Общие правила работы с микроскопом

Общие правила работы с микроскопом. Место для микроскопа выбирают дальше от прямого солнечного света. Работа на столе с темной поверхностью меньше утомляет глаза. Лучше смотреть в окуляр левым глазом, не закрывая правого. При работе с бинокулярной насадкой сначала регулируют расстояние между окулярами в соответствии с расстоянием между глазами наблюдателя так, чтобы поля зрения обоих окуляров сливались в одно. [c.10]

Основные правила работы с микроскопом (общие замечания). Место для микроскопа выбирается подальше от прямого солнечного света. Работа на столе с темной поверхностью способствует меньшему утомлению глаз. [c.14]

Исследователь, собирающийся работать на электронном микроскопе и никогда не сталкивавшийся с ним ранее, должен перенять опыт от специалистов, работая вместе с ними, причем желательно на такой же модели, на которой он планирует проводить эксперименты. Предварительно он должен запастись руководствами и справочниками и, возможно, пройти подготовку на специальных курсах. Методы электронной микроскопии, предлагаемые нами в данной главе, предназначены для тех, кто имеет доступ к микроскопу и должен проводить бактериологические исследования. Исследователи могут почерпнуть для себя много полезного, не только занимаясь на курсах, но и осваивая необходимые манипуляции с помощью квалифицированного оператора, а также привлекая необходимые сведения, изложенные в руководствах и литературе по общим вопросам [1 — И]. Мы не будем здесь дублировать все эти источники инструкций, так как для каждого микроскопа существуют собственные правила работы. [c.90]

Для частиц, размер которых равен или больше длины световой водны, онределение размера частиц по светорассеянию может быть осуществлено исходя из общей теории светорассеяния (как это сделано, например, в работах Марона по определению дисперсности латексов). Однако такие определения, как правило, связаны с весьма сложными расчетами, и поэтому более целесообразным в этом случае является непосредственное измерение размеров частиц под микроскопом. [c.40]

Исследуемый образец помещался в установку на подложку из поликристаллической окиси алюминия. После достижения максимальной разряженности (Ю —10 мм рт. ст.), включался нагреватель и температура поднималась до величины, позволяющей проводить вакуумную очистку жидкой капли от окислов и легколетучих металлических примесей. При максимальной температуре образец выдерживался, как правило, в течение 2—3 часов, после чего проводились измерения а при охлаждении и нагревании. Образец фотографировался фотокамерой ФК 18X24 с объективом И-37. Коэффициент увеличения в экспериментах составлял величину 4,5378. Для получения плоскопараллельного пучка света использовались конденсор, смотровые окна были изготовлены из оптического кварца, осветитель представлял собою фотовспышку ФИЛ-11. Обмер снимка капли проводился на универсальном микроскопе УИМ-21 методом, предложенным в работах [27, 29] с использованием таблиц Башфорта и Адамса. Если исходить из суммарной ошибки измерения плотности и поверхностного натяжения, получаемой только из измерений снимка капли, то она не превышает 0,4% по и 0,6% по а. Однако из-за неучтенных погрешностей (нечеткость при обмере и др.) общая ошибка увеличивается до 1,5% при определении й и 2,5% —для сг. Косвенно этот вывод подтверждается сравнением данных по (1, определенных методом большой капли и, например, пикнометрически или методом проникающего излучения [5, 12, 13]. [c.35]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология