Препарирование полимеров для дифракционных исследований, методы

Поскольку, как уже указывалось выше, электроны чрезвычайно сильно взаимодействуют с веществом, то для дифракционных исследований требуются очень тонкие образцы, способные пропускать большую часть электронов. Оптимальная толщина образцов, например для полиэтилена, составляет всего несколько сотен ангстрем, в то время как для рентгенографических исследований используются образцы толщиной приблизительно в несколько миллиметров. Поэтому основная задача всех методов препарирования заключается в получении достаточно тонких пленок полимеров. Однако приготовление образцов в таком виде, несомненно, вызывает существенное изменение их структуры, что создает определенные трудности при интерпретации результатов и распространении полученных данных на структуру полимеров в блоке. Полученные в последние годы результаты показывают, что применение методов препарирования объектов для электронной дифракции (например, кристаллизация из разбавленного раствора) привело к совершенно новому представлению о структуре полимеров. В принципе для изучения поверхностей толстых образцов можно использовать и дифракцию при отражении, однако в применении к полимерам подобного рода исследования еще не описаны. [c.233]