Метод блуждающего пятна

В электрических разрядах искровое пятно блуждает по поверхности образца, задерживаясь преимущественно на границах зерен микрокристаллов или на небольших включениях. Это может привести к систематическим погрешностям, обусловленным структурой поверхности, так как последовательность нескольких искровых разрядов может не дать среднестатистического значения, характеризующего состав поверхности. Возникает также проблема воспроизводимости. Увеличение числа искровых разрядов не приводит к соответствующему увеличению воспроизводимости, поскольку действие отдельных искровых разрядов взаимосвязаны между собой. При лазерном анализе испарение происходит из области лазерного пятна, определяемого только фокусировкой излучения, а не свойствами образца. Если в результате анализа за один импульс получается не очень хорошая воспроизводимость (она может составлять 10% в соответствии с величиной относительного стандартного отклонения), то ее можно повысить практически до любого требуемого значения пугем повторного проведения анализа на еще не облученной части поверхности. Так как в этом случае эксперименты проводят независимо друг от друга, к их результатам применимы статистические методы расчета для повышения воспроизводимости. [c.124]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология