Диффракция рентгеновских лучей Метод Лауэ

Описанный метод, предложенный Лауэ, применим только к монокристаллам размером в несколько кубических миллиметров. Мелкокристаллические вещества также можно исследовать по диффракции рентгеновских лучей, пользуясь методом Дебая и Шерера. Для этого узкий пучок монохроматических лучей направляют на микпокристаллический агрегат или кристаллический порошок. Среди большого количества мелких кристалликов всегда найдутся отдельные кристаллики, расположенные таким образом, что угол <ро, образованный между одной из плоскостей, в которой расположены центры диффракции, и падающим лучом будет удовлетворять условию, при котором разность хода вторичных лучей выразится целым числом волн. Такой кристаллик даст под углом с(л узкий диффрагированный луч, лежащий в плоскости, проходящей через падающий луч и через нормаль к плоскости центров рассеяния. Другие кристаллики, для которых соблюдается условие получения диффракции того же порядка, т. е. расположение под тем же углом к падающему лучу, могут быть повернуты на любой угол относительно первого кристаллика, так как все ориентации кристалликов равновероятны. При этом диффрагиро-ванные лучи от них будут располагаться в конусе (рис. 50), осью которого [c.153]

При прохождении рентгеновских лучей сквозь плоскости кристалла происходит также явление диффракции. Это служит основой для определения строения кристаллов по методу Лауэ. В этом методе вместо рентгеновского излучения определенной длицы волны используется пучок, состоящий из длин волн довольно широкого диапазона. Установлено, что когда пучок таких лучей проходит через кристалл и падает на фотографическую пластинку, то на пластинке получается плотное центральное пятно, образованное лучами, прошедшими кристалл без изменения их направ- [c.37]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология