Лауэ и Брэгга Вульфа

Это — так называемое диффузное рассеяние. Как правило, интенсивность его мала по сравнению с интенсивностью правильных отражений, возникающих при выполнении условий Лауэ или Вульфа—Брэгга. [c.204]

А. уравнения Лауэ и Брэгга — Вульфа [c.35]

Для кубического кристалла показать, что из условий Лауэ следует закон дифракции Брэгга-Вульфа. [c.57]

На фотокассете, поставленной за исследуемым кристаллом, в результате дифракции рентгеновских лучей получится система пятен (рис. 11). Каждое пятно на лауэграмме представляет собой результат интерференции рентгеновских лучей, отраженных определен-ны.м семейством параллельных кристаллографических плоскостей. Направления рентгеновских лучей, образующих интерференционные пятна на лауэграмме, определяются формулой Вульфа — Брэгга. Нетод Лауэ позволяет установить относительное расположение раз- [c.38]

Условие (6.14) носит название уравнения Лауэ, а (6.15) представляет собой известное уравнение Вульфа—Брэгга. [c.175]

К методам типа а) относится метод Лауэ-. иа кристалл, ориентированный под определенным углом по отношению к лучу, падает пучок немонохроматического ( белого ) излучения, в котором содержится непрерывный спектр длин волн, так что какая-то из волн, имеющихся в спектре, удовлетворяет условию Вульфа — Брэгга. Этот метод применяется для определения ориентировки и симметрии монокристаллов. [c.132]

Построим в обратном пространстве векторы сходящиеся в начале координат обратной решетки. Их направления и величины будут определяться данным углом падения и показателем преломления, различным для разных i [см. далее (3.21)]. Начальные точки этих векторов будем называть точками возбуждения (по Лауэ), или точками связи (по Эвальду). Меняя угол падения вблизи угла Вульфа— Брэгга, мы тем самым будем слегка покачивать волновые векторы, оставляя неподвижными их конечные точки в начале координат. При этом их начальные точки будут описывать некоторые поверхности, которые составят 2р-листную дисперсионную поверхность. Каждый лист этой поверхности следует рассматривать как геометрическое место точек возбуждения. Если из одной [c.26]

Это уравнение почти одновременно с У. Л. Брэггом вывел русский ученый Г. В. Вульф, и поэтому оно получило название уравнения Вульфа — Брэгга. Уравнение Вульфа—Брэгга показывает, каким образом нужно ориентировать кристалл, чтобы можно было бы получить отражения от тех или иных атомных плоскостей. По сути дела, это уравнение представляет собой простой способ выражения одновременного выполнения трех условий дифракции М. Лауэ [c.69]

Лауэ и его сотрудники, а также Вульф и Брэгг заложили в 1912 —1913 гг. экспериментальные и теоретические основы рентгеноструктурного и фазового анализа твердых тел. [c.133]

Дифракция электронов была открыта Дэвиссоном и Джермером в 1927 г., т. е. спустя 15 лет после классических работ Лауэ, Вульфа и Брэгга, как только было признано, что поток электронов может вести себя и как корпускулярный, и как волновой процесс. В разработке метода весьма плодотворно участвовал П. С. Тартаковский [42]. См. [31], [43]. [c.163]

В методе Лауэ используется полихроматическое рентгеновское излучение. Если на пути пучка лучей поставить кристалл, то в нем всегда найдутся такие плоскости, для Которых при определенных длинах волн будет выполняться уравнение Вульфа - Брэгга [c.169]

Уравнения Лауэ или Вульфа-Брэгга (см. гл. 6) показывают, что при съемке неподвижного монокристалла с использованием параллельного пучка монохроматического излучения условия получения хотя бы одного дифракционного максимума могут не выполняться (не соблюдается уравнение 2с1пы 5 п Ь=пК). Поэтому целью методов рентгеноструктурного анализа является получение дифракционной картины путем изменения ориентировки кристалла или падающего пучка (О уаг) или с помощью сплошного спектра (Я=уаг). [c.218]

В лабораторной системе координат (Д-прострапство) положение селективных максимумов дифракционной картины кристалла описывается тремя уравнениями Лауэ или формулой Вульфа — Брэгга. Обе формы записи эквивалентны, но вторая, из-за большей простоты и наглядности, используется чаще. Интерференционное уравнение (В.8а) содержит в себе и уравнения Лауэ и формулу Вульфа — Брэгга. [c.36]

Дифракцик рентгеновских лучей на кристаллах открыли в 1912 М. Лауэ, В. Фридрих и П. Книппинг. В 1913 независимо В. Г. Вульф и У. Л. Брэгг объяснили дифракцию. В том же году Брэгг рентгеиохрафически установил атомную структуру ряда простых кристаллов. [c.242]

Методы рентгеновской съемки кристаллов. Существуют различные экснеримеитальные методы получения и регистрации дифракционной картины. В любом случае имеется источник рентгеновского излучения, система для выделения узкого пучка рентгеновских лучей, устройство для закрепления и ориентирования образца в пучке и приемник рассеянного образцом излучения. Приемником служит фотопленка, либо ионизационные или сцинтилляционные счетчики рентгеновских квантов. Метод регистрации с помощью счетчиков (дифрактометрический) обеспечивает значительно более высокую точность определения интенсивности регистрируемого излучения. Из условия Вульфа—Брэгга (см. Дифракция рентгеновских лучей) непосредственно следует, что при регистрации дифракционной картины один из двух входящих в него параметров — X (длина волны) или О (угол падения), должен быть переменным. Основными методами рентгеновской съемки кристаллов являются метод Лауэ, [c.328]

Формула (1.1) выведена в 1913 г. английскими учеными Вильямом Генри Брэггом (отцом) и Вильямом Лоренцом Брэггом (сыном) и независимо профессором Московского университета Юрием Викторовичем Вульфом для объяснения опыта М. Лауэ. [c.15]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология