Дифракция серией плоских сеток

При изучении принципов рентгеноструктурного анализа допустимо рассматривать кристалл как построенный из серии параллельных плоскостей, в которых лежат те или иные атомы молекулы. Каждый атом является частью пространственной решетки, а вся совокупность атомов данного слоя образует плоскую сетку кристаллической решетки. Очевидно, что число таких плоских сеток (параллельных плоскостей) может быть очень большим и что для каждой системы плоскостей имеется характеристическое разделение, т. е. расстояние между параллельными плоскостями (рис. 26). Следовательно, кристалл можно рассматривать как трехмерную дифракционную решетку для рентгеновых лучей. При отражении от ряда плоскостей кристалла происходит не только изменение направления рентгеновых лучей (дифракция), но и наложение отдельных волновых колебаний друг на друга (интерференция). Эта способность Х-лучей к дифракции и интерференции при отражении от плоских сеток кристаллической решетки и лежит в основе рентгеноструктурного анализа кристаллических веществ. [c.118]