Вторичная эмиссия, рентгеновская рентгеновских лучей

Кроме того, бомбардируя поверхность ванны, электроны пучка вызывают появление вторичных электронов, а также рентгеновских лучей. Наконец, поверхность расплавленной и перегретой ванны представляет собой мощный источник термической эмиссии электронов. Все эти статьи расхода энергии покрываются в конечном счете за счет энергии попадающих на ванну электронов пучка. [c.255]

Детекторы могут фиксировать электроны, рентгеновские лучи или катодолюминесцентный свет (фотоны) (рис. 27.14). Один такой детектор помещается в камере с образцом (основное изображение обусловлено эмиссией вторичных электронов). Сигнал детектора усиливается и поступает в электроннолучевую трубку. По мере того как пучок электронов сканирует по поверхности образца, поступающая информация модулирует растр электроннолучевой трубки, сканирующей синхронно с пучком электронов. Каждой точке растра электроннолучевой трубки отвечает точка на поверхности образца, причем интенсивность электроннолучевой трубки изменяется в соответствии с интенсивностью сигнала, генерированного электронами, пронизывающими поверхность образца. [c.110]

Энергия электронного пучка изменяется обычно в интервале 1—50 кэВ, а система электронных линз снижает диаметр пучка от 50 мкм (у источника) до —Ю нм (на образце). В нормальном режиме работы вторичные электроны, испускаемые образцом, регистрируются сцинтилляционным фотоумножителем. Можно детектировать также электроны обратного рассеяния, эмиссию рентгеновских лучей или световое испускание. При используемых напряжениях вторичные электроны вылетают приблизительно с первых 10 нм (по глубине) образца. Электроны обратного рассеяния вследствие большей собственной энергии могут диффундировать в твердом теле на значительное расстояние, вплоть до примерно 100 нм при высоких напряжениях. Расстояние диффузии электронов ограничивает предельное разрешение метода СЭМ. [c.406]

При неупругом взаимодействии с ядрами вещества электроны теряют энергию в кулоновском поле ядер и вызывают эмиссию рентгеновского излучения со сплошным спектром. Неупругие столкновения могут вызвать ионизацию атомов, в результате чего возникают характеристические рентгеновские лучи или Оже-электроны. Если неупругие взаимодействия происходят между первичным пучком электронов зонда и слабо связанными внешними электронами вещества, испускаются вторичные электроны, имеющие энергию не выше нескольких десятков электрон-вольт. Кроме процессов, связанных с возбуждением внутренних и валентных оболочек атома, существуют плазменное и фононное возбуждения. Первый тип возбуждения характеризуется осцилляцией свободных электронов объекта в месте прохождения первичного пучка за счет энергии последнего. Фононное возбуждение является результатом взаимодействия зонда с кристаллической решеткой, что приводит к колебаниям атомов в решетке, испусканию световых квантов и в конечном счете к локальному разогреву вещества. Время элементарного акта возбуждения электронов внутренних оболочек атома и плазменного возбуждения составляет 10 с, процесс передачи энергии решетке длится 10" °—10 с. [c.218]

Первичный электрон, ударяясь о поверхность твердого тела, либо отражается обратно в газ (или вакуум), либо проникает внутрь тела и выбивает вторичные электроны. Этот процесс часто сопровождается испусканием рентгеновских лучей. Твердое тело, из которого выбиваются электроны, может быть металлом, изолятором или иметь какую-либо другую структуру. О взаимодействии между первичными электронами и электронами, принадлежащими твердому телу, известно мало, и все еще не существует удовлетворительной теории вторичной электронной эмиссии. [c.94]

Механизм эмиссии до сих пор еще точно не известен. Сначала предполагалась, что первичные электроны, энергия которых значительно превышает потенциал ионизации, поглощаются атомами, испускающими при этом мягкие рентгеновские лучи, которые в свою очередь выбивают вторичные [c.95]

Некоторая часть электронов, летящих от катода к аноду, неизбежно рассеивается при столкновении с посторонними молекулами. Кроме того, торможение электронов на поверхности анода сопровождается помимо возникновения рентгеновских лучей и разогревания еще одним явлением — вторичной электронной эмиссией, т. е. выбиванием электронов из атомов анода. Эти электроны летят во всех направлениях и могут попадать на стенки рентгеновской трубки. [c.123]

Промежуточное положение между электрическими разрядами в газе и разрядами в высоком вакууме занимает разряд, имеющий место в ионных рентгеновских трубках и в трубках Крукса, служивших для получения и демонстрации катодных лучей . В этом случае плотность остаточного газа в трубке настолько мала, что средняя длина свободного пути электронов больше, чем линейные размеры разрядной трубки или по крайней мере одного и того же порядка с ними. В то же время остаточный газ всё ещё играет существенную роль источником электронов на катоде является вторичная эмиссия электронов [c.24]

На рис. 22.6 показаны размеры областей объекта, относящихся к разным эффектам взаимодействия электронного луча с веществом. Падающие электроны имеют энергию порядка 10 или 10 эВ (обычно до 30—50 кэВ) и поэтому могут проникать на значительную глубину, испытывая упругое рассеяние, и вместе с упруго рассеянными электронами уже в некотором объеме (имеющем, как показали расчеты, каплевидную форму) теряют часть энергии на возбуждение атомов вещества, в результате чего возникает рентгеновское излучение и эмиссия вторичных электронов (а также Оже-электронов). Поскольку энергия вторичных электронов невелика (порядка 10 эВ), то вторичные электроны, образующиеся [c.554]

В случае каждого отдельно взятого металла кривая 8=/( 7) имеет ряд горбиков и неровностей (рис. 22). Часть этих горбиков находит своё объяснение в ионизации адсорбированного на поверхности металла газа. Другие горбики характерны для самого металла и не исчезают при самом тщательном обезгажива-нии его поверхности. Сравнение ускоряющих первичные электроны потенциалов, соответствующих отдельным горбикам, с энергией возбуждения спектральных линий мягкого рентгеновского излучения показывает, что мы имеем здесь дело с выбиванием пер-вичными электронами электро-нов из атомов металла и притом не из самых внешних, а из глубже расположенных электронных оболочек. Замещение пустых мест в этих оболочках шектронами более далёких от ядра оболочек приводит к излучению внутри металла рентгеновских лучей, способных в свою очередь передать свой квант энергии электронам металла и заставить их частично вылетать из металла. Однако это явление играет при вторичной эмиссии лишь второстепенную роль. Вторичная [c.80]

Эмиссия Оже-электрона происходит по механизму релаксации, в котором вакансия, образованная на одной из внутренних электронных орбит атома в результате фотоэжекции, заполняется электроном с внешней орбиты. Такой переход сопровождается высвобождением энергии, которая вновь приводит к испусканию вторичного электрона, принадлежащего (или нет) поверхностному слою (Оже-электрон). Энергия этого электрона не зависит от энергии излучения, индуцировавшего переход. Это может быть облучение электронами, рентгеновскими или даже ультрафиолетовыми лучами. Некоторые современные приборы предусматривают возможность их использования либо в режиме дифракции медленных электронов, либо в режиме Оже-спектрометра. [c.81]