Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Электронная дифракция

    Судя по данным электронной дифракции [71] и некоторым другим, циклобутановое кольцо также неплоское  [c.43]

    Наиболее удобными методами изучения кластеров (НгО) (л>2) являются различные варианты масс-спектроскопической техники [363]. Естественно, что чем ниже температура эксперимента, тем более крупные кластеры (с большим п) удается наблюдать. Так, удалось зарегистрировать в спектре пик, соответствующий п= [368] и /г = 36 (температура 77 К) [369]. При температуре жидкого азота были зарегистрированы положительно заряженные кластеры с л от 1 до 40 [370]. В работе [371] удалось наблюдать отрицательно заряженные кластеры, содержащие вплоть до 50 молекул воды. В этой работе была сделана попытка изучить структуру этих кластеров методом электронной дифракции. Авторы приходят к выводу, что по своей структуре эти кластеры не являются фрагментами кристаллов льда, а аморфны. Были также оценены дипольные моменты кластеров с л от 2 до 6 дипольные моменты кластеров с п = = 3- 6 близки к нулю, что, по мнению авторов, свидетельствует о циклическом характере их структуры [361]. Много экспериментальных данных о существовании и свойствах кластеров, состоящих из нескольких десятков молекул воды, приводится в работе [372]. [c.133]


    В 1927 г. Дэвиссон и Джермер продемонстрировали, что при прохождении металлической фольги электроны дают точно такую же дифракционную картину, как и рентгеновские лучи, и что соотношение де Бройля правильно определяет длину волны пучка электронов (рис. 8-16). В настоя-шее время электронная дифракция превратилась в распространенный способ исследования строения молекул. [c.355]

    Исследования структуры смазочной пленки методом электронной дифракции подтвердили результаты, полученные при измерении трения. Первый молекулярный слой жирных кислот ориентирован своими цепями приблизительно нормально к поверхности. Последующие пленки на монослое обычно кристаллизуются в присущую жирным кислотам моноклиническую структуру со значительным углом наклона углеводородных цепей к поверхности. [c.151]

    Фатов М.В. Модель структуры ГЦК-углерода (Расчет распределения кристаллического потенциала по картине электронной дифракции моделирование) .......................................................................198 [c.16]

    Впервые проведено комплексное исследование ГЦК углерода методами Оже-спектроскопии, электронной дифракции, просвечивающей электронной микроскопии с атомным разрещением, КР-спектроскопии, ИК Фурье-спектроскопии, Фурье-синтез кристаллического потенциала, свидетельствующие о том, что эта фаза - новая фаза углерода. Химический анализ показал, что ГЦК-фаза является чисто углеродной. Рассчитанное по данным электронной дифракции распределение кристаллического потенциала внутри элементарной ячейки кристалла показало, что атомы углерода находятся только в позиции ГЦК. [c.178]

    Модель структуры ГЦК-углерода (Расчёт распределения кристаллического потенциала по картине электронной дифракции моделирование) [c.198]

    Методом электронной дифракции установлено, что при трении кристаллическая структура поверхностного слоя металла превращается в аморфную. [c.667]

    Точность определения периодов кристаллической решетки по электронной дифракции по сравнению с рентгеновской дифракцией невелика. Однако преимуществом электронографии является то, что при помощи ее можно получить информацию для кристаллов вещества размером 2—20 нм и их субмикроколичеств. Это же предъявляет высокие требования к чистоте проведения анализа, так как мельчайшие загрязнения на поверхности объекта дают собственную дифракционную картину. Электронографическим анализом решаются те же задачи, что и рентгенографическим анализом определение фазового состава и кристаллической структуры вещества, его текстуры, ориентировок и т. п. Метод электронографии применяют для анализа тонких [c.102]


    Главный тезис квантовой механики — микрочастицы имеют волновую природу, а волны — свойства частиц. Применительно к электрону можно сказать, что это такое образование, которое ведет себя и как частица, и как волна, т. е. он обладает, как и другие микрочастицы, корпускулярно-волновым дуализмом (двойственностью). С одной стороны, электроны, как частицы, производят давление, с другой стороны, движущийся поток электронов обнаруживает волновые явления, например дифракцию электронов. Дифракция электронов широко используется при изучении строения вещества. [c.30]

    За последние годы при изучении металлов и сплавов стали широко применять электронный микроскоп. При этом готовят образцы очень тонкой фольги иногда это достигается путем травления поверхности образца кислотами до тех пор, пока, в фольге не образуются отверстия участки, прилегающие к отверстиям, могут быть настолько тонкими, что становятся проходимыми для пучка электронов. Структуру отдельных кристаллических зерен также можно определить по картине электронной дифракции, полученной при прохождении пучка электронов через отдельное зерно. Изменение структуры, происходящее с течением времени (не исключено, что и при повышении температуры), также можно обнаружить этим методом. [c.504]

    Современные промышленные электронные микроскопы позволяют наблюдать, изменяя величину токов в электромагнитных линзах, как изображение образца, так и картину электронной дифракции. [c.102]

    АНАЛИЗ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ [c.135]

    ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ АНАЛИЗА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ [c.135]

    ПРЕПАРИРОВАНИЕ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ АНАЛИЗА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ [c.136]

    Оптимальной толщиной образцов для анализа методом электронной дифракции является несколько сотен ангстрем. В связи с этим необходимо использовать специальные методы препарирования образцов (разд. 27.3), в том числе отливку тонких пленок из растворов, осаждение мелких частиц из разбавленных растворов, измельчение, дробление блочного полимера, получение реплик с отдельных участков поверхности, межфазную поликонденсацию и пиролиз. Необходимо отметить, что при электронном облучении в полимере образуются свободные радикалы, которые могут приводить к деструкции и/или сшиванию цепей. При повышении напряжения, применяемого для ускорения электронов, радиация становится не столь эффективной. С побочными эффектами электрон- [c.136]

    Анализ методом электронной дифракции 137 [c.137]

    ПРИМЕНЕНИЕ АНАЛИЗА ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ В ИССЛЕДОВАНИИ СТРУКТУРЫ ПОЛИМЕРОВ [c.137]

    Анализ электронной дифракции полезен при изучении монокристаллов (их формы и совершенства), степени кристалличности, текстурированных и неориентированных поликристаллических структур, вытянутых и ориентированных полимеров. [c.137]

    Вследствие коротких длин волн электронов, например 0,06 А при У = 40 кВ, максимальная интерференция электронов наблюдается при очень малых углах дифракции (9), благодаря чему на картине монокристалла, полученной с помощью анализа электронной дифракции, значительно больше рефлексов, чем при рентгеноструктурном анализе (рис. 29.2). [c.137]

    Благодаря высокой интенсивности электронной дифракции даже от очень тонких слоев становится возможным наблюдение дифракционной картины на флуоресцентном экране. [c.138]

    При применении анализа электронной дифракции продолжительность экспозиции для получения фотоснимка составляет несколько секунд, тогда как в рентгеноструктурном анализе это занимает несколько часов. [c.138]

    Количество образца, которое нужно для получения фотографии в анализе электронной дифракции, составляет примерно 10 г. Оптимальная толщина полимерного образца для электронной дифракции не превышает нескольких сотен ангстрем, тогда как при использовании рентгеноструктурного анализа образцы должны иметь толщину порядка нескольких миллиметров. [c.138]

    Анализ электронной дифракции можно сочетать с электронно-микроскопическим исследованием того же самого образца это дает возможность определить расположение элементарных ячеек и ориентацию молекулярных цепей внутри морфологических структурных единиц. [c.138]

    Типичная картина электронной дифракции, полученная с участка диаметром 0,7 мкм (рис. 1.34), представляет собой большое [c.51]

Рис.З Картина электронной дифракции с действием радИаЦИИ ЦеНТрОВ Рис.З <a href="/info/1893546">Картина электронной дифракции</a> с <a href="/info/1475333">действием радИаЦИИ</a> ЦеНТрОВ
    Молекулы веществ, повышающих маслянистость, могут содержать не только полярные, но и неполярные группы. Так, углеводороды ряда СяНая или СпНгп+г могут образовывать на металлической поверхности слои ориентированных молекул, которые адсорбируются вследствие поляризации. Эффект ориентации неполярных длинноцепных молекул может быть достигнут введением в смазочную композицию ПАВ в весьма небольшой концентрации. Молекулы, оринтированные наиболее сильно, образуют слой толщиной около 20 нм, при нагревании толщина этого адсорбционного слоя уменьшается вследствие дезориентации молекул. Температура критического перехода, соответствующая предельной смазочной способности, связана с температурой десорбции ПАВ. При температурах ниже точки плавления металла молекулы группируются на его поверхности так, что полярная группа находится в контакте с металлом, а другие группы направлены наружу. Методом электронной дифракции можно установить, как изменяется поверхность металла при трении, — кристаллическая структура поверхностного слоя превращается в аморфную. [c.130]


    Получение монокристаллической пленки карбина, создание атомной модели карбина, адекватной картине электронной дифракции [6]. [c.19]

    Имеющихся данных пока не достаточно для создания окончательной модели в связи с неоднозначностью метода анализа с помощью картин электронной дифракции. Но в сочетании с данными спектров Рамана и нанотвёрдости удалось выделить две наиболее вероятные структуры. [c.198]

    Причина этого явления неизвестна, и при анализе с помощью рентгеновых лучей не обнаружено каких-либо структурных изменений, Однако методом электронной дифракции было пока- [c.288]

    Для образца, термообработанного при 2000 С, характерна двумерная упорядоченность в пленке при 2600 °С пленка графитируется и она текстурирована. В то же время, по данным электронной дифракции, СУ в объеме изотропен. [c.213]

    Исследования облученных и пеоб-лученных образцов катализатора методами рентгеновской и электронной дифракции не выявили сколько-нибудь заметных различий. Однако каталитические испытания обнаружили значительное влияние облучения. Эти испытания проводились путем измерения превращения бутена-1 в цис- и транс-бутен-2 в поточных опытах при 65° С и атмосферном давлении. Вследствие постепенной дезактивации катализатора потребовалось исследовать зависимость степени превращения от продолжительности работы при различных объемных скоростях сырья с последующей экстраполяцией к моменту нуль. Таким путем находили начальную активность данного катализатора при данной объемной скорости сырья лолучепные данные представлены графически на рис. 20 как функция величины, обратной объемной скорости. Из кривых рис. 20 видно, что облучение заметно снижает каталитическую активность алюмосиликата в реакции изомеризации бутена-1. В качестве продуктов реакции образовались только цис- и транс-бутея-2, а при данной степени превращения бутена-1 отношение транс- к иис-бутену-2 в присутствии облученного и необлученного катализаторов оказалось одинаковым. Следовательно, облучение влияет только на активность катализатора, но никаких новых реакций при изомеризации бутена-1 в присутствии облученного катализатора пе наблюдалось. [c.160]

    В последние годы благодаря развитию экспериментальной техники, в первую очередь электронной микроскопии высокого разрешения и высокоразрешающих методов рентгеновской и электронной дифракции, стали возможными экспериментальные исследования структуры границ на атомном уровне. С помощью этих методов, а также ионной микроскопии получены убедительные доказательства справедливости кристаллогеометрических теорий для описания структуры границ. Эти выводы относятся как к межзе-ренным, так и к межфазным границам. [c.90]

    В ходе дегидрирования полиацетилена в присутствии металлического калия в условиях высоких давлений образуются гидрид калия и углеродная матрица, интеркалированная калием. Полученное соединение бурно реагирует с водой и минеральными кислотами. После обработки соляной или азотной кислотой были выделены коричневые пластинчатые кристаллы гексагональной формы (и1 мм, толщиной до 1 мкм). Картина электронной дифракции кристалла и распределение интенсивностей рефлексов отвечают гексагональной кристаллической решетке карбина с п.э.я. а=0,886, с=1,6 им. Полученные результаты свидетельствуют о том, что карбин способен образовывать интеркалированные соединения с щелочными металлами. [c.28]

    Это же относится и к расчетам электронных плотностей в пространстве молекул Хотя и существуют эксперименты по рассеянию электронов и электронной дифракции на молекулах, позволяющие опытным путем получить картину электронного распределения, причем визуаль- [c.333]

    Рассеяние под углами Брэгга приводит к появлению картин электронной дифракции, которые можно измерить либо в режиме отражения (ДМЭ, ДОБЭ), либо пропускания (ДПБЭ). Точечная картина (рис. 10.2-4) формируется, если вьшолняется условие Брэгга [c.327]


Смотреть страницы где упоминается термин Электронная дифракция: [c.284]    [c.66]    [c.136]    [c.136]    [c.138]    [c.18]    [c.56]    [c.28]    [c.30]    [c.30]   
Экспериментальные методы в химии полимеров - часть 2 (1983) -- [ c.2 , c.135 , c.138 ]

Экспериментальные методы в химии полимеров Ч.2 (1983) -- [ c.2 , c.135 , c.138 ]

Химия полисопряженных систем (1972) -- [ c.15 ]

Биофизическая химия Т.2 (1984) -- [ c.429 ]

Биогенный магнетит и магниторецепция Новое о биомагнетизме Т.2 (1989) -- [ c.225 , c.238 , c.239 , c.240 , c.241 , c.242 , c.252 , c.468 , c.486 ]

Химия привитых поверхностных соединений (2003) -- [ c.188 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Адсорбция дифракция медленных электроно

Анализ методом электронной дифракции

Анализ порошковых картин дифракции электронов

Вывод соотношения, описывающего дифракцию электронов на молекулах

Дифракция

Дифракция Френеля электронных волн III

Дифракция быстрых электронов в тонких пленках эфиров целлюлозы (совместно с Д. И. Лейпунской)

Дифракция медленных электроно

Дифракция медленных электроно для изучения поверхности

Дифракция отраженных быстрых электронов

Дифракция рентгеновских лучей и электронов на кристаллах, содержащих когерентные выделения

Дифракция рентгеновских лучей электронов

Дифракция электронов

Дифракция электронов

Дифракция электронов ацетальдегидом

Дифракция электронов бутадиеном

Дифракция электронов быстрых

Дифракция электронов в режиме сканирования

Дифракция электронов в ряду дифенила

Дифракция электронов и геометрическая изомерия

Дифракция электронов и конформация

Дифракция электронов и нейтронов

Дифракция электронов и формирование изображения

Дифракция электронов медленных

Дифракция электронов на кристаллической решетке

Дифракция электронов на пленках

Дифракция электронов под малыми углами

Дифракция электронов производных циклогексана

Дихлорэтилен дифракция электронов

Измерение электронной дифракции от твердого тела с помощью электронного микроскопа

Интенсивность дифракции электронов

Исследование дифракции рентгеновских лучей с большими углами рассеяния и дифракции электронов на железосодержащих ядрах ферритина и их аналогах

Исследование кристаллов и газообразных молекул методом дифракции электронов

Исследование методом дифракции электронов с низкой энергией адсорбции кислорода и образования окисла на грани

Исследование минеральных частиц биогенного происхождения методами просвечивающей электронной микроскопии и электронной дифракции некоторые рекомендации. Кеннет

Исследования дифракции медленных электронов

Коллоиды, электронная дифракция

Кристаллы и дифракция электронов

МЕТОД ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ (Перевод В. П. Шибаева)

Математическое описание дифракции электронов

Медленных электронов дифракция, использование при определении чистоты

Медленных электронов дифракция, использование при определении чистоты верхности

Метод дифракции медленных электронов

Новый метод изучения дифракции электронов и перспективы его использования в каталитических исследованиях Джермер Аппаратура

Оборудование для анализа методом электронной дифракции

Определение момента инерции PF3 из данных по дифракции электронов

Оптическая дифракция, анализ электронно-микроскопических фотографий

Основные принципы дифракции электронов

Полиоксиметилен, дифракция электроно

Полиэтилен приготовление образцов в методе дифракции электронов

Препарирование образцов для анализа методом электронной дифракции

Применение анализа электронной дифракции в исследовании структуры полимеров

Применение дифракции электронов и нейтронов в структурном анализе

Рентгеновская дифракция функция электронной плотности

Рентгеноструктурный анализ и дифракция электронов

Рентгеноструктурный анализ, дифракция нейтронов, дифракция электронов

СТРУКТУРА ПОЛИМЕРОВ Дифракция электронов тринитроцеллюлозой (совместно с В. Карповым и Пинскером)

Сравнительное рассмотрение дифракции электронов и рентгеновских лучей

Структурный анализ дифракция электронов в газовой фаз

Фриделя закон при дифракции электронов

Фурье-преобразование при описании дифракции электроно

Электронная дифракция амплитудный контраст

Электронная дифракция артефакты

Электронная дифракция в графит

Электронная дифракция интерпретация

Электронная дифракция карты

Электронная дифракция контрастирование

Электронная дифракция малоугловое электронное рассеяни

Электронная дифракция математическое описание

Электронная дифракция определение структуры молеку

Электронная дифракция приборы

Электронная дифракция приготовление образцов

Электронная дифракция пурпурной мембраны

Электронная дифракция разрешение

Электронная дифракция распределение

Электронная дифракция расчет

Электронная дифракция угловая апертура объектива

Электронная дифракция фазовый контраст

Электронная дифракция формирование изображения

Электроны дифракция пучка

спектры дифракция электронов



© 2025 chem21.info Реклама на сайте