Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод электронной микроскопии

    Определение типа и концентрации дефектов кристаллической решетки, выходящих на поверхность кристаллов, производится главным образом методом электронной микроскопии. Для выявления дефектов применяется химическое или ионное травление свежих сколов кристаллов, позволяющее охарактеризовать своеобразные структуры минералов, однако интерпретация полученных результатов чрезвычайно затруднена из-за неопределенной кристаллографической ориентации граней кристалла. Кроме того, возникают трудности, связанные с получением качественных реплик с поверхности пористых образцов. Несомненно, что исследование минералов при использовании просвечивающих электронных микроскопов позволило бы получить больший объем информации о дефектности структуры минералов, если бы было возможно без особых затруднений приготавливать для анализа образцы требуемой толщины. Рельеф поверхности скола не дает прямой информации о направлении и величине вектора Бюргерса наблюдаемых дислокаций, что затрудняет идентификацию отдельных видов этих дефектов, однако электронно-микроскопическая картина поверхно- [c.236]


    Метод электронной микроскопии может быть использован для непосредственного наблюдения распределения пор по размерам. Этот метод является прямым и дает детальную статистику распределения пор. Однако обработка электронно-микроскопических микрофотографий представляет собой весьма трудоемкий процесс. [c.102]

    Исследование структуры методом электронной микроскопии [c.308]

    Наибольшая ньютоновская вязкость высококонцентрированных растворов сополимера. Для определения проницаемости материала сополимера, являющейся нелинейной характеристикой М-элемента диаграммы связи (см. рис. 4.5), необходимо исследование зависимости ньютоновской вязкости системы от концентрации растворителя в ней. Изучению ньютоновской вязкости высококонцентрированных систем посвящен ряд работ [55—58]. Непосредственное изучение структуры таких систем методами электронной микроскопии встречает большие затруднения. Вместе с тем [c.318]

    Пластичные смазки представляют собой коллоидные системы, отличающиеся значительной концентрадией и высокой степенью структурирования твердой фазы. Структура смазок изучается при помощи электронного микроскопа, позволяющего получать увеличение более 100 тыс. раз при разрешающей способности до 4 А. Исследования смазок с использованием методов электронной микроскопии позволили установить, что дисперсная фаза большинства мыльных смазок образована лентовидными или игольчатыми частицами (волокнами) анизометричной формы. В одном или двух измерениях размеры этих частиц коллоидные — менее 1 мкм. [c.356]

    Методом электронной микроскопии исследованы образцы исходных сточных вод. Полистирол образует единичные, шарообразной формы частицы размером 0,06-0,6 мкм и агрегаты частиц размером 0,5-1,5 мкм, ПВС образует пространственную рыхлую сетчатую структуру. Электро-кинетический потенциал частиц полистирола при 20 °С составляет —9 — -11 мВ. Увеличение концентрации ПВС в растворе, так же как увеличение числа ацетатных групп в молекулах, приводит к повышению стабильности стирольной дисперсии. [c.98]

    Метод электронной микроскопии очень эффективен при исследовании структуры катализаторов, носителей, адсорбентов [78, 85, 86, 88, 89]. С использованием реплик, полученных разными способами, он дал возможность окончательно установить механизм трансформации структуры алюмосиликатов и силу-, катов под действием соединений ванадия [64, 90—92]. [c.310]

    Варианты анализа высокодисперсных систем уже рассмотрены нами в предыдущих главах. Они основаны на изучении молекулярно-кинетических и оптических свойств — диффузии, осмотического давления, среднего сдвига частиц, светорассеяния (нефелометрия, ультрамикроскопия), седиментационно-диффузионного равновесия (ультрацентрифуга), а также на применении методов электронной микроскопии и дифракции электронов. Эти методы дают сведения главным образом о среднем размере частиц. Для многих целей такая характеристика является достаточной, тем более что в коллоидных системах вариации дисперсности обычно не очень велики. [c.45]


    При изучении надмолекулярной структуры полимеров методом электронной микроскопии наименьшие искажения получаются при травлении полимеров в плазме высокочастотного кислородного разряда. Это дает возможность оценить соотношение между объемом, занимаемым упорядоченными микрообластями (микроблоками структуры) независимо от их природы, и неупорядоченной частью полимера (свободные цепи и сегменты), а также средний линейный размер микроблоков. Например, для эластомеров при комнатной температуре характерна объемная доля микроблоков примерно 20%. Это значит, что 80% по объему занимают свободные цепи и сегменты, ответственные за высокую эластичность этих материалов. Средний линейный размер структурных микроблоков 10—30 нм, что соответствует типичным размерам частиц в коллоидных системах. Малое различие в плотностях упорядоченных и неупорядоченных микрообластей (1—2%) является причиной того, что применение дифракционных методов для исследования структуры аморфных эластомеров не всегда эффективно. Некоторые полимеры в блоке характеризуются глобулярной структурой (рис. 1.12) с размерами микроблоков 12—35 нм. [c.27]

    Электронная микроскопия. Методы электронной микроскопии также относятся к дифракционным методам анализа структуры. Изучаются дифракционные картины, возникающие при рассеянии пучков ускоренных электронов на частицах дисперсной фазы. В настоящее время увеличение достигает 10 раз. Электроны— микрочастицы, подчиняющиеся законам квантовой механики. Длина волны электронов, прошедших ускоряющую разность потенциалов и, определяется следующей формулой [c.102]

    Изучение малоуглового рассеяния молекулами рентгеновских лучей хорошо согласуется с результатами измерений методами электронной микроскопии, дифракции электронов [271] и ультрацентрифугирования. [c.282]

    На основе исследования люминесценции растворов асфальтенов установлено, что асфальтеновые ассоциаты имеют плоское строение [289]. Об этом же свидетельствуют хорошо сформированные пластины со средним поперечным размером до 1 ч- 3 мкм, обнаруженные методом электронной микроскопии. Плотная упаковка надмолекулярных структур асфальтенов проявляется в том, что растворы асфальтенов ведут себя аналогично компактным ассоциированным полимерам, причем они имеют меньший молекулярный объем, чем молекулы полимера с той же молекулярной массой [242]. [c.288]

    Важную информацию получают при исследовании поверхности излома цементного камня методами электронной микроскопии, особенно растровой электронной микроскопии в сочетании с рентгеновским микроанализатором. Эти методы позволяют наблюдать форму и размеры кристаллов при увеличении в 50—100 тыс. раз, характер их взаимного расположения и срастания, форму и размер пор. [c.117]

    Результаты исследований методом рассеяния рентгеновских лучей и методом электронной микроскопии позволяют предположить, что пустоты, содержащиеся в трещине серебра, распределены в виде взаимосвязанных полостей сферической формы, типичные размеры которых 10—20 нм. На кривых напряжение—деформация, полученных для материалов с трещинами серебра, выявляется предел вынужденной эластичности, при превышении которого начинается течение материала, обратимое до значений деформации 40—50% при напряжении 41—55 ЛШа. При возврате к нулевому напряжению материал с трещиной серебра характеризуется обратимостью ползучести с замедляющейся скоростью [c.365]

    Несмотря на то что доказательства существования доменной структуры, полученные методом электронной микроскопии, могут быть не свободны от экспериментальных ошибок, предположения о наличии небольших упорядоченных областей в аморфных полимерах невозможно отвергнуть полностью. [c.68]

    Данное явление аномально низкотемпературного плавления каталитически активного металла легко регистрируется и экспериментально, например прямыми методами электронной микроскопии ш 51Ш (рис. 18.9 и табл. 18.1). [c.382]

    Процесс ф-релаксации наблюдается только в наполненном полимере, и с увеличением содержания активного наполнителя его вклад в общий релаксационный процесс, как и -процесса, возрастает. ф-Процесс связан с подвижностью коллоидных частнц наполнителя и в целом с перегруппировкой сетки, образованной частицами активного наполнителя. Относительно высокие значения времени релаксации и энергии активации процесса обусловлены заторможенной подвижностью частиц наполнителя, довольно прочно связанных между собой и с полимером. Размеры релаксаторов этого процесса, рассчитанные из формулы (1.24), практически совпадают с размерами частиц сажи, найденными методами электронной микроскопии (30—50 им). [c.63]

    Наряду с рентгеновскими методами электронная микроскопия также является одним из основных и высокоэффективных методов исследования твердых веществ. Но рентгеновские лучи не могут дать изображения структуры, поскольку их нельзя сфокусировать системой линз. [c.155]

