Двумерные сечения

На основании уравнений были построены двумерные сечения сферы поверхности отклика О и -с р от двух параметров [7] и 2 (рис. 2). [c.67]

На основании этих уравнений были построены двумерные сечения сферы поверхности отклики и -,р от двух параметров Xi и х при д з = — 1 (рис. 3). [c.69]

Рис. 5.2. Схематический вид двумерного сечення ППЭ в координатах и постоянной третьей координате =

Следствием регулярности структуры кристалла является его анизотропия, т. е. неодинаковость свойств в различных направлениях. Так, в направлениях bi, Ьз и Ьз на рис. IV. 8 различны средние расстояния между частицами различны плотности частиц для плоскостей параллельных оси с, двумерными сечениями которых являются bi, 62, 63 и др. [c.175]

Рнс. IV. 8. Двумерные сечения плоскостей, пров енных через узлы решетки [c.175]

В трехмерном пространстве координат п , п , квантовые состояния частицы изображаются точками, которым отвечают целочисленные положительные значения составляющих (точки определяют положение конца вектора я). На рис. 21 изображено двумерное сечение рассматриваемого пространства. Квантовым состояниям в двумерном случае отвечают узлы квадратной решетки, в трехмерном пространстве — узлы кубической решетки, причем рассматривается только положительный октант пространства. При масштабе, выбранном на рис. 21, на каждый узел приходится единичный объем число узлов, расположенных в некоторой области пространства, приближенно равно объему этой области, если только область, выбрана достаточно большой и неправильностями на границе области можно пренебречь. [c.154]

Линией равного уровня называется кривая в двумерном сечении пространства, значение функции на которой — константа. [c.138]

Рассмотрены принципиально новые решения, обеспечивающие доступ к такой сложной конструкции, какой является четырехмерная пространственная призма состояния четверной системы. Это позволяет построить основные типы четверных систем в классических трехмерных изо-и политермических разрезах (аналоги тройных систем) и их двумерных сечениях. Обоснована возможность экспериментального исследования и построения реальных четверных диаграмм состояния на строго научной теоретической основе. [c.504]

Именно такая поверхность (или пространство при от>2) определяет сложность расчета и время, необходимое для нахождения наилучшей оценки параметров и, следовательно, выявления того, какие изменения основного алгоритма метода наименьших квадратов будут наиболее оптимальными. Отметим, что в случае многомерного пространства, точнее при т>2, мы можем рассматривать его двумерные сечения. [c.88]

Рис. 2, Линии равных значений коэффициентов теплопередачи в двумерных сечениях а — при Хд = 0 6 — при Х2 = 0 в — при )=0.

Для структуры а-МпОа построено двумерное сечение (хуо) трехмерного ряда электронной плотности на основании 59 значений структурных амплитуд. На сечении (см. рисунок) прекрасно выявляются атомы марганца и кислорода. Интересно появление максимума в средине ячейки, соответствующего внедренным иону калия или молекуле воды, хотя при расчете знаков амплитуд эти частицы во внимание не принимались. Сравнение координат, найденных методом проб и ошибок и из / -ряда, дано ниже [c.152]

Ний, перпендикулярных оси параметра оптимизации, называемых обычно двумерными сечениями, рассмотрены в работах [57, 58]. Для выбора оптимальных режимов можно также использовать методы поиска оптимальной области, заменив эксперимент вычислением значений параметра оптимизации по уравнению регрессии. При ручном счете удобно применять метод Гаусса — Зейделя, метод симплексов, метод Градиента при использовании ЭВМ — метод случайного поиска и др. В главе 6 приведен пример применения метода симплексов для поиска оптимальных режимов выщелачивания германия из зол слоевого сжигания угля. [c.121]

Для рещения поставленной задачи воспользуемся методом двумерных сечений (методика построения кривых второго пО" рядка приведена в любом руководстве по аналитической геометрии). [c.130]

Порядок построения следующий сначала строят двумерное сечение поверхности отклика, соответствующее содержанию компонента Л, равному 33,0%, затем двумерные сечения по верхности отклика, описываемой канонической формой (5.43). [c.130]

На рис. 5.8 приведены двумерные сечения для выхода продукта, составляющего 95,0%, и содержания компонента А, равного 33,0%. Точки а и а соответствуют решению компромисс- [c.130]

Рис. 6.2. Двумерное сечение при значении фактора Хз = -Ьа. (цифры на кривых соответствуют величинам параметров оптимизации) [65].

Рис. 6.3. Двумерные сечения поверхности опеля

На рис. 6.3 показаны двумерные сечения поверхности отклика, соответствующие трем температурным областям. [c.149]

Генеральная совокупность Двумерное сечение [c.184]

Для системы из N ядер поверхность потенциальной энергии является ЗN — 5-мерной (ЗN — 4-мерной, если молекулярная система сохраняет линейность в течение всей реакции). Действительно, к измерениям для каждой ядерной координаты следует добавить измерение, отражающее полную энергию системы. Следовательно, если двухатомные молекулы дают простые кривые потенциальной энергии на плоскости (рис. 2.1а) [1], то для трехатомных молекул, таких, как Н2О или СО2, уже возникают проблемы, т. е. энергетическую кривую невозможно начертить как функцию одновременно и углов, и длин связей. Часто используют двумерные контур ные диаграммы, на которых в качестве параметра наносят значения энергии эти диаграммы дают наглядное физически значимое изображение потенциальных поверхностей (рис. 2.16) [2]. В общем, бывает достаточно построить двумерное сечение по осям энергия — координата реакции (рис. 2.1, в) [3]. В качестве координаты реакции выбирается та, код-орая в ходе реакции претерпевает наибольшие изменения (или одна из таких координат, если их несколько). В оптимальном варианте это будет истинная координата реакции (см. разд. 2.4). Преимуществом такого двумерного [c.35]

При изучении формы поверхности отклика в ряде случаев можно обойтись без составления математического описания функции отклика, используя приемы контурно-графического анализа. Сущность его состоит в определенном расположении опытов в факторном пространстве, получении дополнительной информации путем линейной интерполяции экспериментальных данных и построения на факторной плоскости (или на двумерных сечениях) линий постоянного уровня функции отклика. [c.109]

Рассмотренной методикой можно пользоваться и при построении двумерных сечений поверхности отклика. Для этого выбирают два фактора, а значения всех остальных факторов поддерживают постоянными при проведении опытов. [c.110]

Если число влияющих факторов больше двух, то для изображения поверхности отклика пользуются ее двумерными сечениями. С этой целью каждый раз фиксируют все факторы, кроме двух. [c.6]

Рассмотренной методикой можно пользоваться и при построении двумерных сечений поверхности отклика. [c.43]

Рис. 22-. Двумерное сечение пространства вектора п. Каждая точка представляет квантовое состояние

Совокупность двумерных сечений разностного трехмерного ряда потенциала для атомов Н , Нп, НГ, Нп (удалены атомы 5 , 5 , Ы , С и С ) показана на рис. 18, б. [c.88]

На практике при расчете р(х, у, z) по уравнению (13.93) можно пользоваться лишь конечным набором значений д , у, г. Обычно рассчитывают р для плоских сечений кристалла (т.е. меняют х и у, а г оставляют постоянным). Но даже и в этом случае используются лишь дискретные значения лг иу. По результирующим картинам электронной плотности строят гладкие контуры, отвечающие площадям равной плотности. Обычно для этого интерполируют имеющиеся данные. Отдельные двумерные сечения строятся с помощью ЭВМ. Эти сечения можно затем перенести на прозрачные пластины и наложить друг на друга так, чтобы получалось трехмерное изображение структуры. Один из таких примеров приведен на рис. 13.29. В другом случае созданные ЭВМ изображения можно вывести на экран телевизионной трубки под любым желаемым углом зрения. [c.373]

Однако необходимо подчеркнуть, что в ЯМР все отклики четного порядка обращаются в нуль Ук(1) = О для четных Аг. Иными словами, двухимпульсчый эксперимент, описанный выше, не дает никакого квадратичного отклика и не позволяет получить двумерного спектра. Однако двумерный спектр можно вычислить как двумерное сечение трехмерного фурье-образа импульсной характеристики третьего порядка. Такой способ реализуется в стохастической многомерной спектроскопии (см. разд. 4.1.6). [c.144]

Пространственные детекторы. Одной из основных тенденций развития промышленной томофафии является использование информационных возможностей конусного пучка рентгеновского излучения. При использовании двумерного детектора может быть сформирован пакет проекций для непосредственного синтеза трехмерного объема объекта контроля или сформирован набор проекций для разных слоев для реконструкции двумерных сечений. [c.161]

В. Б. Фенелонов, В. Ю. Гаврилов, Д. К. Ефремов (Институт катализа СО АН СССР, Новосибирск). Расчет структурно-геометри-ческнх характеристик пористых тел может быть основан на анализе изотерм сканирования петли капиллярно-конденсационного гистерезиса. Пористое пространство моделируется статистической решеткой взаимосвязанных полостей и горл разного размера для расчета принимаются следующие допущения а) объем пространства пор сосредоточен в полостях горла — двумерные сечения в наиболее узких местах б) все полости имеют одинаковую форму поэтому, обозначая распределение числа полостей по размерам через f(a), имеем [c.253]

Координаты центра поверхности Х1с = 2,79, дгзс = 0,47, Хзс =1,68. Коэффициенты уравнения (6.2) имеют разные знаки следовательно, поверхность, описываемая уравнением регрессии, является гиперболическим параболоидом. На рис. 6.2 показано двумерное сечение поверхности отклика при фиксированном значении фактора Хз на уровне +а. По технологическим соображениям следует пользоваться только левой частью двумерного сечения. Точки, обозначенные на рис. 6.2, подвергали экспериментальной проверке, показавшей хорошее совпадение со значениями, вычисленными по уравнению регрессии, Макси- [c.136]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология