор Л), степень совершенства кристалла (первичная и вторичная экстинкции), величина термодиффузного рассеяния (фактор ТДР). [c.90]