Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Амплитуда сигнала

    Параметр порог — еще одно средство фильтрации входного сигнала. Он устанавливает такое значение среднего изменения сигнала детектора за интервал времени, заданный параметром ширина, превышение которого система принимает за начало переднего фронта или конец задней ветви пика, т. е. определяет начало и конец интегрирования пика. Задание меньшего значения порога способствует более правильной оценке площади, но в то же время чревато ошибкой принять за пик случайное изменение сигнала. Величина порога задается в виде амплитуды сигнала в единицах счета высоты. [c.141]


Рис. 2.11. Изменение амплитуды сигнала в функций от диаметра плоскодонных отверстий Рис. 2.11. Изменение амплитуды сигнала в функций от <a href="/info/30185">диаметра</a> плоскодонных отверстий
    Измерение времени спин-спиновой релаксации. Время спин-спиновой релаксации Т измеряют методом спинового эха и его модификации. Метод состоит в том, что на спиновую систему воздействуют импульсной последовательностью 90°, т, 180° и в момент времени 2т наблюдают эхо-сигнал . Амплитуда сигнала—эхо зависит от T a, которое определяют из зависимости амплитуды эхо от т. Так же, как и при измерении Гь в последовательности 180°, т, 90° необходимо повторять импульсную последовательность с различными временами задержки т. Методика спин-эхо обладает ограниченными возможностями вследствие влияния процессов молекулярной диффузии. Перемещение ядер вследствие диффузии из одной части поля в другую приводит к уменьшению амплитуды эхо-сигнала. Амплитуда эхо-сигнала будет спадать не по простому экспоненциальному закону, что сказывается на измерении Т2. Существуют другие импульсные последовательности, которые позволяют понизить влияние диффузии на измерение Т2. Такой последовательностью является 90°, т, 180°, 2т, 180°, 2т.....Величины Ту [c.258]

    Для оценки результатов требуется наличие базы данных по акустической эмиссии, наблюдающейся при стабильном росте трещин в материале, аналогичном примененному при изготовлении контролируемой конструкции. Расчет условий роста трещин выполняют в терминах механики разрушений. Во внимание принимают источники акустической эмиссии при условии, что их не менее 5 (для газовых баллонов) и 10 (для сосудов) в области радиуса, составляющего 10% от расстояния между датчиками. Для сталей класса прочности 275-355 МПа (по пределу текучести) в учитываемые источники включают те, амплитуда сигнала от которых превышает 50 с1В. Испытания приостанавливают, если наблюдаются скачки амплитуды на 20 с1В выше среднего уровня. Соответствующие источники тщательно исследуют. [c.181]

    Измерения начальной магнитной проницаемости оказываются возможными благодаря использованию накладного вихретокового преобразователя с магнитодиэлектрическим сердечником. Измерения магнитной проницаемости ферромагнетиков накладным преобразователем без сердечника невозможны. При измерении с магнитодиэлектрическим сердечником надо использовать малые частоты, чтобы параметр 0,002. При этом сигнал преобразователя будет зависеть только от магнитной проницаемости или точнее в диапазоне от 2 до 8 МСм/м амплитуда сигнала не будет зависеть от величины удельной электрической проводимости. Полученная зависимость амплитуды сигнала от начальной магнитной проницаемости может быть аппроксимирована выражением [c.267]


    Для использования ультразвукового теневого метода нри контроле углеродных материалов требуется разработка приемов выделения значений амплитуд сигнала, вызванных действием дефектов. На основании изучения заготовок предложено рассматривать для этих целей статистические функции амплитуд сигнала, прошедшего через стенку заготовки. [c.271]

    Наблюдается практически линейная зависимость амплитуды сигнала свободной индукции от пористости во всем диапазоне измерений, независимо от литологии стратиграфической приуроченности. Этот график представляет собой градуировочную кривую, по которой отсчитывались значения пористости по известной амплитуде сигнала. Различными точками обозначены терригенные и карбонатные образцы. Коэффициент корреляции для этой зависимости К=0,913. [c.105]

    Акустическим трактом называют путь ультразвука от излучателя до дефекта или другого препятствия и затем к приемнику колебаний. Формулы акустического тракта определяют ослабление сигнала на этом пути, т. е. амплитуду сигнала от отражателя. Для упрощения математических выкладок ниже рассмотрим акустический тракт для жидкой среды и затем введем поправки, характерные для твердого тела. Обозначим через Ро амплитуду сигнала, излучаемого преобразователем (акустического зондирующего импульса), а амплитуду принятого [c.107]

    Тогда вся излученная энергия возвращается обратно к преобразователю (за исключением потерь на затухание), поэтому Р /Ро=. Такой образец, изготовленный из материала с небольшим затуханием ультразвука, представляется удобным для определения максимальной амплитуды сигнала, однако изготовление его технологически довольно сложно. [c.115]

    При увеличении размеров отражателя сужение диаграммы направленности диска как вторичного излучателя оказывает существенное влияние и приводит к сужению общей диаграммы направленности преобразователь — отражатель (кривые 3, 4). Это хорошо заметно, если измерить ширину кривых на одинаковом уровне (например, 6 дБ) от максимума. Наибольшее сужение наблюдается, когда диаметры преобразователя и отражателя равны (кривая 5). Кривая 6 соответствует случаю, когда амплитуда сигнала от дефекта, расположенного в дальней зоне преобразователя, больше донного сигнала (см. кривую 2 на рис. 2.11). Если размер отражателя больше ширины пучка ультразвуковых лучей на глубине расположения дефекта, на кривой изменения амплитуды сигнала появится плато (кривая 7), а цри положении преобразователя вблизи края плоскодонного отверстия на кривой имеется интерференционный максимум, подобный показанному на рис. 2.14, кривая / // 6 = 3. [c.122]

    Решение. Рассмотрим поле излучения преобразователя как поле расхождения лучей в двух плоскостях. В плоскости, перпендикулярной оси цилиндра, отражение происходит как от цилиндра бесконечной длины, а в плоскости, параллельной оси цилиндра, — как от плоского дефекта шириной Ьь. В результате формула для амплитуды сигнала в дальней зоне имеет вид [c.123]

    Уровень структурных помех на экране ЭЛТ дефектоскопа. ПЭП —линейный преобразователь сигналов, поэтому на экране дефектоскопа наблюдают не интенсивность, а амплитуду сигнала. Средний уровень акустических помех на приемнике вычисляют по [c.133]

    Выбор оптимальных параметров контроля основан на анализе соотношений полезных сигналов и среднего уровня структурных помех. В табл. 2.1 эти соотношения приведены без учета влияния на них качества акустического контакта (см. п. 1.3.5). Поскольку изменение акустического контакта может уменьшить амплитуду сигнала в несколько раз, а максимальный уровень структурных помех в 2 раза выше среднего, для надежного обнаружения полезного сигнала на фоне помех сигнал должен быть в 6... 8 раз выше их среднего уровня. Используя эти соотношения, можно дать следуюш,ие рекомендации по оптимизации условий контроля  [c.137]

    Отношение амплитуды сигнала для отражателей различного типа к среднеквадратичному уровню структурных помех и 1и  [c.137]

    Достижение максимальной лучевой разрешающей способности ограничивается теми же факторами, что и достижение минимальной мертвой зоны. Сигнал от дефекта, расположенного ближе к преобразователю, действует подобно зондирующему импульсу и мешает выявлению дефекта, импульс от которого приходит позднее. Влияние переходных процессов в преобразователе в этом случае гораздо меньше, поскольку амплитуда сигнала, вызывающего эти процессы, в сотни раз меньше зондирующего импульса, поэтому лучевая разрешающая способность зависит в основном от длительности импульса и составляет Дг=0,5ст = 2Я, если импульс состоит из четырех периодов колебаний. [c.142]

    Наличие дополнительных максимумов существенно усложняет определение момента, когда наступает разрешение. Рационально принять условие, что разрешение наступает тогда, когда при положении преобразователя над одним из отражателей амплитуда сигнала от другого в 10 раз меньше. При этом =0,1, где Ф —диаграмма направленности преобразователя. Используя график функции Ф для круглого преобразователя (см. рис. 1.35), найдем неравенство, ограничивающее раздельное выявление дефектов  [c.143]

    Второй член под знаком модуля идентичен (2.1). Отсюда следует, что возмущение поля позади экрана р" равно возмущению поля перед экраном, т. е. отраженной волне р. Это положение носит название принципа Бабине. Однако было бы неправильно понимать это положение так, что общие значения полей перед экраном и позади него совершенно одинаковы. Отраженная волна ни с чем не интерферирует и амплитуда сигнала равна Р, возмущение позади экрана складывается с падающей волной, что вызывает существенные различия. В общем случае имеют место неравенства  [c.152]

    В отличие от совмещенных в РС-преобразователях дефект обычно (но не всегда) вызывает увеличение амплитуды сигнала. Это связано с тем, что при уменьшении амплитуда колебаний, возбуждаемых в ОК излучающим вибратором, возрастает, что и регистрирует приемный вибратор. Раздельно-совмещенные преобразователи превосходят совмещенные по глубине залегания выявляемых дефектов, но уступают им по чувствительности к неглубоким дефектам. [c.227]


    Отражение от поверхности ультразвуковых волн, падающих из жидкой или газообразной среды. Если неровности поверхности носят нерегулярный характер, то наблюдается рассеянное отражение. При регулярном характере неровностей, шаг которых соизмерим с длиной волны, происходит дифракция ультразвуковых волн. В обоих случаях происходит уменьшение амплитуды сигнала, соответствующего геометрическому отражению лучей, что удобно использовать для измерения степени шероховатости поверхности. В качестве среды, в которой распространяется ультразвук, используют воду или воздух, например для контроля неровности дорожных покрытий. [c.246]

    Эффективным способом улучшения чувствительности ЯМР-спектрометра является применение накопителя резонансных сигналов. Он представляет собой небольшую ЭВМ, имеющую оперативную память на 2 ячеек (М = 10—12). Каждая ячейка воспринимает и хранит информацию об амплитуде сигнала ЯМР при строго определенном значении магнитного поля, если производится развертка поля, или частоты, если используется частотная развертка спектра. ЭВМ запоминает 2 точек спектра и может выдать их на экран осциллографа или на бланк самописца. Вводя последовательные развертки спектра одного и того же образца в память ЭВМ, получаем увели- [c.46]

    Слабые электрические сигналы можно усилить при помощи электронных схем. Амплитуда сигнала, подаваемого на вход усилителя, на его выходе возрастает. При каждом усилении возрастает не только полезный сигнал, но одновременно с ним в такой же степени и случайные помехи — шумы. Следовательно, при усилении нельзя выделить сигнал, не содержащий шумов, из общего фона для этого требуется особое преобразование сигнала (разд, А.2.4), Важно то, что усилитель не увеличивает долю шумов, поэтому он должен обладать возможно малыми собственными шумами. В этой связи конструкция усилителя представляет небольшой интерес, важнее принцип его действия и возможности применения, [c.447]

    Записав повторную хроматограмму смеси н-алканов и убедившись в воспроизведении параметров удерживания компонентов помните о необходимости синхронизации операций дозирования, включения программы, включения интегратора и или) нанесения стартовой отметки на диаграммной ленте ), приступают к хроматографированию в том же режиме программирования газообразной смеси метана (бытового газа) и азота с целью измерения мертвого времени колонки. Дозирование газообразной смеси метана в азоте выполняют с помощью медицинского шприца. Записывают не менее 3—5 хроматограмм, причем каждый раз по регистрации пика метана прерывают программирование и устанавливают начальный температурный режим, как описано выше. Дозу и чувствительность регистрации подбирают такими, чтобы амплитуда сигнала детектора составляла 30—90 % ширины диаграммной ленты. [c.287]

    Измерив логарифм амплитуды сигнала от поля рассеяния дефекта и ширину поля рассеяния дефекта на поверхности объекта, можно однозначно определшъ поле дефекта независимо от глубины его залепшия. В то же время, зная величину поля дефекта независимо от глубины его залегания и зная величину поля дефекта на поверхности объекта, можно по формуле [77] [c.198]

    Измерение и исследование импульсных давлений при изучении волновых явлений в непрозрачных средах является основным и наиболее информативным источником данных о протекающих в них процессах [1]. Пульсации (скачки) давлений в ударных волнах, распространяющихся в газах, могут происходить за время 10 с [2], а в жидкостях это время оценивается величиной 10 с [3]. В многофазных средах известны процессы, происходящие существенно быстрее. На практике датчики давления имеют собственную частоту порядка 100 кГц и даже менее. Отсюда возникает проблема расшифровки результатов измерений, и, очевидно, наиболее остро эта задача стоит при изучении бы-стропротекающих высокочастотных процессов. Интерпретация экспериментальных данных до сих пор делается не всегда. С этой точки зрения, например, не все выводы, сделанные в известной работе Дек-сниса Б. К. [4], представляются очевидными. Острая потребность в специальной интерпретации экспериментальных данных появляется при проведении измерений в экстремальных ситуациях, при наблюдении заострения пиков колебаний, проявлений усиления амплитуды сигнала, увеличении крутизны фронта. Естественно, такая надобность исчезает при измерении вялотекущих пульсаций давления, небольших низкочастотных скачков давления, когда собственная частота измерительной системы на порядок превышает частоту колебаний в исследуемой среде. [c.109]

    Для разработки способов выделения амплитуд сигнала, обусловленных дефектами, определяли зависимость суммарной площади дефектов от чувствительности, т. е. от усиления приемного тра1кта дефектоскопа. Такое решение обусловливалось тем, что амплитуда, вызванная дефектами в виде трещин, изменяется довольно резко, и поэтому ожидали, что площадь дефектов в этом случае будет в меньшей степени зависеть от изменения усиления, чем от различной плотности материала. [c.246]

    Полученные зависимо сти можно интер претировать как интегральные функции распределения амплитуд ультра1з вуко вого сигнала в пределах каждой заготовки. Действительно, площадь дефектов, определяемая ка < часть всей боковой поверхности заготовки, представляет собой накопленные частости. Усиление однозначно свл-зано с амплитудой сигнала. Математичеаки ллощадь дефектов при каком-то фиксированном усилении равна вероятности того, что амплитуда сигнала будет равна или больше какого-то значения  [c.247]

    Методическое значение такой интерпретации заключается в необходимости статистического анализа распределения амплитуд для надежного выявления дефектов. Интегральные или дифференциальные кривые распределения амплитуд представляют тот результат обработки амплитудной диаграммы, которыРг позволяет оператору более обоснованно принимать решения о дефектности заготовок. Нарушение однородности статистического распределения может являться признаком дефектоз. Распределения 1, 2 и 3 являются однородными, а одно-родносгь распределений 4 я 5 нарушена низкими значениями амплитуд сигнала, вызванными трещинами. [c.247]

    Определили экспериментальные интегральные функции распределеггия амплитуд сигнала н заготовках после обжита. [c.247]

    Явление импульсного ЯМР [1] состоит в изменении суммарной ядерной намагннченностн образца, помещенного одновременно в однородное постоянное магнитное поле и импульсное радиочастотное магнитное поле соответствующей частоты. Пре-цесспрующий вектор макроскопичсскоп ядерной намагниченности индуцирует в приемной катушке переменное напряжение, которое пропорционально концентрации исследуемых ядер н является функцией продольного времени (спин-решеточной) релаксации Ti и поперечного времени (спин-спиновой) релаксации T a. Из параметров сигнала ЯМР можно установить а) вид ядер — из напряженности магнитного поля и резонансной частоты б) число ядер, дающих вклад в резонанс,— из амплитуды сигнала в) связь между ядрами и их окружением и молекулярную подвижность — пз времен релаксации. [c.100]

    Основной эффект, который вносит поверхность, заключается в уменьщенпп подвижности адсорбированных молекул. Результатом этого является экспериментально наблюдаемое уменьще-пие времени релаксации у поверхности по сравнению со свободной жидкостью. Установлено экспериментально и теоретически, что релаксационные характеристики Г, пТ. изменяются в породах пропорционально размерам пор пли общей величине удельной поверхности, которая и определяет адсорбционные с1 -И"1ства, Жидкости в порах реальных иород-коллекторов представляют собой сложную спиновую систему, состоящую из двух-трех подсистем, возникающих вследствие влияния поверхности коллектора. В этом случае релаксационная кривая представляет сложную экспоненту, которая мож т быть разложена на две-три [4]. Каждая из таких составляющих характеризует процентное содержание выделенной спин-системы и время ее сиин-решеточной релаксации. Простейшая модель жидкости в порах — двухфазная. Компонента с более коротким временем релаксации отвечает связанной жидкости, а компонента с более длинным — свободной. В трехкомпонентной модели поровое пространство коллектора делится на три группы с различной удельной поверхностью, причем молекулы жидкости, находящиеся в порах разных групп, характеризуются различной степенью подвижности. Основные трудности в этой модели возникают при разложении кривой спада амплитуды сигнала на три экспоненты, которые преодолеваются путем применения программ нелинейного регрессионного анализа. Кроме того, в этой модели появляется новый параметр — критическое время спин-решеточной релаксации. Жидкость в порах, характеризуемых временем релаксации, меньше критического, является связанной. [c.102]

    Рнс. I. Зависимость амплитуды сигнала ядерной индукции А от нремеин задержки т в последовательности 90 —т—90 °-нын импульс для водного раствора медного купороса, Ha biuiaioutero коллектор  [c.103]

    Для определения пористости образцы горных пород, насыщенные жидкостью, помещаются в датчик ЯМР и измеряется начальная амплитуда сигнала свободной индукции, которая прямо пропорциональна количеству жидкости в образце. Коэффициент пропорциональности определяется по эталонам с известным водосодержанием и в процессе работы периодически контролируется. Стабильность аппаратуры позволяла проводить контроль не чаще, чем через 20 определений. Для исключения влияния степени заполнения катушки датчика образцом амплитуда сигнала пересчитывается на единицу объема образца. Продолжительность определения пористости одного образца не превышает 1—2 минут. Всего было исследовано 134 образца террпгенпых и карбонатных пород различного возраста. Из них 40 образцов было отобрано сверлящим грунтоносом из продуктивных отложений девопа, нижнего и среднего карбона месторождений юго-востока Татарии, 94 образца из тех же отложений Туймазинского и прилегающих к нему месторождений. Образцы подвергались следующим видам исследований  [c.104]

    На рпс. 2 приводится график корреляции нормированной амплитуды сигнала свободной индукции и открытой пористости по методу Преображенского для образцов Туймазинского месторождения и смежных с ним мееторожденпй Татарии и Башкирии. На оси абсцисс — открытая пористость, ординат — амплитуда сигнала, нормированная на единицу объема. [c.105]

    Через кювету, вдоль ее оси пропускается пучок резонансного излучения ртути от безэлектродной лампы с высокочастотным возбуждением. Поглощательная способность паров ртути в кювете регистрируется обычным атомноабсорбционным спектрофотометром. Атомно-абсорбциониый сигнал для ртути имеет форму кривой с насыщением, причем предел насыщения (амплитуда сигнала) пропорционален содержанию ртути в растворе пробы. [c.171]

    Если площадь отражающего диска (или плоскодонного отверстия) увеличивается и приближается по размеру к площади преобразователя, изменением функции на поверхности дефекта пренебречь нельзя. В результате уменьшения функции КР от центра к периферии отражателя амплитуда сигнала возрастает с ростом дефекта медленнее, чем по закону 5ьД2 (рис. 2.11). Когда размер диска достигает, а затем превосходит размер преобразователя, возможны две закономерности изменения амплитуды эхосигнала. Если отражатель находится в ближней или переходной зоне преобразователя, амплитуда эхо-сигнала от него постепенно приближается к амплитуде донного сигнала. Если же отражатель находится в дальней зоне преобразователя, то амплитуда эхосигнала от него может превзойти амплитуду донного сигнала, испытать одну или несколько осцилляций и только после этого [c.110]

    Здесь коэффициент А характеризует отражательную способность модели дефекта и может принимать различные значения в зависимости от его формы и соотношения размера отражателя и длины волны ультразвука /1= / 2шах соответствует максимальному значению / на заданном расстоянии г/гб от преобразователя. Максимум взят потому, что при выявлении дефекта, перемещая преобразователь, стремятся получить максимальную амплитуду сигнала. Функция /] зависит от формы преобразователя и отношения г/гв. В приложении на рис. П.11 показана функция / 2 для круглого преобразователя, а на рис. П.12, а функция 1.  [c.117]

    Отражение от сферы и цилиндра, ось которого перлендикулярна оси преобразователя, не зависит от направления падения ультразвука, поэтому, когда такие отражатели смешаются в направлении, перпендикулярном оси преобразователя, амплитуда сигнала изменяется пропорционально квадрату диаграммы направленности преобразователя. Например, если преобразователь перемещается по поверхности образца над протяженным цилиндрическим отражателем (рис. 2.18, а), расположенным на расстоянии h от поверхности (r = /i/ os0), то, как следует из (2.17) и (1.56), амплитуда эхосигнала изменяется согласно формуле [c.120]

    Часто для настройки чувствительности используют отражатели другой формы и размера, чем заданные, например используют донный сигнал (при контроле прямым ПЭП) или сигнал от двугранного угла (при контроле наклонным ПЭП). Далее по формулам акустического тракта или АРД-диаграммам (см. 2.2) рассчитывают необходимое повышение или понижение амплитуды сигнала, с тем чтобы она соответствовала значению для заданного плоскодонного или бокового отверстия, и осуществляют соответствующую регулировку аттенюатором (см. задачу 3.1.1). В этих случаях необходимо обеспечить высокую точность аттенюатора, знать рабочую частоту и диаметр пьезопластины ПЭП с погрешностью не более 10%, так как иначе расчет необходимого изменения чувстви-) тельности может содержать существенные ошибки. [c.190]

    Волну, отраженную от дефекта, можно представить в виде интеграла Фурье по волновому вектору к. Такое представление означает, что, зная спектральный состав волн, отраженных по всем направлениям от дефекта, можно построить точное изображение дефекта. Для достаточно полного представления образа дефекта необходимо изучить спектр частот отраженного сигнала в диапазоне /тах//тш=3. .. 5 при изменении углов отражения от дефектов в пределах 90... 120°. Практическая реализация этого направления изучения формы дефекта идет пока по двум путям изучение зависимости амплитуды сигнала от направления рассеяния (инди-катриссы рассеяния) и изучение спектрального состава сигнала. Первое направление прорабатывается более широко, так как не требует создания специальной широкополосной аппаратуры. [c.197]


Смотреть страницы где упоминается термин Амплитуда сигнала: [c.183]    [c.187]    [c.202]    [c.167]    [c.271]    [c.216]    [c.304]    [c.231]    [c.47]    [c.173]    [c.228]   
Современные методы ЯМР для химических исследований (1992) -- [ c.287 ]

Обратимая пластичность кристаллов (1991) -- [ c.216 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Амплитуда

Сигнал



© 2025 chem21.info Реклама на сайте