Спектрометр Брэгга, рентгеновский

Рис. 3-5. Схема спектрометра Брэгга, использованного Мозли при изучении характеристических рентгеновских спектров

В 1914 г. де Бройль [137] обнаружил, что непрерывное вращение кристалла в спектрометре Брэгга позволяет удобно зарегистрировать на неподвижную фотопластинку эмиссионный спектр мишени рентгеновской трубки Кулиджа (см. 1.3.). Спектр, который он получил от вольфрамовой мишени в такой трубке, показан на рис. 56. Легко были определены прямой пучок и [c.149]

В 1913 г. Мозли впервые подробно изучил характеристические спектры различных элементов . Применив рентгеновский спектрометр, разработанный Брэггом (рис. 3-5), Мозли изучил спектры [c.93]

Выходящее из образца излучение разлагают в спектр (т. с. получают зависимость интенсивности I от энергии Е) с помощью рентгеновских спектрометров с волновой (ВДС) или энергетич. (ЭДС) дисперсией. Действие ВДС-спектро-метров (рис. 1) основано на условии Вульфа-Брэгга [c.443]

Рентгеновские спектрометры с волновой дисперсией основаны на принципе дифракции Брэгга. [c.72]

Вместе с тем, как известно, при скользящем падении рентгеновских лучей под углами (я/2) — фо порядка критических углов для полного внешнего отражения величина коэффициента отражения принимает значения, которыми нельзя пренебречь. Поэтому в этих специальных условиях необходимо выполнить соответствующий расчет для динамического рассеяния. Интерес к случаю малых скользящих углов возрос за последние годы в связи с созданием спектрометров с асимметричным отражением по Брэггу. Следует оговориться, что в подобных устройствах скользящие углы падения (я/2) — фо превышают 1—2°, что позволяет пренебречь отраженной волной. [c.43]

Схемы двухкристального спектрометра, для которых была развита теория (рис. 65), основаны на комбинировании двух кристаллов с отражением по Брэггу в симметричном положении, т. е. от системы плоскостей, параллельных входной грани. Падающий на первый кристалл или кристалл-монохроматор А рентгеновский пучок после выхода из трубки проходит через две параллельные щели, в результате чего он характеризуется двумя значениями расходимости или плоскими углами а—горизонтальная расходимость, соответствующая ширине щелей (в плоскости чертежа), и ф — вертикальная расходимость, соответствующая высоте щелей. Таким образом, максимальные значения этих углов [c.238]

СКОЛЬКИМИ кристалл-дифракцнонными спектрометрами. Наличие нескольких спектрометров, каждый из которых имеет несколько кристаллов, необходимо не только для лроведения анализа одновременно по нескольким элементам, но также позволяет оптимизировать условия анализа в различных диапазонах длин волн, испэ-... уя имеющийся набор кристаллов. В табл. 5.1 приведены параметры наиболее распространенных кристаллов-анализаторов сравнительное разрешение, отражательная способность и величина межплоскостного расстояния. Так как sin0 не может быть больше единицы, то, согласно закону Брэгга, верхний предел максимальной длины волны, дифрагировавшей на любом данном кристалле, составляет 2d. Практические пределы зависят от конструкции спектрометра, поскольку из рис. 5.3 очевидно, что при sin 0=1, т. е. при 0 = 90°, детектор должен был бы находиться в точке источника рентгеновского излучения внутри электронно-оптической колонны. Нижний предел анализируемой длины волны следует из уравнения (5.2), поскольку становится физически невозможным придвигать кристалл-анализатор слишком близко к образцу. [c.196]

Рентгеновский спектрометр с волновой дисперсией (ВД) [8.3-7 основан на принципе дифракции Брэгга. На рис. 8.3-9 изображен параллельный пучок рентгеновского излучения в длиной волны Л, падающий на кристалл под углом в. Рентгеновская волна упруго рассеивается в первой плоскости кристалла (а). Образующаяся дифракционная волна имеет ту же длину волны и отражается под углом в. То же происходит на второй и последующих плоскостях кристалла. Однако излучение, отраженное от второй плоскости (6), пройдет расстояние на xyz = 2d sin в больше, чем взаимодействующее с первой плоскостью. Таким образом, рентгеновские волны, которые совпадали по фазе перед отражением, могут не совпадать по фазе после отражения и тогда интенсивность дифрагировахпюго пучка будет близка к нулю. Интенсивность дифраги-рова1нюго пучка отличается от нуля только в том случае, если разность хода составляет целое число длин волн (конструктивная интерференция, как пока-за Ю на рис. 8.3-9). Это приводит к условию для дифракции Брэгга [c.72]

Первый рентгеновский спектрометр был построен Брэггами в начале XX века. Рентгеновские лучи от источника проходят через последовательно расположенные входные щели. Далее пучок уже параллельных лучей попадает на кристаллическую пластинку под углом ф. Кристалл может вращаться вокруг некоторой оси так, что при его повороте угол падения излучения на кристалл меняется. При различных углах ф от кристалла будут отражаться рентгеновские лучи с различной длиной волн отраженные лучи попадают далее на фотопленку или в счетчик рентгеновских квантов [26]. [c.168]

Затем Лоуренс Брэгг (1890), еще будучи студентом Кембриджского университета, развил теорию дифракции рентгеновских лучей (уравнение Брэгга, см. ниже) и на основании этой теории в ноябре 1912 г. определил структуру сфалерита (кубическая форма сульфида цинка) он применил свою теорию при анализе фотоснимков дифракции рентгеновских лучей сфалеритом, опубликованных Лауэ, Фридрихом и Книппипгом. Его отец Уильям Брэгг (1862—1942) сконструировал в этот период рентгеновский спектрометр (рис. 3.23), после чего за один год Л. и У. Брэггам удалось определить точную атомную структуру многих кристаллов и для целого ряда элементов установить длины волн характеристических рентгеновских лучей, испускаемых некоторыми элементами, используемыми в качестве мишеней в рентгеновских трубках. В методе Брэгга (рис. 3.23) пучок рентгеновских лучей направляется на грань кристалла, например [c.70]

В 1913 г. Мозли впервые подробно изучил характеристические спектры различных элементов Применив рентгеновский спектрометр, разработанный Брэггом (рис. 3-5), Мозли изучил спектры 38 элементов. Анализируя характеристические линии, он показал, что их можно разделить на две серии, соответствующие К- и -лучам, наблюдавшимся ранее Бэркла и Сэдлером. На рис. 3-6 изображена фотография /С-серии спектров элементов от титана до меди.. Элементы расположены в порядке возрастания атомных весов, и можно видеть, что для каждого элемента /С-излучение состоит из двух линий Ка и К . Кажущееся расхождение у кобальта, для которого наблюдались четыре линии, можно приписать примесям железа и никеля в образце кобальта. [c.89]

Для получения с помощью рентгеновского спектрометра результатов, приведенных на рис. 3, можно было бы поступить следующим образом. Бомбардируя вольфрамовую мишень электронами, количество которых в единицу в ремени постоянно, но энергия которых не слишком высока, измеряют с помощью детектора величины интенсивности для отсчитываемых угловых положений кристалла-монохроматора. Эти положения соответствуют известным длинам волн (закон Брэгга) и их можно охарактеризовать, отмечая угол 20 между падающим и отраженным пучками, который равен удвоенному углу, входящему в уравнение (11). Для отражения луча от плоскости кристалла в соответствии с уравнениями (10) и (11) нужно, чтобы угол между неподвижным источником излучения и подвижным детектором всегда был равен 26. Отсчеты интенсивности (после их исправления, если это необходимо) наносят на график в зависимости от Я или 20. [c.38]

Система с плоским кристаллом состоит из рентгеновской трубки, держателя образцов и спектрометра. Спектрометр в свою очередь состоит из кристалла-анализатора, коллиматора и детектора. Рентгеновскую трубку используют в качестве первичного источника рентгеновского излучения для возбугкдения вторичного (или характеристического) спектра пробы. Анализируемая проба может быть твердой, жидкой или смесью порошков. Если требуется точный анализ, то к пробе предъявляют существенное требование — однородность ее поверхности. Поскольку характеристическое излучение направлено во все стороны, для получения параллельных лучей, падающих на кристалл, применяют коллиматоры. Параллельный пучок рентгеновских лучей диффрагируется кристаллом в соответствии с законом Брэгга [c.210]

Принцип этой установки (но Кошуа) ясен из рис. 8,в. Изогнутый по цилиндрической поверхности кристалл применяют для фокусировки рентгеновских лучей, прошедших через кристалл. Плоскости кристалла перпендикулярны его поверхности. Радиус кривизны кристалла также равен диаметру круга Роуланда. Шлифовка кристалла для этой установки не требуется. Такой спектрометр можно использовать двумя путями либо для фокусировки расходящегося пучка рентгеновских лучей от большой пробы в линию на круге Роуланда (от В к А) или, наоборот, для получения луча, расходящегося из точки (от А к В). Основное преимущество установки, работающей на прохождение, заключается в облегчении измерений при очень малых углах Брэгга. Существуют различные доступные механические устройства для установки изогнутых кристаллов опи описаны в работах Сапдстрома [c.213]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология