спектроскопия отражательно-абсорбционная

Отражательно-абсорбционная спектроскопия основана на инфракрасном излучении, поляризованном параллельно плоскости падения. При угле падения (0) (рис. 15.28), лишь на несколько гра- [c.256]

Рис. 15 29. Расположение образца для отражательно-абсорбционной спектроскопии с использованием многократных отражений от металлических зеркал.

На рис. 15.29 показано, как располагается образец для отражательно-абсорбционной инфракрасной спектроскопии. Отражающее устройство может быть вмонтировано в обычный ИК-спектро-метр. Инфракрасный свет, поляризованный параллельно плоскости падения, можно получить с помощью поляризатора из AgBr (дифракционная решетка), который ставится перед входной щелью монохроматора. [c.257]

Загрязнения создают органические пленки или частицы разной породы. Идентификация загрязнений возможна микроскопически (частицы), при помощи отражательной ИК-спектроскопии, фотоэмиссионной спектроскопии (органические пленки), рентгеновского анализа, атомно-абсорбционной спектроскопии (не-оргатиеские загрязнения). Пленки низкомолекулярных масел или жиров могут образовываться из смазок обрабатывающих устройств, из загрязнений воздуха, а также из пота или масел при ручных операциях с субстратом, из пластификаторов и стабилизаторов, которые могут, особенно при высоких температурах, выделяться из полимерных материалов, используемых для защиты и перемещения подложек. [c.16]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология