Структура идеальной сетки и методы ее определения

С целью определения количественных характеристик степени графитизации графита с грубыми дефектами были разработаны различные рентгеновские методы исследования 530]. Несмотря на то что таким способом можно установить некоторые полезные эмпирические закономерности, истинная количественная оценка дефектов может быть произведена только на основе учета интенсивности рентгеновских отражений, когда структура не слишком отличается от почти идеального графита. Например, все виды кристаллического углерода имеют некоторые характерные черты структуры графита [295]. В большинстве случаев на рентгенограммах углерода с весьма неупорядоченной структурой наблюдаются диффузные кольца, приблизительно соответствующие линиям графита (002) и (100). Это указывает на присутствие гексагональной сетки углерода в параллельных слоях, но не везде правильным образом ориентированной. Помимо этих отражений (002), в таком неупорядоченном углероде обнаруживаются М-линии и отсутствуют линии кЫ (/ 0). Если имеет место процесс графитизации при нагревании, то его можно обнаружить по появлению и усилению отражений М/ (I = 0) (см. также данные Касаточкина и Кавер01ва [521]). [c.40]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология