Коэффициенты прохождения и отражения. Анализ мая

ТОЛЩИНЫ за счет передачи части энер -ГИИ монохроматической волны, падающей на слой из жидкости. Из анализа следует, что на частотах, удовлетворяющих условию кратности толщины /г слоя целому числу полуволн к = пХ 2, где п - целое число), коэффициент отражения энергии волн Я минимален, а коэффициент прохождения О у максимален. Расчет показывает, что амплитуда колебаний слоя при этом максимальна, что объясняется взаимным усилением прямых и обратных волн в слое. Это случай так называемого структурного (геометрического) резонанса. [c.150]

Это отношение будет различаться для отражений hkl и hkl также при наличии центра симметрии в рассеиваюш ем кристалле, так как все выводы, полученные из рассмотрения формул для Ri и очевидно, находятся в согласии с анализом выражений для коэффициентов отражения и прохождения. [c.116]

Двойные спектрометры типа Брэгг — Лауэ и Лауэ-Лауэ. Брогрен и Эделл [108] в своих исследованиях кривых отражения кальцита, кварца, а затем Ge и Si использовали двойные спектрометры по схемам Брэгг—Лауэ и Лауэ—Лауэ (рис. 69). В спектрометре Брэгг — Лауэ (рис. 69, а) используется в кристалле 1 симметричное отражение по Брэггу и в исследуемом кристалле 2 — симметричное отражение с теми же индексами по Лауэ. Для сопоставления с экспериментальными кривыми отражения эти авторы использовали формулы (9.25) — (9.28), в которых значения функций Со (ос) и Сп (а) от кристалла I и Со (ос — Р) и С (а — Р) от кристалла 2 соответствовали коэффициентам отражения и прохождения в зависимости от выбранной схемы прибора. Так, в случае схемы Брэгг — Лауэ для кристалла 1 использовались коэффициенты отражения по Брэггу и для кристалла 2 — коэффициенты отражения или прохождения по Лауэ. Хотя использование указанных формул в схемах Брэгг—Лауэ и Лауэ—Лауэ пе было обосновано специальным анализом, правомерность такого расчета была подтверждена хорошим совпадением теоретических (т. е. вычисленных указанным путем) и экспериментальных кривых отражения в широкой области спектра. (Вместе с тем следует отметить, что все еще остается неясной теоретическая оценка таких основных характеристик кривых отражения, получаемых в схеме Брэгг — Лауэ, как наличие или отсутствие паразитной симмет- [c.252]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология