Дифракция Френеля электронных волн III

Швы у краев. Особенно частые неправильные интерпретации тонкой структуры некоторых объектов вызываются процессом экстрафокального изображения в кристаллических образцах . Их нельзя избежать даже при очень точной регулировке, если размеры образца в направлении, параллельном оптической оси, относительно велики. Такие швы ошибочно описывались, например, в качестве слоев продуктов реакции на поверхности, сконденсированных осадков у углов и краев, кристаллических игл, ориентированных параллельно последним, и вещественных нитей молекулярной толщины. Вследствие очень малой апертуры радиации электронного микроскопа отдельные частицы кажутся окруженными отчетливым швом в том случае, когда они лежат в пределах траектории падающих электронных волн. Этот шов изменяется по ширине и яркости в зависимости от р1асстояния частиц от фокальной плоскости и от апертуры радиации. Эти швы отчасти объясняются дифракцией Френеля [c.281]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология