Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Поверхность отклика построение сечения

    При исследовании уравнений регрессии экспериментаторы часто строят сечения поверхности отклика. При этом могут быть получены наборы кривых в системе координат у — Х) для фиксированных значений остальных факторов, см. рис. 3.1, 3.2 или сечения, перпендикулярные оси параметра оптимизации (см. рис. к главе 6). Способы построения и использования сече- [c.120]

    Порядок построения следующий сначала строят двумерное сечение поверхности отклика, соответствующее содержанию компонента Л, равному 33,0%, затем двумерные сечения по верхности отклика, описываемой канонической формой (5.43). [c.130]


    При изучении формы поверхности отклика в ряде случаев можно обойтись без составления математического описания функции отклика, используя приемы контурно-графического анализа. Сущность его состоит в определенном расположении опытов в факторном пространстве, получении дополнительной информации путем линейной интерполяции экспериментальных данных и построения на факторной плоскости (или на двумерных сечениях) линий постоянного уровня функции отклика. [c.109]

    Рассмотренной методикой можно пользоваться и при построении двумерных сечений поверхности отклика. Для этого выбирают два фактора, а значения всех остальных факторов поддерживают постоянными при проведении опытов. [c.110]

    Рассмотренной методикой можно пользоваться и при построении двумерных сечений поверхности отклика. [c.43]

    Проверка уравнений на адекватность производилась по критерию Фишера [4]. Полученные уравнения регрессии дают возможность геометрически представить поверхность функций отклика в выбранном участке факторного пространства. Произведя сечения поверхностей функций отк.яика плоскостями с постоянными значениями переменных, получили ряд ЛИ1П1Й П<К Л ОЯННОГО уровня, по которым можно судить о характере поверхиостп отклика и о степени влияния отдельных факторов на функции отклика. Данные для построения сечений новерхно-стей функций отклика в виде графиков (рис. 2) получены путем решения уравнений иа ЭЦВМ Наири-2 . [c.14]


Смотреть страницы где упоминается термин Поверхность отклика построение сечения: [c.14]    [c.50]   
Статистические методы оптимизации химических процессов (1972) -- [ c.120 , c.121 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Отклик

Сечение

Сеченов



© 2024 chem21.info Реклама на сайте