    Места выхода дислокаций на поверхность, как и всякие нарушения в кристаллической решетке (из-за напряжений и скоплений чужеродных атомов), легко поддаются травлению. По рисунку травления можно подсчитать число дислокаций. Оказывается, что их число на 1 см поверхности после деформации может достигать 10 (в хорошо отожженном материале 10 ). Как показывают расчеты, энергия увеличения числа дислокаций в результате деформации близка к энергии, поглощаемой материалом при холодной обработке. Разработаны методики, позволяющие наблюдать дислокации методами электронной микроскопии. [c.279]


    Кроме белковых макромолекул, сенсибилизацию вызывает ряд других водорастворимых полимеров. Э. Фишер, пользуясь методами электронной микроскопии и центрифугирования, доказал [c.117]

    Метод электронной микроскопии не лишен, конечно, и некоторых недостатков. К ним следует отнести высокую стоимость электронных микроскопов, представляющих собою весьма сложные приборы, которые к тому же требуют ряд дополнительных приспособлений. [c.166]

    Следует, однако, отметить, что определенная методом электронной микроскопии удельная поверхность сажи является геометрической удельной поверхнос 1 ью, так как она рассчитывается нри допущении, что частицы сажи являются сферическими и их поверхность абсолютно гладкая. В действительности оба условия для сажи не выполняются, и в ряде случаев, особенно для саж из частиц с шероховатой поверхностью, метод электронной микроскопии дает сильно заниженные значения. Но, несмотря на определенную условность, геометрическая удельная поверхность является ценной характеристикой дисперсности сажи. [c.193]

    Применение метода электронной микроскопии для исследования коллоидных растворов ограничено тем, что для наблюдения Ъ проходящем пучке объект должен быть в твердом состоянии и в исключительно тонком слое. Практически каплю раствора наносят на тончайшую коллодиевую пленку и выпаривают. При этом свой- [c.42]

    Журков с сотрудниками предлагают две схемы строения ориен-тированных аморфно-кристаллических полимеров (рис. VI. 11, VI. 12) [16]. Модель, представленная на рис. VI. 1, лучше соответствует электронномикроскопическим данным. Методом электронной микроскопии сравнительно хорошо наблюдаются длинные фибриллы с поперечными размерами порядка десятков нанометров, внутреннее же строение фибрилл, т. е. большие периоды, просматриваются плохо. Другая модель (рис. VI. 12) ближе к рентге-нографическим данным. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния хорошо регистрирует чередование вдоль оси ориентации [c.199]

    Применение метода электронной микроскопии для исследования коллоидных растворов ограничено тем, что для наблюдения в проходящем пучке объект должен быть в твердом состоянии и в исключительно тонком слое. Практически каплю раствора наносят на тончайшую коллодиевую пленку и выпаривают. При этом свойства системы могут существенным образом измениться, в результате чего наблюдаемые параметры в этом случае сильно отличаются от параметров исследуемой системы . Применение метода диффракции электронов также ограничено твердыми объектами. [c.43]

    Уравнение Рэлея применимо для частиц, размер которых составляет не более 0,1 длины световой волны, т. е. для частиц не больше. 40—70 нм. Для частиц большего размера /р изменяете обратно пропорционально не четвертый, а меньшей степени X. Это, конечно, способствует увеличению светорассеяния. Геллер детальнб исследовал зависимость показателя степени при I от размера ча стиц в основном на примере монодисперсных латексов полистирола, размер частиц которых определялся методом электронной микроскопии. В своих работах (1946 г.) Геллер дал калибровочну1р кривую в координатах радиуса частиц и показателя степени при [c.35]

    Важной практической проблемой является трансформация глобулярной модели с учетом реального строения пористых тел. Экспериментальные данные исследования морфологии пористых тел, основанные на методе электронной микроскопии, показывают, что вторичные частицы в зависимости от химической природы и способа синтеза катализатора (адсорбента) могут представлять собой глобулы, пластины, иглы и пр. различных размеров. Трансформация глобулярной модели на реальную осуществляется на основе следующих предпосылок а) соотношение плотной фазы и сформированного ею объема пор не зависит от строения первичных и вторичных частиц (суммарный объем пор и вес единичной гранулы катализатора не зависят от типа аппроксимации ее строения) б) суммарная поверхность первичных частиц при данном геометрическом размере зависит только от их числа (находится из экспериментально определенной удельной поверхности и веса единичной гранулы образца) в) число первичных частиц во вторичных зависит от типа их аппроксимации (в силу необходи- [c.146]

    Высокомолекулярные соединения (продукты уплотнения и смолисто-асфальтеновые соединения), изначально содержащиеся в топливах, при их коагуляции образуют нерастворимую фазу. Для предотвращения этого нежелательного процесса используют диспергирующие присадки (дисперсанты). Методом электронной микроскопии было показано, что ионол проявляет свойства диспергирующей присадки, при концентрации 0.1% масс, уменьшаются размеры частиц от 0.8 мкм до 3-15 нм и увеличивается число частиц от 10 до 10 в 1 мм [101]. Введение ионола (0.2% масс.) в дизельную [c.183]

    В сообщении представлены результаты исследований по синтезу одностенньгх углеродных нанотрубок (ОНТ) электродуговым испарением графитовых стержней в присутствии 10-15 масс.% порошков металлов или интерметаллических соединений, по разработке методики выделения ОНТ, по изучению свойств ОНТ. Методами электронной микроскопии, окислительной термогравиметрии, химического и рентгенофазового анализов, экстракции толуолом проведена оценка содержания аморфного углерода, фуллеренов, одностенных углеродных нанотрубок (ОНТ), графитовых и металлических частиц в продуктах испарения. Диаметры ОНТ определены из полос поглощения в области дыхательной моды Раман-спектроскопии и из данных электронной микроскопии высокого разрешения. [c.193]

    При исследовании сырой калифорнийской нефтн был использован метод электронной микроскопии [38, 41]. При оиределении не удалось обнаружить никаких частиц это указывает на отсутствие [c.505]

    До 1958 года, пока был жив Д. С. Великовский, мне больше приходилось работать с ним, поскольку я специализировался в области пластичных смазок и специальных жидкостей. В те далекие годы научные основы этой достаточно эмпиричной области знаний только начиналн создаваться. Тогда Николай Иванович к нашей тематике относился скорее снисходитс.,тьно, а не с интересом. Однако в дальнейшем он стал принимать активное участие и в наших работах. Именно поэтому под его руководством кафедра превратилась в научно-педагогический коллектив, одинаково успешно работающий в области создания жидких и пластичных смазочных материалов, в основного поставщика специалистов-смазчиков разного уровня для нашей страны и дружественных государств. Непосредственно с Николаем Ивановичем мне посчастливилось исследовать вопросы структурообразования твердых углеводородов в углеводородных средах методами электронной микроскопии, заниматься разработкой смазок для нефтяного оборудования, оптических приборов и военной техники. Он привлек меня к руководству дипломниками и аспирантами и способствовал формированию из меня специалиста и ученого. Совместно с ним мы опубликовали 10 научных работ и подготовили трех кандидатов наук. [c.21]

    На рис. 9.19—9.21 воспроизводятся электронные микрофотографии реплик поверхностей разрушения ПА-6, полученного кристаллизацией под давлением [202]. На микрофотографиях видны стопы ламелл толщиной до 700 нм. На основании обширных исследований методами инфракрасной спектроскопии, широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей и методами электронной микроскопии авторы данной работы пришли к выводу, что ламеллы состоят из вытянутых цепей. Согласно их предположению (рис. 9.22), трещина преимущественно может распространяться либо вдоль плоскостей (010) (в которых располагаются концы цепей, а также примеси, отторгнутые фронтом роста), либо вдоль плоскостей (002) —в слоях водородных связей ламелл. В обоих процессах не происходит разрыва связей основной цепи или водородных связей. [c.393]

    Проведен синтез углеродных нанотруб мегодом термического газофазного разложения углеводородов. Структура нанотруб (размер, ориента11ия, дефектность, наличие примесей других элементов и т.д.) регулировалась изменением параметров синтеза (температура, исходные углеродсодержащие вещества, вид катализатора и т.д.). Проведено комплексное исследование полученных материалов методами электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, фотоэлектронной спектроскопии и рентгеновской дифракции. [c.124]

    Электронные микроскопы дают возможность увидеть отдельные коллоидные частицы, крупные макромолекулы (например, белков), вирусы, элементы кристаллической решетки и другие субмикроско-пические объекты размером 10 —10" см. Методом электронной микроскопии можно также наблюдать структуру полимеров. Если классическим методом структурного анализа (рентгенографическое исследование) можно получить сведения лишь о строении областей, размеры которых в десятки и сотни раз меньше длины полимерных молекул, то применение электронной микроскопии позволяет исследовать структуры, образующиеся при взаимодействии макромолекул (надмолекулярные структуры). [c.166]

    Начало современного этапа развития коллоидной химии тесно связано с целым рядом замечательных открытий в области физики и смежных с ней наук в первые два десятилетия нашего века. За этот период произошла переоценка многих классических представлений. Разработка новых методов исследования, таких, как ультрамикроскопия (1904), рентгеноструктурный анализ (1913—1916), метод электронной микроскопии и др., позволила учены.м глубже проникнуть в сущность строения коллоидов и вместе с тем далеко продвинуться в области теории. В учении о коллоидах в этот период на первый план выступает изучение поверхностносорбционных явлений. Эти явления были подробно исследованы русскими учеными А. А. Титовым (1910) и Н. А. Шиловым (1916), а также зарубежными — Ленг-мюром (1917) и др. Успешное применение советским ученым А. В. Думанским [c.280]

    Электронно-микроскопическая картина полиминеральных и поликристаллических вяжущих материалов и изделий из них сложна и весьма трудно расшифровывается. Сложность картины усугубляется большим разнообразием методов препарирования, способов съемки и работой специалистов при разных увеличениях микроскопов. Поэтому метод электронной микроскопии чаще всего используют для изучения конкретных вопросов в проводимом исследовании. Вместе с тем информация по электронно-микроскопическим картинам вяжущих материалов и изделий из них, содержащаяся В работах Ю. С. Малинина, У. Ш. Палиашвили, А. Г. Холодного, Л. П Шпыновой, 3. М. Ларионовой и др., позволяет провести приближенное обобщение описания внешнего вида кристаллов при больших увеличениях (табл. 16), [c.161]

    Изучение структуры полимеров может осуществляться различными физическими методами, в том числе методом электронной микроскопии, который позволяет оценивать некоторые особенности надмолекулярного строения полимеров в диапазоне размеров от нескольких десятков ангстрем до сотен микрон. Электронная микроскопия обычно применяется в совокупности с другими методами исследований, такими, как оптическая микроскопия, дифракция рентгеновых лучей и электронография. [c.109]

    Метод электронной микроскопии позволяет определить размеры частиц сажи и построить кривую распределения н по этим данным рассчитать удельную пове1)хность. Кроме того, это единственный метод, с помощью которого можно неносредственрю наблюдать ча стицы сажи и судить об их форме. [c.193]

    Исследователи не пришли к общему выводу относительно того, как образуются гидросиликаты только через растворение СдЗ, в воде, путем протекания серии реакций в твердом состоянии или последовательным сочетанием этих явлений. Например, в недавних исследованиях [127] гидратации СдЗ методами электронной микроскопии и электронографии сообщается о том, что гидратация СдЗ начинается в момент соприкосновения с водой и протекает через раствор. На поверхности минерала первоначально образуются бугорки роста, размер которых увеличивается до 500 А, за счет наслоения на них игольчатых кристаллов трехкальциевого гидросиликата [236]. Процесс гидратации протекает метасоматическим замещением с выносом части вещества через агрегатно-ритмичную структуру. Вместе с тем другие исследователи [229], использовавшие подобные методы изучения гидратации СдЗ, установили, что в гидратированном СдЗ имеется два типа различных гидратных продуктов. Один, плотно окружающий частички гидратировавшегося СдЗ (ангидрида ЗСаО ЗЮг), имеющий соотношение Са/81— 1,7 0,1 и С — 5 — Н гель, почти такой же, как в портланд-цементе. Другой тип гидрата —Са (0Н)2 в виде больших гранул, расположенных вокруг зерен СдЗ, иногда поглощающий маленькие частицы гидросиликатов. По их мнению, СдЗ гидратируется в основном топотак-тически, как описано Кондо [58]. При этом Са " транспортируется в раствор с выпадением Са (0Н)г вокруг ядер СдЗ. [c.76]


Библиография для Метод электронной микроскопии: [c.325]   
Смотреть страницы где упоминается термин Метод электронной микроскопии: [c.187]    [c.31]    [c.77]    [c.106]    [c.24]    [c.110]    [c.164]    [c.315]   
Компьютерное материаловедение полимеров Т.1 Атомно-молекулярный уровень (1999) -- [ c.286 ]

Структура и механические свойства полимеров Изд 2 (1972) -- [ c.29 ]

Проблема белка (1996) -- [ c.167 , c.231 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Микроскоп

Микроскоп электронный

Микроскопия

Электронная микроскопия

Электронная микроскопия микроскоп

Электронных пар метод



© 2025 chem21.info Реклама на сайте