Световая микроскопия операции при работе

В ряде работ при помощи метода реплик были изучены изменения рельефа поверхности обычных ненористых стекол в результате различных технологических операций, действия протравливающих агентов, царапания и т. д. [22—26]. Применялось комбинированное исследование поверхности посредством светового, электронного и интерференционного микроскопов [24, 25]. Вначале реплику со сравнительно большого участка поверхности рассматривали в световом микроскопе и выбирали наиболее интересные места. Затем с этих мест, фиксированных при помощи специального нриспособления, получали реплики, пригодные для электрОпно-микроскопического исследования. Для определения величины неровностей рельефа исследуемой поверхности также применялись специальным образом подготовленные реплики, которые исследовались в интерференционном микроскопе. Исследования в электронном микроскопе проводили нри небольших увеличениях, используя большую глубину резкости прибора. Эти работы показали, что электронный микроскоп может дать важные сведения о состоянии поверхностного слоя стекла и применение его весьма полезно для выяснения таких вопросов, как пластичность стекол, размягчение их при высоких давлениях, особенности процессов шлифования и полировки стекол. [c.245]