Дифракционные методы анализа

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА 353 [c.353]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА В ОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ [c.352]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА 355. [c.355]

Электронная микроскопия. Методы электронной микроскопии также относятся к дифракционным методам анализа структуры. Изучаются дифракционные картины, возникающие при рассеянии пучков ускоренных электронов на частицах дисперсной фазы. В настоящее время увеличение достигает 10 раз. Электроны— микрочастицы, подчиняющиеся законам квантовой механики. Длина волны электронов, прошедших ускоряющую разность потенциалов и, определяется следующей формулой [c.102]

В целом, по совокупности всех параметров, рентгеноструктурный анализ имеет ряд несомненных и существенных преимуществ перед двумя другими дифракционными методами анализа кристаллической структуры. [c.173]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА [c.357]

Кристаллография изучается прежде всего как первый и основополагающий раздел физики твердого тела, знание которого является обязательным для изучения всех других курсов металлофизического цикла, начиная с курса металлографии и кончая дисциплинами специализации. Главное внимание концентрируется на вопросах структурной кристаллографии, поскольку курс в целом направлен на овладение дифракционными методами анализа для изучения структуры металлов и сплавов. В кристаллохимии рассматриваются только самые общие закономерности, достаточные для анализа типичных структур металлов, твердых растворов на их основе и некоторых химических соединений (или промежуточных фаз сплавов) либо интересных в методическом отношении (для демонстрации кристаллографических [c.7]

Рассеяние электронов без изменения энергии при прохождении через вещество лежит в основе дифракционного метода анализа атомно-кристаллической структуры и методов просвечивающей электронной микроскопии, включая методы дифракционной электронной, микроскопии. [c.431]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА [c.333]

ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА 337 [c.337]

Все методы, основанные на кинетических свойствах частиц, позволяют определять размеры ядер дисперсных частиц вместе с адсорбционно-сольватными слоями. Дифракционные методы анализа связаны с различием рассеивающей илотности дисперсной фазы и дисиерснонной среды и, по-видимому, должны дать возможность раздельного определения размеров ядра и адсорбционно-сольватного слоя. Однако такие работы не ироводились. В общем случае наиболее полная информация будет получена только ири комбинировании различных методик. [c.105]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология