Аттенюатор микроволновой

С помощью аттенюатора регулируется микроволновая мощность, падающая на образец. Это устройство содержит [c.38]

Пластинки германия п-типа, изменяющие свою проводимость под действием магнитного поля, используются в микроволновых аттенюаторах [1109]. [c.382]

Блок-схема супергетеродинного спектрометра, описанного в работе [45], приведена на рис. 4.19. Микроволновая мощность сигнального генератора Кс через фер-ритовый вентиль и аттенюатор Атт подается в циркулятор и затем через согласующий транс4орматор СТ поступает в резонатор с исследуемым парамагнитным образцом. Большая часть микроволновой мощности проходит в резонатор и поглощается там его стенками и образцом, а часть отражается и через циркулятор попадает в балансный смеситель. Сюда же через ферритовый вентиль [c.154]

Промодулированный по амплитуде сигнал от микроволнового генератора 1 через ферритный вентиль 2 поступает на ДВТ 3, симметричные плечи которого через аттенюаторы 4, 5 и трансформатор полных сопротивлений 6 соединены с излучателями 8 и 11, расположенными с противоположных сторон образца 12. Приемные антенны 9, 10 соответствующих каналов через аттенюатор 14 и трансформатор полных сопротивлений 13 подключены к симметричным плечам ДВТ 15, в которые включены детекторные секции 16, 17. В качестве индикатора используется измерительный усилитель 18, который подключается к выходу соответствующей детекторной секции. [c.43]

На рис. V.2 представлена схема микроволнового интерферометри-ческого моста. Сигнал, генерируемый клистроном, разделяется на две равные части, одна из которых проходит по каналу с плазмой, а другая — по каналу сравнения. Регулировка фазы и величины ослабления сигнала в канале сравнения производится таким образом, чтобы после сложения сигналов на выходе каналов показания детектора равнялись нулю. Разности между нулевыми отсчетами фа-зосдвигателя и аттенюатора, полученными при наличии плазмы и в ее отсутствие, равны величинам поглощения и фазового сдвига, обусловленным самой плазмой. Для того чтобы обеспечить измерение истинного поглощения в плазме, важно добиться минимальных отражений от нее. Измерительную линию, стоящую непосредственно перед трубкой с плазмой, можно использовать для контролирования величины коэффициента стоячей волны (КСВ), обусловленного отражениями от плазмы. При измерении параметров импульсной плазмы необходимо заменить микроамперметр осциллографом. [c.74]

На рис. V. 12 показаны также электронные компоненты, необходимые ДЛЯ проведения измерений нестационарной температуры в периодической импульсной плазме. Принцип работы этих устройств заключается в том, что с их помощью стробируется усилитель промежуточной частоты в результате этого сигнал, соответствующий излучению из каждого плеча схемы, усиливается только в течение коротких периодов времени в пределах каждого цикла модуляции, плазмы. Плазма генерируется всякий раз, когда ферритовый переключатель находится в таком положении, что в приемник поступает излучение именно из плазмы. Стробированное выходное напряжение усилителя промежуточной частоты преобразуется с помощью фильтра и удлинителя импульсов в напряжение прямоугольной формы с амплитудой, пропорциональной разности двух сигналов, поступающих из двух плеч микроволновой схемы. Это прямоугольное напряжение подается на синхронный детектор с усилителем, а эффективная температура шумового эталона регулируется с помощью калиброванного аттенюатора так, чтобы получить нулевой отсчет на выходе устройства. Ручная регулировка величины времени задержки позволяет изучать эволюцию электронной температуры во время и после окончания разрядного импульса. Подобное устройство 115] использовалось для изучения спада электронной температуры в послесвечении импульсного разряда в гелии. Точность измерений составляла в лучших случаях 50°К. Более высокой чувствительности можно достичь, если воспользоваться малошумящим усилителем (например, параметрическим или усилителем бегущей волны), расположив его между балансным кристаллическим смесителем и вентилем. Частично точность измерений ограничивается вследствие наличия небольших изменений параметров плазмы разряда от импульса к импульсу. [c.97]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология