Железо спектральные линии

Определить волновые числа спектральных линий в спектре излучения СМ, соответствующие переходам 0 -1, 1—2, 0—0, 1--1. Для этого прежде всего необходимо ознакомиться и разобраться и спектре излучения железа, сопоставив этот спектр, получе[шый на спектрограмме.со спектром железа в атласе спектральных линий (см. приложение рис. 204). [c.69]

Спектропроектор ПС-18 предназначен для изучения спектрограмм и их расшифровки. На экране спектропроектора получают резкое изображение снятых на фотопластинке спектров. Затем находят планшет атласа спектральных линий, соответствующий нужной области спектра, и совмещают спектры железа на изображении фотопластинки и на планшете. При этом фотопластинку помещают, на предметный столик, а планшет ла экран спектропроектора. На планшете длинными штрихами указаны положения спектральных линий элементов относительно спектра л елеза и их длины волн. При совмещении спектров железа в атласе и на пластинке искомая спектральная линия в спектре пробы должна находиться точно под штрихом на планшете. Аналогично идентифицируют еще 2—3 наиболее чувствительные линии элемента и только после этого делают вывод о его присутствии в пробе. [c.28]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Сфокусировать и добиться резкого изображения спектра и индекса в поле зрения левого микроскопа. 13. Сопоставить спектр железа со спектром железа, приведенным в атласе спектральных линий железа (см. приложение рис. 204). Самые интенсивные три линии в спектре принадлежат линиям излучения ртути. Длина волны е-линии ртути 43.5,8 нм. По шкале длин волн в атласе спектральных линий железа найти линии, которые должны располагаться рядом с линией ртути. Сопоставлением наблюдаемой картины спектра найти все линии в спектре железа с номерами от 55 до 73. При этом производить для каждой линии отсчет на компараторе по правому микроскопу. 14. Определить, между какими нумерованными линиями железа располагается первая линия комбинационного рассеяния. Сделать отсчет по правому микроскопу для левой линии железа с меньшим номером, для линии комбинационного рассеяния и для правой линии железа с большим номером. 15. Определить, пользуясь таблицей волновых чисел (см. приложение табл. 4), волновые числа всех линий комбинационного рассеяния линейной интерполяцией. 16. Вычислить частоты колебаний. [c.80]

Длины волн и волновые числа некоторых спектральных линий в спектре излучения железа (рис. 204) [c.469]

Эту систему тщательно не исследовали. Низкоспиновые комплексы диамагнитны, а высокоспиновые комплексы с симметрией 0 напоминают / -комплексы. Высокоспиновый комплекс железа(П) при 4,2 К характеризуется д-фактором 3,49 и шириной спектральной линии 500 Э. Спин-орбитальное взаимодействие в основном состоянии велико, имеются в комплексе и близко лежащие возбужденные состояния, которые могут к нему подмешиваться. Если эффекты нулевого поля малы, то в основном состоянии с J = I должны наблюдаться два перехода. В искаженном октаэдрическом поле эффекты нулевого поля велики, и спектр ЭПР комплекса не регистрируется. Примером такой системы может служить дезоксигемоглобин. [c.243]

Для вычисления межатомного расстояния необходимо определить среднее значение Лео. Для этого следует выбрать такие линии в спектре железа, которые совпадают с линиями тонкой структуры. По шкале длин волн спектральных линий железа в атласе (см. рис. 204) определяются длины волн спектральных линий железа и рассчитываются их волновые числа. Разность волновых чисел делится на п — 1, где п — число линий. Момент инерции и межатомное расстояние рассчитывается по уравнениям (I, 13) и (I, 4). [c.70]

Совместить спектральные линии железа на планшете, выбранном из атласа, с линиями спектра железа фотопластинки. Полное совмещение можно наблюдать только в центральной части экрана длиной примерно 6 см. [c.31]

Изучить спектр железа и зарисовать наиболее характерные и легко запоминающиеся группы близко расположенных спектральных линий (реперные линии спектра), учитывая их взаимное расположение и относительную интенсивность. Реперные группы линий железа позволяют легко ориентироваться в его спектре без миллиметровой шкалы, что после некоторого навыка позволяет быстро выполнять качественный анализ. [c.32]

Идентифицируют при помощи спектропроектора ПС-18 аналитические пары спектральных линий, а также несколько близлежащих линий железа и метят их. [c.34]

Фотопластинку со спектрограммой помещают на столик микрофотометра и фотометрируют спектральные линии железа разной интенсивности, полученные через 9-ступенчатый ослабитель по всем ступеням, записывают величины почернений и соответствующие им логарифмы пропусканий ступенек ослабителя (lg Г) и строят на миллиметровой бумаге зависимости 5 = — яля каждой спектральной линии в одинаковом масштабе величин почернений и логарифмов пропускания. Получают несколько параллельных кривых. Путем горизонтального переноса точек на одну из кривых получают полную характеристическую кривую фотопластинки для всего диапазона почернений 0,05—2,00. [c.34]

Следующим этапом обучения является освоение техники фотографического спектрального анализа. Здесь в первую очередь необходимо приобрести навыки фотографирования спектров и получения качественных снимков. Параллельно с этим стоит затратить определенные усилия на расшифровку спектра железа, который во многих задачах спектрального анализа играет роль опорного при отождествлении спектральных линий других элементов. Приобретенные при этом навыки оказываются необходимыми при выполнении качественного анализа порошкообразной пробы на присутствие металлов. [c.93]

Спектр железа имеет большое число линий ( 4700 в видимой и УФ-об-ластях), более или менее равномерно распределенных по всему регистрируемому фотографическим способом диапазону длин волн. Спектр железа хорошо изучен. Длины волн его линий определены с необходимой точностью. Поэтому при решении задач качественного анализа спектр железа играет роль опорного для отождествления спектральных линий других элементов. Для быстрой ориентировки в спектре железа необходимо знать и по.мнить положение и вид характерных групп линий в разных областях спектра. Характеристики некоторых из них даны в табл. 3.3. [c.106]

Расшифровка спектрограмм значительно упрощается при использовании атласов спектральных линий, представляющих собой фотографии спектра железа с привязанной к нему шкалой длин волн. Ввиду большого различия в дисперсии для каждого типа спектрального прибора должен применяться свой атлас. В табл. 3.3 указаны номера планшетов атласов для соответствующих участков спектра . [c.106]

Нахождение в спектре пробы линий заданного элемента. Выписывают из таблицы спектральных линий (см. приложение 1) наиболее чувствительные ( последние ) линии искомого элемента. С помощью дисперсионной кривой и планшетов спектральных линий на спектропроекторе находят в спектре железа те линии, между которыми должны располагаться выписанные последние линии. Измеряют [c.203]

Спектр пробы фотографируют встык со спектром железа, используя для этого диафрагму Гартмана. Расшифровку спектрограммы производят на спектропроекторе с помощью атласов спектральных линий элементов. О присутствии элемента в пробе судят по появлению его наиболее чувствительных линий в спектрограмме. [c.111]

Качественный спектральный анализ. При качественном анализе достаточно поместить между электродами небольшую навеску (0,1—1 мг), возбудить ее электрической дугой или искрой и сфотографировать спектр. Затем необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого определяют длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц устанавливают ее принадлежность к тому или иному элементу. При известном основном составе пробы под спектром анализируемого вещества снимают спектр чистого образца, не содержащего примесей. Для расшифровки спектров применяют таблицы спектральных линий и атласы, которые бывают двух типов. Первый содержит комплекты планшетов с фотографиями дуговых и искровых спектров железа, на которых указаны длины волн всех его спектральных линий, а второй имеет изображение спектра железа рядом со шкалой длин волн в ангстремах, положением наиболее характерных линий элементов периодической системы и длинами их волн и интенсивностей. [c.44]

При наличии источника сплошного спектра марки почернения можно получить фотографированием спектров с одним и тем же временем экспозиции, но при разной ширине щели спектрографа. В качестве марок почернения можно использовать также сами спектральные линии, для которых известна их относительная интенсивность. Чаще всего для этого используют линии железа, относительные интенсивности которых внутри мультиплетов хорошо известны [c.122]

Последовательность выполнения работы. 1. Поместить спектрограмму на столик компаратора вверх эмульсией. 2. Сфокусировать изображение спектра в левом микроскопе. 3. Изучить спектр железа в требуемом диапазоне, сопоставляя все спектральные линии со спектром железа в атласе (см. приложение рис. 204). 4. Определить номера линий в спектре железа, между которыми расположена спектральная линия в изучаемом спектре. 5. Установить столик компаратора так, чтобы левая пронумерованная в атласе линия железа совпала с перекрестием в левом микроскопе. 6. Сделать отсчет по шкале правого микроскопа. 7. Переместить столик компаратора до совпадения спектральной линии в изучаемом спектре с перекрестием. 8. Сделать отсчет по шкале правого микроскопа. 9. Переместить столик компаратора до совпадения правой пронумерованной в атласе линии железа с перекрестием. 10. Сделать отсчет по шкале правого микроскопа. П. Повторить операции 4—10, если требуется определить волновые числа нескольких спектральных линий. [c.61]

Примечание. В атласе спектральных линий железа некоторые спектральные линии пронумерованы. Для этих спектральных линий в приложении, в табл. 2 приведены значения длин волн, волновых чисел и разностей волновых чисел соседних пронумерованных линий. [c.69]

Если же последние линии не обнаружены или соотношение интенсивностей рассматриваемых линий не соответствует табличным данным, то из специального справочника спектральных линий следует выписать все элементы, линии которых совпадают или близки к исследуемой линии в пределах разрешающей способности спектрального прибора, т.е. в пределах 0,05 нм. Из всех выписанных элементов следует исключить такие, которые заведомо не могут присутствовать в исследуемой пробе (например, газы), а также элементы, линии которых практически не появляются в выбранном источнике возбуждения (т.е. в дуге). Оставшиеся в списке элементы отождествляют при помощи соответствующих последних линий. Во втором случае, т.е. когда на планшете нет линии исследуемого спектра, прибегают к определению длины волны исследуемой линии и ее отождествлению. Для этого выбирают в спектре железа по обе стороны от исследуемой линии две линии железа, которые различаются между собой длинами волн не более чем на 1 им. Выписывают длины волн в спектре железа из атласа (Х и Х2), затем линейкой или миллиметровой бумагой измеряют расстояние на экране спектропроектора (в мм) между исследуемой линией и обеими линиями железа (соответственно Д и Ог). Длину волны иссле- [c.202]

Сопоставлением спектров определить, между какими линиями железа находится спектральная линия спектра СМ. [c.69]

Примечание. Линии в спектре излучения СМ, соответствующие переходам Ди = — I, располагаются в области спектральных линий железа № 6—10 линии, соответствующие переходам Ду = О, и Ду = + 1 — в области линий в спектре железа № 35—42. [c.69]

Определяют область спектра, в которой расположена исследуемая линия спектра пробы (с помощью дисперсионной кривой прибора и миллиметровой шкалы). Отыскивают в атласе спектральных линий планшет, содержащий соответствующий участок спектра железа. Кладут планшет на экран спектропроектора так, чтобы линии одинаковой длины волны в спектре железа на экране и на планшете совпадали. [c.201]

Внимательно рассматривают спектр железа в окуляр прибора, сопоставляя его со спектром, изображенным на планшетах атласа спектральных линий. Находят в атласе спектра железа красную линию с длиной волны 639,36 нм, затем отыскивают эту же линию в поле зрения окуляра стилоскопа. Вращая обой- [c.97]

Установить присутствие спектральной линии искомого элемента в спектре стали. Она должна совпадать с указательным штрихом, нанесенным на планшете выше спектра железа. [c.31]

Примечание, Линин в спектре излучения СМ, соотвегствующие переходам До -- — I, располагаются в области спектральных линий железа № 0 — 10 липни, соо1вс1 ст11у1()И1.ие переходам Ло = О, п — + 1 — в области лпннй в спектре железа. № —42. [c.69]

В комплексах железа(П1) с небольшим тетрагональным искажением О км и = 0. Энергетические уровни и ожидаемый спектр показаны на рис. 13.18, Л. Наблюдаемые д-факторы очень близки к 2,00 из-за исключительно малой величины спин-орбитального взаимодействия. Поэтому можно легко наблюдать спектры ЭПР при комнатной температуре. Если Оу>И , то возникнет ситуация, изображенная на рис, 13,18, , и наблюдаются лишь переходы между + 1/2) и — 1/2), Если даже более высоко лежащие уровни и заселены, то AMs Ф 1 для возможных переходов и ни одна спектральная линия не наблюдается. Можно рассчитать д-факторы, используя в качестве базиса только 5/2, 1/2) и 15/2, — 1/2> и зеемановский гамильтониан Я = + НуЗу). Если [c.239]

Аппаратура и принадлежности. Спектропроектор ПС-18. Дисперсионная кривая. Таблица спектральных линий. Планшеты с изображением спектра железа. Спектрофамма с исследуемым спектром. [c.201]

Полученные спектрограммы рассматривают, пользуясь спек-тропроектором. С помощью вспомогательного спектра железа и атласа спектральных линий находят нужные пары аналитических линий. Для определения хрома, никеля и марганца в сталях используют аналитические пары линий, приведенные в табл. 3.5 (элемент сравнения — железо). [c.121]

Фотографируют несколько раз спектры исследуемых образцов при ширине щели спектрографа 0,020 мм, силе тока дуги 4 А и дуговом промежутке 3 мм, варьируя при этом время экс-лозиции. Встык с ними снимают спектр железа. Пластинку проявляют, фиксируют, промывают и высушивают. Под спектро-проектором находят нужные спектральные линии и по результатам просмотра спектрограмм устанавливают необходимое время экспозиции. [c.132]

Анализ спектра железа (рис. XXIX. 8а) показывает, что разные области спектра отличаются не только окраской, — сами спектральные линии имеют различную яркость. Так, на границе между голубой и зеленой областями наблюдаются три яркие двойные линии с длинами волн 487,1, 489,0 и 492,0 нм. Несколько далее наблюдается яркая сине-зеленая линия с длиной волны 495,7 нм. В зеленой области легко найти наиболее яркие зеленые линии (особенно легко заметить двойную линию 527,0 нм затем наблюдаются еще три линии). [c.349]

Этот новый ВИД спектроскопии твердых тел может дать химику полезную информацию о непосредственном окружении ядра, т. е. об его электронных оболочках. Однако этим методом можно исследовать не слишком легкие ядра (в настоящее время ядра тяжелее, чем К). Смещение резонансных линий, связанное с различными видами химической связи между атомами излучателя (или, наоборот, поглощающего излучения вещества), называют изомерным смещением , соответственно химическим смещением (открыто на атомах железа). Это смещение происходит в результате взаимодействия с 5-электронами. Расщепление спектральных линий, связанное с взаимодействием между электрическим ядерным квадрупольным моментом (разд. 4.2) и орбитальным моментом р- и -электронов, называют квадрупольным расщеплением. Тем самым становится возможным отдельно исследовать распределение 5-, р- и -электронов. Большие успехи были достигнуты, например, при исследовании соединений железа и олова методом мёссбауэров-ской спектроскопии. [c.129]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология