Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Отклонение от параллельности осей или прямых

    Перпендикулярность осей посадочных мест под втулки цилиндров и вертикальную передачу к оси опор верхнего коленчатого вала проверяют вертикальным мостиком 3. На конце мостика установлено зеркало, обе отражающие плоскости которого строго параллельны. Ось опор коленчатого вала принимают за базу и от нее измеряют отклонения осей цилиндров от прямого угла. Положение вертикального мостика, закрепляемого в расточках горизонтальных листов блока, контролируют взаимным расположением вертикальных линий отраженного и окулярного перекрестий в окуляре автоколлиматора 7. Отсчет неперпендикулярности проверяемого места под втулку цилиндра или вертикальную передачу берут по вертикальному лимбу автоколлиматора 7 в угловых значениях. Алгебраическая полусумма двух отсчетов одного и того же посадочного места при двух положениях вертикального мостика (через 180°) является неперпендикулярностью оси отверстий к оси опор вала в угловых секундах. Для большей точности измерения выполняют двойной отсчет. Прямолинейность привалочных плоскостей втулок цилиндров и блока и их параллельность оси опор коленчатого вала проверяют аналогично, используя зеркальную марку 5 и зеркальный мостик 2. [c.71]


    В 1862 г. де Шанкуртуа попытался объединить все элементы иа основе их атомных весов. Он расположил элементы на винтовой линии под углом 45° на поверхности цилиндра. Параллельно основанию цилиндра были проведены линии, отвечающие значениям атомных весов от О до 128. Направляющая окружность цилиндра была разделена на 16 частей (а соответствии с атомным весом кислорода, который был принят за 16). При таком расположении сходные элементы часто попадали на одну и ту же вертикальную прямую. Так, на одной линии оказались 5, 5е, Те, а также Ыа, К. Однако было и много отклонений в сходстве элементов, находящихся на одной вертикальной линии. [c.81]

    Рассуждения о проверке адекватности в данном примере — результат недоразумения. Эта ошибка вообще широко распространена в практических приложениях. Дело в том, что если число различных (т. е без учета параллельных) опытов совпадает с числом коэффициентов в уравнении, как в данном примере, где число опытов равно 4, как и число коэффициентов, то проверка адекватности становится невозможной, поскольку все вычисленные значения отклика совпадают с экспериментальными (с точностью до ошибок округления). Так, если мы через две точки проведем прямую, то никаких отклонений от этой прямой мы по этим точкам не обнаружим. В таких случаях говорят, что число степеней свободы для проверю адекватности равно нулю. — Прим. ред. [c.205]

    Если исследуемый контур плоский, то мы получим фронтальные проекции ряда параллельных прямых, лежащих в одной плоскости и пересекающихся с прямой ММ. Построив горизонтальные проекции всех отмеченных точек, проведем прямые через точки 1, 2х, З1 и Л], В1, С. Если эти прямые при их продолжении пройдут через точки 0, Е, Е и при этом будут параллельными, то это означает, что все показанные прямые в пространстве лежат в одной плоскости. Отклонение какой-либо прямой от параллельности показало бы в данном случае, что исследуемый контур в одной из точек А, В или С) отклоняется от плоскости. В рассматриваемом случае (рис. 19, в) эти иря-мые параллельны, но на продолжение прямой С1< 1 не попала точка Ох. Следовательно, на участке точки О в пространстве контур отклонился от плоскости, в которой лежат остальные его участки. Для исправления неплоскостности необходимо, чтобы точка О заняла другое положение, например соответствующее горизонтальной проекции О .  [c.16]

    Различным значениям скорости притока субстрата Т соответствует семейство прямых, параллельных оси абсцисс. График функции Т(с) может иметь две или одну точку пересечения с прямой а или не иметь ни одной. Это соответствует наличию двух или одного стационарных состоянии в системе или отсутствию таковых. При наличии двух стационарных состояний в системе особая точка 01 является устойчивой, а а2 — неустойчивой. В этом нетрудно убедиться путем следующих рассуждений. Пусть в результате некоторого отклонения Да < О от стационарной точки 01 величина а стала меньше стационарного значения. В области а < 01 скорость притока субстрата больше скорости его оттока (а > г ) и, следовательно, переменная а будет расти, приближаясь к 01. Если же отклонение от стационарной точки Да > О, скорость расхода субстрата больше его притока и а будет уменьшаться, вновь приближаясь к стационарному значению 01. Таким образом, при любом отклонении от стационарного состояния 01 система будет в него возвращаться и, следовательно, состояние устойчиво. Аналогичные рассуждения в отношении стационарной точки 02 приводят к выводу, что она имеет неустойчивый характер. Этот вывод легко сделать, определив знак производной по <7 правой части функции /(а, а) выражения (П1.1.10), который отрицателен для о < Скр и положителен для с > Окр (см. исследование на устойчивость стационарного состояния для одного уравнения — 2, гл. I) [c.67]


    На рис. 195 показала зависимость р от d (или 1//г), из которой можно определить ро и /о- Поскольку произведение ро/о зависит только от концентрации электронов проводимости и их импульса на поверхности Ферми, графики р как функции l/d (или К), полученные из измерений при различных температурах, должны быть параллельными прямыми линиями. Однако во многих случаях отмечены значительные отклонения [3]. Они свидетельствуют о том, что электрон-фононное рассеяние в тонком образце является более эффективным релаксационным механизмом, чем в объеме. [c.492]

    До сих пор мы обсуждали интерферограммы, состоящие из полос, сформированных на бесконечности. Но информацию о разности хода можно также получать другим способом, во многих отношениях более удобным. Если вторую пластину Савара, повернутую на 90° относительно первой, поместить в области схождения или расхождения третьей линзы (ячейка заполнена раствором однородного состава), то такая система даст в плоскости изображения набор вертикальных и параллельных конечных полос [46]. Ширина этих полос зависит от фокусного расстояния третьей линзы - чем короче фокусное расстояние, тем чаще расположены полосы. Для получения строго прямолинейных полос необходимо склеить две полуволновые пластины Савара, как описано в [47, 35]. Типичная интерферограмма диффузионной системы, полученная двойной пластиной Савара, показана на рис. 6. Оптическая разность хода между соседними полосами соответствует разности хода в одну длину волны. Зафиксировав некоторую прямую основную полосу, из интерферограммы можно легко определить ДР(г )/А. Для этого измеряют отклонение полосы от зафиксированного положения и делят его на расстояние между соседними параллельными полосами. Преимущество метода состоит в том, что он позволяет проследить частичный сдвиг полосы со временем, тогда как система с одной пластиной Савара ограничивает его целым числом полос. Несмотря на отличные возможности этого метода для точных измерений, о нем опубликовано сравнительно мало работ [41, 48]. [c.154]

    Результаты химического анализа в большинстве случаев полезно дополнить спектральной корректировкой, основанной на прямолинейности градуировочного графика, построенного в параметрах lg и lg С. Для этой цели наносят результаты измерения lg для каждого эталона (разумеется, наносится среднее из многократных измерений) на ось ординат, а соответствующие значения lg по данным анализа—на ось абсцисс графика. Тщательно взвешивая степень надёжности анализа каждого эталона, проводят наиболее вероятную прямую, являющуюся градуировочным графиком. Снося затем параллельно оси абсцисс точки, отклоняющиеся от прямой точно на прямую, получают корректированное значение 1 С для каждого эталона. Разумеется, интервал концентрации С не должен быть при этом слишком велик, чтобы иметь уверенность в существовании прямолинейного графика. Надо проявлять также осторожность в подобном укладывании на прямолинейный график эталонов, сколько-нибудь заметно отличающихся по своему составу и технологии изготовления от остальных эталонов, так как отклонение эталонов от графика может быть в этом случае реальным, а не обусловленным ошибками химического анализа. [c.216]

    Увеличение удельной поверхности и структуры сажи связано с повышением модуля резин, причем влияние удельной поверхности на изменение модуля проявляется сильнее для более структурных саж. Кривая, характеризующая сажи со структурным индексом 100, асимптотически приближается к прямой, параллельной оси абсцисс, особенно в случаях смесей из НК. Это отклонение объясняется тем, что в данной области единственным типом дисперсной сажи является газовая канальная, отличающаяся от других исследованных саж способом получения и протеканием процесса вулканизации. Влияние удельной поверхности саж на повышение модуля резин соответствует данным о зависимости абсорбции масла от удельной поверхности саж (см. рис. 6). [c.68]

    Многоэлементные спектрометры прямого счета могут давать большое число аналитических данных для одного образца. Поэтому при массовом анализе на обработку результатов измерений затрачивается значительное время. В таких случаях автоматическая обработка данных является экономически целесообразной. Лоу и Мартин [2] описывают вычислительную систему для обработки результатов, получаемых на квантометре фирмы "ARL". Эта система предназначена для лаборатории, систематически выполняюшей анализы металлов в образцах нефти. Квантометр имеет 25 аналитических каналов и может контролировать 51 аналитическую линию. Результаты регистрируются на самописце фирмы "Leeds and Northrup", преобразование аналогового сигнала в цифровой код осушествляется с помощью шифратора, соединенного с самописцем. Вычислительная система включает также дистанционно управляемый пробойник перфокарт (IBM 526), маркер бумажной ленты и специальный выносной пульт с цифровой индикацией. Обработка данных, поиск и расчет выполняются на вычислительной машине IBM 360Д5. Выбор группы исследуемых элементов осуществляется с помощью соответствующего переключателя на контрольной панели. Предус.мотренный набор таких групп охватывает основные аналитические программы лаборатории. Система цифровой индикации сканирует по длинам волн выбранной комбинации элементов, выражает в цифровом виде отклонение самописца для каждого из них и печатает полученные значения на специальной карточке, бумажной ленте или на той и другой. Сканирующий механизм включает два вращающихся шаговых переключателя на 26 точек. Один из них, последовательный переключатель каналов, ступенчато проводит квантометр по всем его 25 каналам. Другой контролирует последовательность регистрации данных. Сигнал самописца может быть представлен как в кодированном, так и в цифровом (3 разряда) виде (000-999 для отклонения самописца О - 100%). Система индикации управляется релейной схемой время прохождения отраженного пучка регистрируется частотомером-хронометром с погрешностью 0,1 с. При замыкании контактов хронометра измеренное время наносится на перфокарту или маркируется на ленте. Параллельно серводвигателю самописца, перемещающему перо, подсоединено чувствительное реле, включающее [c.176]


    Из рис. 40 видно, что по мере повышения температуры отклонения уменьшаются и изотермы приближаются к теоретической прямой, параллельной оси абсцисс (см. рис. 33). Наоборот, при очень изких t отклонения очень существенны уже для давлений в несколько атмосфер (измерения К а м м е р л и н г-О н-н е с а). [c.163]

    Отметим, что ни одно из уравнений (10.13) — (10.22) не является симметричным относительно а и у, и поэтому регрессия х на у должна давать такую наилучшим образом проведенную прямую, которая отличается от соответствующей прямой для регрессии у на X. Эта асимметрия заложена в исходном допущении о том, что у (но не х) измеряется с ошибкой, т. е. отклонения от прямой измеряются в направлении, параллельном оси у, а не перпендикулярном прямой, как можно было бы полагать. Может показаться, что измерение ошибок в направлении, перпендикулярном прямой, позволяет избежать необходимости в выборе допущения о том, какая переменная измеряется с ошибкой. Однако на деле такой способ измерения ошибки создает гораздо большие трудности, не способствуя решению проблемы помимо того что при этом усложняются алгебраические выкладки, проведенная оптимальным образом прямая изменяется в зависимости от того, в каких единицах измеряются X и у, потому что длины отрезков, проведенных на графике, имеют разумную размерность только в том случае, если они параллельны той или иной оси. [c.243]

    Основными видами отклонений расположения профилей, осей (или линий) являются отклонение от параллельности прямых в плоскости — разность Д наибольшего и наименьшего расстояний между прямыми на длине нормируемого участка (рис. 11,о)  [c.448]

    В случае моноклинной системы кристалл устанавливают на гониометрической головке по оси моноклинности Ь, при этом, если ось а вертикальна, на рентгенограмме получаются развертки плоскостей Нкп, если ось с вертикальна — развертки плоскостей пк1, где п — номер слоевой линии. Для триклинных кристаллов одну ось обратной решетки устанавливают перпендикулярно пучку, затем фотометодом находят отклонение одной из прямых осей от положения, параллельного пучку, и, если это необходимо, изменяют юстировку. [c.106]

    Замена водорода в КНа-грунне амина на алкильную группу может рассматриваться, таким образом, как форма пространственного затруднения сольватации, чему, естественно, сильно противодействует индукционный эффект алкильной группы. Рассмотрим теперь то влияние, которое оказывают на стерическое экранирование другие структурные изменения. По данным Холла [161], если отложить значения большого числа неароматических аминов против фактора Тафта (—то получатся три параллельные прямые линии, соответствующие первичным, вторичным и третичным аминам. Этот результат подкрепляет указанное выше предположение о различной сольватации различных классов аминов. Было найдено, что третичные амины дают меньшее отклонение от прямой линии, чем первичные или вторичные амины, и что отклонения от линейной зависимости среди первичных и вторичных аминов могут быть в первом приближении скоррелированы с увеличением стерического экранирования. Было сделано заключение, что первичные и вторичные амины чувствительны к стерическим эффектам, в то время как третичные — не чувствительны. Поскольку для изученных аминов не отмечается больших колебаний в значениях рА , приписываемых стерическим эффектам, было бы желательно придерживаться более осторожного вывода, согласно которому первичные и вторичные амины более чувствительны к стерическому экранированию сольватации, чем третичные амины. Как следует из рассмотренной выше работы Уэпстера, третичные амины не лишены чувствительности к влиянию стерического экранирования. Действительно, при значительном усилении экранирования значения рК третичных аминов падают весьма быстро. В табл. 6.9 (стр. 394) приведено несколько других примеров этого эффекта. [c.392]

    Зависимость М (р — pf)[2RTGL от G графически должна быть прямой с наклоном Ао, пересекающей ось ординат в точке i/Bq. Этот график, полученный в [51] для потока через искусственный графит, показан на рис. 63. Линейная зависимость, предполагаемая уравнением (П-51), нарушается в области малой скорости потока. В используемой в работе [51] аппаратуре среднее давление и средняя скорость газа возрастали параллельно. Наблюдаемые отклонения при низкой скорости были, таким образом, объяснены эффектом скольжения. [c.100]

    Стандарт предусматривает тройную проверку правильности определения коэффициента размолоспособности. Во-первых, суммарные потери при рассеве не должны превышать 2 % массы взятой навески. Во-вторых, обязателен контроль правильности ситового анализа. Этот контроль осуществляют расчетом значений i ]4q, Д125 и Д90 и нанесением их вместе с R200 график зависимости Igi от Igx. Правильно проведенному ситовому анализу в таких координатах соответствует прямая линия значительное отклонение какой-либо точки от прямой свидетельствует о дефекте сита или некачественно проведенном рассеве. В-третьих, как обычно, проводят не менее двух параллельных определений значения для одной и той же пробы топлива. Расхождение между двумя результатами не должно превышать 4 %. [c.92]


Смотреть страницы где упоминается термин Отклонение от параллельности осей или прямых : [c.17]    [c.212]    [c.308]    [c.12]    [c.163]    [c.51]    [c.24]    [c.448]   
Справочник технолога-машиностроителя Том 2 (1985) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Отклонения



© 2024 chem21.info Реклама на сайте