Параметры призменных и дифракционных приборов

Параметры призменных и дифракционных приборов [c.68]

ПАРАМЕТРЫ ПРИЗМЕННЫХ И ДИФРАКЦИОННЫХ ПРИБОРОВ [c.69]

В методе измерения отраженного излучения при измерении в качестве сигнала сравнения используют отраженный луч, т. е. излучение 1гь аналитического источника света, не разложенное в спектр (рис. 6.14,6). В качестве сигнала 1гь в призменных приборах используют свет, отраженный от грани призмы, обращенной в сторону коллиматорной линзы, а в дифракционных приборах — спектр нулевого порядка (разд. 6.5.2). Точность этого способа определения Сг, как основанного на измерении относительной интенсивности, обычно составляет 1% от искомой концентрации с, и поэтому удовлетворяет требованиям практики. Это означает, что погрешность определения Сг, равная 1%, т. е. погрешность учета изменения концентрации основного элемента, приводит к погрешности определения параметра / = с,/сг, много меньшей 1%. [c.233]

Абсолютное расстояние между линиями зависит, конечно, от линейной дисперсии спектрального аппарата, но относительные расстояния для небольших участков спектра остаются примерно постоянными, даже если один из спектров получен на дифракционном, а другой на призменном приборах (рис. 132). Число и интенсивность линий (абсолютная и относительная) в свою очередь зависят от параметров спектрального аппарата и источника света. Поэтому необходимо получать спектр примерно в тех же условиях, в которых был получен спектр, приведенный в атласе, особенно, если в нем довольно много линий. [c.223]

Величина /// у используемых в настоящее время дифракционных приборов имеет порядок VgQ. Таким образом, величины световых потоков в интерферометрах на два порядка превосходят величины световых потоков в дифракционных спектрометрах. При эквивалентных геометрических параметрах и при заданном разрешении интерферометры имеют в отношении светосилы огромное преимущество перед спектрометрами с решеткой, которые в свою очередь более предпочтительны, чем призменные приборы. Подробному обсуждению сравнительных достоинств интерферометрии и дифракционной спектроскопии посвящено несколько работ в одном из номеров журнала Applied Opti s I8, 497—705 (1969)]. [c.54]

Для указанных выше параметров АЛфп = 0,0125 нм. Если в изучаемом спектре существуют линии, разнесённые на расстояние большее, чем постоянная эталона, то получаемые от них кольца будут перенакладываться друг на друга, что сделает невозможным измерение изотопных сдвигов в исследуемой аналитической линии. В простейшем случае для выделения узкой области спектра с шириной, меньшей, чем АЛфп, может быть применён фильтр, но чаще всего эталон скрещивают с призменным или дифракционным спектральным прибором. [c.102]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология