Импедансная диаграмма

Импедансные диаграммы в электрохимических системах [c.349]

Импедансные спектроскопические исследования соединений SrBi5FeTi40ig подтвердили наличие у него диэлектрических, ферроэлектрических и ферромагнитных свойств [170]. Образцы готовили методом двойного спекания. Параметры кристаллической решетки следующие а = 5,417, в = 5,450, с = 48,117 А. Импедансные и д и-электрические измерения выполнены в интервале температур от комнатной до 60 °С. Проводимость измерена в зависимости от температуры и частоты. Комплексные импедансные диаграммы близки к полукруговым в высокотемпературной и высокочастотной областях. Импедансные данные ниже 500 °С определяются релаксацией дебаевского типа. Температура Кюри составляет 580 °С. При комнатной температуре образцы проявляют слабые ферромагнитные свойства. [c.265]

Рис. 24.6. Частотно-зависи.мый импеданс пары графитовых электродов, погруженных в 100 мМ раствор K l. Из.ыерения проводили на аппаратуре, описанной в работе [94], при модулирующем напр.чжении 50. иВ. а модуль импеданса и фазовый уго.и как функция логарифма частоты 6 импедансная диаграмма. Показано, как определить значение и R i по той части графика, которая представляет собой полуокружность [Ю6[. В классической системе Варбурга низ-кочастотгшя (правая) часть импедансной кривой должна образовывать с осью абсцисс угол 45°. По характеристической частоте для полуокружности можно найти значение Сл, из

На описанном принципе основан полуавтомат ПИ-2, который выявляет дефекты склейки обшивки и пенозаполнителя, а также дефекты заполнителя в клеевых сотовых панелях. В комплект его входит импедансный дефектоскоп ИАД-2, сканирующее уст-юйство с самописцем и электронная приставка самописца "I K-1B. По поверхности контролируемого изделия сканирующее устройство перемещает датчик, который движется по траекториям, представляющим собой ряд отрезков параллельных прямых. Результаты контроля записываются на электротермическую бумагу в форме диаграммы. На основании этой диаграммы, представляющей собой вид изделия в плане, можно судить о числе, размерах, форме и расположении дефектов. На диаграмме в виде световых пятен видны дефекты и, кроме того, может быть зафиксирована структура сотового заполнителя. [c.145]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология