Контрастность сложного эталона

Стабильность градуировочных графиков изучалась для анализов углеродистой стали на содержание Мп, 31, Сг, N1 в дуговом режиме генератора ДГ-1 среднелегированной стали на содержание Сг, N1, 31, Мп и Си углеродистой стали на 31, Мп, Си, кремнистой латуни на Zn и 31 и мартеновского шлака (брикеты на медной основе) на ГеО, МпО и СаО/ЗЮг в искровом режиме генератора ИГ-2, собранного по сложной схеме. Применялись фотопластинки, специально выпускаемые для спектрального анализа. Фактор контрастности определялся при помощи гомологических пар линий железа, принадлежащих одному мультиплету. В течение 2—3 месяцев с интервалом в 2—3 дня снимались спектры каждой серии эталонов на отдельную пластинку, причем спектр каждого эталона снимался по 3 раза. В итоге для каждой серии эталонов было получено по 30 пластинок, содержащих 90 спектрограмм каждого эталона. Градуировочные графики строились, как обычно, согласно уравнению [c.319]

Контрастность сложного эталона равна произведению контрастностей составляющих его эталонов [c.184]

При применении сложного эталона значительно повышается контрастность интерференционной картины. Контрастность его определится произведением контрастностей образующих его отдельных эталонов [c.173]

При алюмиЕировании большое значение имеют толщина алюминиевой пленки и равномерность толщины пленки по всему экрану. На прохождение алюминиевой пленки затрачивается часть энергии электронного пучка, причем с увеличением толщины алюминиевого покрытия возрастают потери энергии, что приводит к уменьшению Яркости. С другой стороны, с увеличением толщины пленки алюминиевого покрытия возрастает коэффициент отражения, что повышает яркость. Для получения равномерной яркости и контрастности необходимо получить алюминиевый слой одинаковой толщины по всему экрану. Толщину алюминиевой пленки, нанесенной на сложную поверхность экрана, измерять прямыми методами весьма сложно, поэтому измерение толщины алюминиевой пленки производят косвенными методами. На рис. 2-62 показана электрическая схема прибора, предназначенного для быстрого неразрушающего измерения толщины тонкой алюминиевой пленки при алюминиро-вании экранов ЭЛТ, термоизлучающих и зеркальных ламп, а также других подобных изделий. Измерение толщины тонкой металлической пленки производится методом сравнения измеряемой пленки с эталонной. [c.217]

Большая контрастность, большая область дисперсии и высокая разрешающая сила являются несомненными достоинствами сложного эталона ). Наряду с этим, ему присущи недостатки, заставляющие пользоваться сложным эталоном только в крайних случаях. Интенсивность в максимуме сильно зависит от коэффициента поглощения светоделительных слоев и быстро падает с увеличением его. Так, например, при коэффициенте отражения всех слоев г = 90% и коэффициенте поглощения х = 5% пропускание сложного эталона в максимуме всего т = 6%. Поэтому применение сложного эталона требует либо очень чувствительного приемника, либо большой яркости источника. Появление мало поглощающих диэлектрических покрытий расширило возможности применения сложного эталона. [c.173]

Сложный эталон (мультиплекс). Если пропустить световой пучок через два последовательно расположенных эталона, толщины которых находятся в простом кратном отношении, то можно получить существенный выигрыш в разрешающей способности и контрастности. Постоянная такой системы АХ будет определяться более тонким эталоном, разрешающая способность — более толстым. Такая система называется мультиплексом (рис. 6.17). В том случае, когда оба эталона расположены достаточно далеко друг от друга, можно не учитывать интерференции лучей, идущих между эталонами (пунктир на рис. 6.17). При этом инструментальный контур системы из двух эта- [c.180]

Сложный эталон (мультиплекс). Если пропустить световой пучок через. два побледовательно расположенных эталона, толщины которых находятся в простом кратном отношении, то можно получить существенный выигрыш в разрешающей способности и контрастности. Постоянная такой системы АА, будет определяться более тонким эталоном, разрешающая способность — более [c.183]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология