Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Цмель

    При производстве как вышеописанных, так и всех последующих анализов необходимо особенно тщательно следить за тем , чтобы раствор цмел каждый раз указываемую для него реакцию (стр. 11, глава Общие правила , правило 5). Опускают в испытуемый раствор кусочек лакмусовой бумажки приблизительно в 10 мм . Ее окраска (после взбалтывания или перемешивания для получения однородного раствора) всегда свидетельствует о реакции раствора. [c.78]


    Трансформаторная проба с применением высокого напряжения является более жесткой и помогает выявить скрытые де кты — закрытые пузыри и трещины, местные нарушения толщины слоя эмали, т. е. те места, где легко может нарушиться целостность покрытия во время эксплуатации аппарата. Высокочастотный прибор, разработанный для испытания аппаратуры Цмелем, состоит из колебательного контура, в который входит вибратор с собственной частотой колебаний 1500 пер сек, трансформатора высокой частоты и конденсатора постоянной емкости 0,06 М1 . [c.438]

    Для испытания аппаратуры на сплошность покрытия В. М. Цмель предложил пользоваться высокочастотным прибором его системы. [c.253]

    Б составе кобальтовых шлаков сумма окис.яов SiOj и FeO достигает 90%. Силикатный шлаковый расплав условно отнесен нами к бинарной системе FeO—SiOj, изученной И. А. Цмель [5], Боуэном и Шерером [6]. Главная кристаллическая фаза в системе представлена ортосиликатом закиси железа FeaSi04 — фаялитом. Более подробная минералогическая характеристика шлаков приведена далее в разделе о минералогическом составе шлаков. [c.64]

    Оборудование для заводов химической промышленности. Изд. 2-е, Госхимиздат. Под ред. В. М. Цмель, каталог МХП, 1958, стр. 385. [c.192]

    Аппараты, предназначенные для работы в особо ответственных условиях, испытываются на сплошность покрытия и толщину эмалевого слоя высокочастотным дефектоскопом конструкции В. М. Цмель. Рабочее напряжение дефектоскопа 4000—8000 в при частоте 65000 пер/сек. Дефектоскоп позволяет обнаруживать не только мельчайшие нарушения сплошности эмалевого покрытия, но и внутренние недостатки эмалевого слоя. [c.54]


Библиография для Цмель: [c.543]    [c.161]   
Смотреть страницы где упоминается термин Цмель: [c.284]    [c.480]    [c.399]    [c.400]    [c.1]    [c.1]   
Оборудование для заводов химической промышленности (1952) -- [ c.54 ]




ПОИСК







© 2024 chem21.info Реклама на сайте