Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Рельеф п структура поверхности

    Все методы исследования с помощью просвечивающего электронного микроскопа разделяют на прямые и косвенные. При прямых методах в микроскопе исследуют непосредственно объект в виде очень тонкой пленки (среза) или мельчайших частиц (определение формы и размера частиц высокодисперсных систем, изучение структуры биологических объектов, полимеров, металлов и т. п.). При косвенных методах в микроскопе рассматривают не сам объект, а отпечаток этого объекта. Отпечаток иначе называют слепком или репликой. Метод реплик применяют для исследования рельефа различных поверхностей, а также таких объектов, как кристаллы льда или гели, которые невозможно исследовать непосредственно в микроскопе. Существенным недостатком электронной микроскопии является невозможность наблюдения образца в динамических условиях, т. е. в движении, так как препарат должен быть высушен или заменен репликой. [c.395]


    Метод реплик может применяться для двух различных целей во-первых, для изучения рельефа поверхности как таковой, во-вторых, для исследования структуры образца по рельефу поверхности. В первом случае задача сводится только к получению препарата — самой реплики, которая должна точно воспроизводить рельеф исследуемой поверхности. Во втором случае нужно предварительно подготовить поверхность таким образом, чтобы ее рельеф полностью отражал структуру образца. [c.174]

    Изнашивание полированной поверхности сплава типа ДУС—Со кварцевой иглой со скоростью 20 мм/с показало, что по мере увеличения числа проходов происходило оголение поверхности кобальта, который намазывался на карбидные зерна, нивелируя рельеф структуры. [c.15]

    Для того, чтобы ответить на вопрос, какова поверхность горения баллиститных порохов в процессе горения, каков ее рельеф, как влияет давление на структуру поверхности, было проведено экспериментальное исследование поверхности горения спектраль- [c.273]

    Особенности рельефа и структуры поверхности различных субстратов [c.100]

    Изменение структуры и рельефа земной поверхности. Климат теплый 45 Сокращение морских бассейнов, равнинные осушенные платформы, Многократное изменение климата, материковые обледенения 45 Опускание и поднятие обширных территорий. В основном мягкий климат. Образование озер, обмеление морей 53 Интенсивная тектоническая деятельность, вулканизм. Климат умеренный, теплый 70 Мелководные теплые моря. Климат теплый 41 Развитие озер и болот, выравнивание рельефа континентов. Климат теплый [c.27]

    Приведенные нами примеры дифференцированных растительных клеток показывают, что клеточная стенка-весьма сложная структура, форма и состав которой могут заметно изменяться в процессе роста и развития клетки. При этом возможно не только добавление нового материала, но и удаление в определенных местах материала, отложенного ранее (как, например, при образовании пор в ситовидных трубках флоэмы или создании сложного рельефа на поверхности пыльцевых зерен) Все это означает, что в цитоплазме каждой дифференцирующейся клетки на стадии формирования клеточной стенки действуют какие-то тонкие механизмы пространственного и временного контроля. [c.171]

    Из практики гальванотехники известно, что способ предвари тельной обработки поверхности влияет на рельеф электролитических покрытий. Эти покрытия по большей части настолько тонки, что воспроизводят структуру поверхности основного металла. Исключение составляют появившиеся в последнее время электролиты, которые оказывают сглаживающее действие [14]. [c.597]


    Третий этап исследований имел целью выяснить структуру РОТОВОГО керамического изделия, полученного на основе кремнийорганических соединений. В этом случае был иопользован метод реплик. Реплики применялись из органического материала и снимались со свободной поверхности образцов. Рельеф изучаемой поверхности образцов оказался резким и поэтому фотографии получались достаточно контрастными. При электронно-микроскопическом исследовании указанных керамических образцов обнаружено, что поверхность образцов изборождена канавками, образующими довольно правильные шестиугольники. Промежуточная сплощная масса имеет отпечатки отдельных кристаллов. [c.436]

    Дисперсность- . Известно, что размер частиц отнюдь не всегда соответствует их удельной поверхности. Размер частиц есть геометрический термин, который не учитывает внутреннюю структуру частицы и мельчайшие детали рельефа ее поверхности. Все же при прочих равных условиях чем меньше частица (монолитная), тем больше ее удельная поверхность и тем она более активна. Следовательно, необходимо обращать внимание на размер частиц слоистых твердых смазок как при их получении, так и во время применения. На первый взгляд кажется, что чем меньше размер частиц твердой смазки, тем лучше однако здесь могут возникнуть определенные трудности в результате повышенной поверхностной активности тонкодисперсных материалов. Сверх.малые частицы легко агрегируются. Такую спонтанную коагуляцию трудно предотвратить. Отметим также, что рес. логические свойства суспензий тонкодисперсных твердых смазок могут затруднять их нанесение на трущиеся поверхности. [c.18]

    Перед нанесением любой пленки поверхность, на которую она наносится, должна быть подготовлена. Эта подготовка сводится к получению заданного рельефа (микрогеометрии) поверхности и к обнажению структуры основания удалением жировой и окисной пленок. Применяемые при радиоэлектронном производстве методы изменения микрорельефа поверхности в большинстве случаев требуют удаления жировой пленки, что иногда не исключает необходимости вторичного обезжиривания непосредственно перед нанесением покрытия, если имеется опасность загрязнения после подготовки микрорельефа. Особое значение имеет подготовка поверхности активной подложки интегральных микросхем из полупроводникового материала. [c.12]

    Понятие структуры поверхности включает в себя ее микроскопическое строение (в атомном масштабе) и ее макроскопический ступенчатый рельеф. [c.260]

    Репликой (слепком, пленкой или отпечатком) называют прозрачные для электронов пленки, имитирующие структуру объекта воспроизведением рельефа его поверхности. В случае оксидных реплик (тонких оксидных пленок с полированной или травленной поверхности сплава) структура объекта выявляется также по различиям в химическом составе. [c.279]

    Приведенный механизм процесса травления стекла показывает, каким образом его поверхность приобретает кристаллический рельеф с остриями и большими углублениями между ними. Такое изменение структуры поверхности ослабляет механическую прочность стекла. Так, например, баллон лампочки накаливания с внутренней матовой поверхностью должен быть настолько непрочным, что такими лампочками нельзя было бы пользоваться. Для того чтобы скомпенсировать снижение механической прочности, обусловленное процессом травления, стеклянные баллоны обрабатывают разбавленным раствором НР, который сглаживает неровности и таким образом восстанавливает первоначальную прочность. [c.491]

    Наличие градиента До вызывает образование турбулентных потоков в растворе, которые и создают соответствующий рельеф его поверхности. При достижении высокой вязкости лакокрасочного материала в поверхностном слое этот рельеф фиксируется в пленке в виде соответствующего рисунка, образование которого нежелательно, так как снижается блеск и ухудшается внешний вид покрытия. Так, растворы полистирола и поливинилацетата в бутилацетате и метилизобутилкетоне (о = 25- 26 мДж/м2) формируют покрытия со структурами типа а, б, в (см. рис. 3.2). Напротив, при использовании менее [c.43]

    Третий этап наших исследований имел целью выяснить структуру готового керамического изделия, полученного на основе кремнийорганических соединений. В этом случае мы применили метод реплик. Реплики применялись из органического материала и снимались со свободной поверхности образцов. Рельеф изучаемой поверхности образцов оказался резким и поэтому фотографии получались достаточно контрастными. При электронно-микроскопиче- [c.249]

    Благодаря различной структуре поверхности носителя молекулы или атомы катализатора будут располагаться на нём по-разному. Возникающие активные центры тоже образуют характерный для данного носителя рельеф местности . Расстояния между активными центрами соответственно будут различными, а это существенно для катализа расстояния между активными центрами и их порядки размещения на катализаторе должны соответствовать строению и размерам реагирующей молекулы. [c.36]

    Рельеф морской поверхности имеет сложную топографию под влиянием трения и неравномерного давления ветра, имеющего сложную динамическую структуру. Одновременно с волнообразным движением может возникать и вихревое, в результате чего поверх- [c.118]


    Оттенение, Другой метод увеличения контрастности изображений состоит в покрытии поверхности образца тонким слоем атомов тяжелого металла, испаряемого при высокой температуре. Источник испаряемого металла располагают под некоторым углом относительно образца, так чтобы поток испаряемых атомов конденсировался в соответствии с рельефом на поверхности. Контрастность обеспечивается тем, что испаряемый металл конденсируется преимущественно на выступающих частях поверхности образца. Из изображений, полученных с помощью такого метода, можно извлечь количественную информацию о распределении контрастирующего вещества по контурам структур [13]. Некоторые проблемы, возникающие при таком способе контрастирования образца можно обойти, если вращать его во время оттенения. [c.554]

    В понятии изостатической компенсации заключена идея о связи рельефа твердой поверхности Земли со структурой земных глубин, тогда как значительные нарушения изостазии литосферы свидетельствуют об активных динамических процессах. В последние годы стало более очевидным, что толщина и строение поверхностных оболочек Земли являются следствием активных процессов, происходящих в пределах ее более глубоких слоев, а именно в мантии и даже ядре [121]. Эти глубинные плотностные неоднородности обычно слабо проявляются в наблюдаемом на отдельном профиле или площади гравитационном поле, а отражаются лишь в его низших гармониках при разложении поля Ag на поверхности Земли. Можно предполагать, что влияние этих источников на динамику литосферы, рельеф ее поверхности, на природу высоких гармоник аномального гравитационного поля очень велико. Эти соображения прямо приводят нас к заключению о важности оценки характера геодинамических процессов в недрах Земли при анализе поля силы тяжести на ее поверхности. [c.14]

    Стереомикроскопичес кий метод позволяет определить структуру поверхности исследуемого материала, высоту и ориентацию отдельных аморфных и кристаллических фаз, характер расположения кристаллов и т. п. Электронно-микроскопическая фотография стереоскопической структуры объекта получается фотографированием его под различными углами и последующего совмещения двух снимков в стереоскопе. Для фотографирования определенных участков объекта под различными углами применяют специальные стереопатроны, которые позволяют наклонять препарат п о отношению к оси микроскопа. При рассмотрении двух стерео-микрофотографий в стереокомпараторе можно получить не только качественную пространственную структуру объекта, но и определить размеры отдельных элементов сложного рельефа. [c.133]

    В современной технологии полупроводниковых приборов особое значение имеют методы химического воздействия на исходный кристалл кремния, которые позволяют формировать в нем разнородные области п- и р-типа, окисленные участки поверхности и т. п.), являющиеся активными и пассивными элементами структуры. К этим методам прежде всего относятся отмывка и травление, служащие для удаления с поверхности примесей и нарушенного слоя, вызванного механической обработкой, создания определенного рельефа на поверхности пластины и т. п. формированне стеклообразных пленок на основе 810а, полученных или методами термического окисления, или осаждением из газовой фазы в результате химической реакции. Важную роль в технологии играют методы эпитаксиального наращивания, позволяющие создавать слоистые монокристаллические структуры с разнообразными электрофизическими свойствами. Непременным этапом физико-химической обработки кристалла при изготовлении прибора служит диффузия примесей донорного и акцепторного типов, при П0М01ДИ которой формируются области эмиттера и базы в транзисторах, резисторы и другие элементы интегральной схемы. [c.96]

    Как показал А. В. Помосов с сотрудниками, состояние поверхности существенно меняет условия образования высокодисперсного порошка, поэтому при выборе способа получения порошка заданной структуры необходимо руководствоваться определенными условиями, в том числе и рельефом электродных поверхностей. [c.516]

    Ранее было показано, что использование бездислокационных затравочных пластин и специальных технологических приемов выращивания обеспечивает получение крупных практически бездислокационных пирамид <с>. При этом было замечено, что рельеф типа булыжная мостовая возникает обычно на с-грани бездислокационных кристаллов, в то время как базисная поверхность кристаллов с дислокациями покрывается акцессориями с точечными вершинами. Тот факт, что скорость роста поверхности базиса бездислокационных кристаллов по порядку величины равна скорости роста этой поверхности для кристаллов, содержащих дислокации, свидетельствует об ином, недислокационном механизме нарастания пинакоида. Можно присоединиться к мнению К- Джексона [27], который полагает, что на пинакоидальной поверхности кварца имеет место нормальное отложение вещества (с образованием характерного для неустойчивого фронта роста ячеистого рельефа), типичное для шероховатых граней. Подтверждение упомянутой точки зрения найдено при анализе морфологических деталей поверхности пинакоида бездислокационных кристаллов кварца. Для таких кристаллов характерно несколько порядков ячеистой структуры поверхность каждой ячейки сложена более мелкими ячейками, на которых, в свою очередь, иногда удается рассмотреть еще более мелкую ячеистую структуру (рис. 51). Очевидно, именно так должны проявляться неустойчивости, возникающие на протяжении всего времени роста кристалла. [c.158]

    В настоящее время трудно сделать определенное заключение относительно механизма образования рельефов на поверхности скола студней. Предположения о прямой связи структуры поверхности скола твердых амор фных тел с надмолекулярной структурой полиме-рд2о-22 по-видимому, ис могут быть нспосредственно распространены, на студни, у которых периодичность рельефных образований на два-три порядка превышает мыслимые размеры надмолекулярных образований. [c.194]

    Зависимость от кристаллической структуры. Химическая адсорбция может зависеть от кристаллической структуры твердого тела. Межатомные расстояния и. рельеф поверхности должны обеспечивать наложение адсорбирующихся молекул без существенных деформаций (принцип структурного соответствия мультиплетной теории катализа А. А. Баландина [46—48]) и резких искажений валентных углов [70, 72]. Нерегулярный характер структуры поверхности твердого тела [72] и наличие разных межатомных расстояний на поверхности могут облегчать химическую адсорбцию и в тех случаях, когда основные параметры кристаллической решетки сильно отличаются от геометрических размеров адсорбируемых молекул. [c.38]

    Отделенная от объекта реплика должна точно воспроизводить рельеф его поверхности, не иметь собственной структуры, различимой в электронном микроскопе, обладать достаточной контрастностью, механической прочностью и химической стойкостью, устойчивостью к воздействию электронного пучка. В идеале метод реплик должен обеспечить получение изображений столь мелких деталей структуры объекта, которые по своим размерам соответствуют разрешающей способности микроскопа. В действительности же такое соответствие не имеет места, так как наряду с улучшением техники изготовления реплик совершенствуются электронные микроскопы и повышается их разрешающая способность. Все же разрый здесь в настоящее время является небольшим — разрешение, на микрофотографиях обычно получаемых углеродных реплик достигает 30, а возможно и 20 А. [c.91]

    Однако, помимо того, что работать с такими тонкими репликами трудно из-за их низкой механической прочности, онп имеют и другой недостаток в ряде случаев неточно передают рельеф изучаемой поверхности. Исследования последнего времени показали, что при применении углеродных реплик наблюдается резко выраженное сглаживание в передаче изображений углов и ребер, имевшихся на объекте, что по-видимому, вызвано проявлением искривляющих сил во время препарирования [97, 98]. Точность реплик оценивалась измерением рельефа на стереомикрофотографиях. Значительные искажения наблю- дались в случае обычно применяемых реплик толщиной—100 А. По мере увеличения толщины пленки реплики становятся более точными, но даже толстые реплики (—800 А) дают отклонения от истинной структуры. [c.101]

    Если поверхность, покрытую кислородом при высокой температуре, подвергнуть восстановлению газообразным водородом при 300° (при более низкой температуре она не восстанавливается, при более высокой — оЦыт не дает нужного результата), то мы также получим поверхность серебра, свободную от кислорода, но определенным образом формированную. Если эту поверхность привести в соприкосновение с молекулярным кислЬродом, то возникающая кислородная пленка имеет те же свойства, что и при высокотемпературном окислении поверхности серебра. Иначе говоря, поверхность серебра в результате адсорбции кислорода при высокой температуре получает определенный устойчивый рельеф, соответствующий некоторой однородной структуре поверхности. Интересно, что этот рельеф сохраняется, если подвергнуть поверхность [c.89]

    Помимо геометрической структуры поверхности и пор адсорбентов и катализаторов для ряда их важнейп1их применений существенно составить представление об энергетическом рельефе их поверхности. Эти сведения можно получить также при помощи адсорбционных методов. Обычно для этой цепи применяется обработка изотерм адсорбции при помощи статистических методов, интенсивно разрабатываемых у нас Рогин-ским и его сотрудниками и Темкиным . Однако эта обработка часто связана со многими упрощающими допущениями, не всегда отвечающими реальной структуре адсорбентов, реальным свойствам адсорбционных слоев и широте и точности измерений изотермы (допущения о непрерывности изотерм, об отсутствии взаимодействия, подбор функций распределения на ограниченном интервале и т. п.). [c.198]

    Затем, через 30 лет после этого, в результате тшательного изучения топографии поверхности катализаторов до адсорбции и катализа, в процессе адсорбции и десорбций, в процессе каталитических реакций Гуотми и Каннингем [65] нашли, что рельеф поверхности в процессе реакций перестраивается с образованием структур, характерных для данной реакции. Реакция как бы подготовляет для себя поверхность. Поверхность элек-трополироваиного монокристалла меди при исследовании в электронном микроскопе казалось гладкой,— говорят эти авторы. Она оставалась гладкой и при нагревании в водороде. Когда такой кристалл нагревали в кислороде при 150°, то получалась [иная] структура поверхности, которая после восстановления в водороде становилась шероховатой и неправильной. Если же на монокристалле проводили каталитическую реакцию водорода с кислородом, то. .. на различных гранях образовалисымикрогра-ни. Эти структуры изменялись в зависимости от реагирующего вещества и условий опыта. Таким образом, не только поверхность влияет на реакцию между газами, но и сами газы также влияют на структуру поверхности, и эти эффекты, очевидно, следует принимать во внимание [65, стр. 114—115]. Такой вывод корреспондируется с выводами Тона и Тэйлора [60] об образовании и уничтожении активных центров, представляющих уже не участки гооверхности, а комплексы катализатора с реагентом. [c.154]

    Из полученных картин кристаллизации следует, что в подавляющем большинстве случаев именно электрическая структура поверхности кристаллов-подложек, а не ее микрогеометрия, определяет процессы зароды-шообразования и роста. Определяющим факто )ом при ориентированной кристаллизации является соотношение знака и ве.1гичины потенциала между электрически различными гладкими участками поверхности кристаллов-подложек, с одной стороны, и между ступенями и гладкими участками поверхности, с другой. Поэто.му процессы кристаллизации, как, очевидно, и другие гетерогенные процессы, па ранних стадиях могут происходить в первую очередь или только на ступенях, или на гладких участках поверхности кристаллов-подло кек, или (что маловероятно) одновременно па обоих элементах рельефа поверхпости, причем сами эти элементы имеют, как правило, сложное электрическое строение. [c.247]

    Рельеф, структура и физико-химические свойства поверхностей являются важной характеристикой изделий. От них зависят прочность изделия, коэффициент трения при контакте твердых тел и при обтекании их жидкостями и газами, теплоизлучательная и поглощательная способность, теплопередача соприкосновением, коррозионная стойкость и прочее. [c.205]

    Специальное изучение тектонических изменений высотного положения палеогеновой поверхности с учетом влияния экзогенных факторов позволило получить не только качественную, но и количественную оценку различных параметров данной площади — размеры, знак и амплитуду новейших движений. При проведении неотектонических исследований применен комплекс методических приемов современного геоморфологического анализа, направленных на выявление прямой или косвенной связи между формами рельефа современной поверхности и геологическим строением, в частности такие, как анализы густоты и глубины расчленения рельефа, деформации базисных и остаточных поверхностей, трещиноватости и др., на основе специальной обработки топографических и аэрофотосъемочных материалов и изучения неоген-антропогеновых отложений. Анализ геологического строения последних с учетом палеогеоморфологического развития Вельской структуры показывает, что в ее неотектонической истории можно выделить два основных этапа повышенной активности на границе палеогена и неогена и в плиоцен-атропогеновое время. [c.39]

    Причина, по всей вероятности, не одпа, но прежде всего нужно иметь в виду, что силы горообразующих процессов, очевидно, в стадии их замирания (постумная складчатость) прилагались и воздействовали на чрезвычайно разнообразный материал, отложенный в различных условиях с неровностями на поверхностях наслоения, возникающими из условий отложения неровный уклон дна бассейна, где происходило отложение, выклинивание пластов (линзовидность), смена характера осадков и т. д. В совокупности все это и могло привести к разнообразию тех форм, которые прошли перед нами. Кроме того, по отношению к месторождениям Мид-Континента неоднократно указывалось, что погребенные формы гранитного ложа оказали влияние на формирование (тоже теперь погребенных) складок ордовикского возраста, а эти последние в свою очередь нашли отражение в тех куполах, структурных террасах, носах и т. д., которые осложняют залегание верхнепалеозойских свит этой области и которые служат как бы указанием на присутствие погребенных структур и погребенного рельефа в недрах земли. [c.284]

    В работе [41] дан анализ электронно-микроскопических исследований (увеличение от 10 000 до 30 000 раз) асфальтенов из процесса Добен. Показано, что на уровне тонкой структуры различий между исследованными асфальтенами нет. Для них характерна пластинчатая структура в форме резко выраженных анизодиаме-трических частиц с некоторой шероховатостью рельефа поверхности, что отличает их от структуры графитовых слоев [41]. [c.203]


Смотреть страницы где упоминается термин Рельеф п структура поверхности: [c.98]    [c.84]    [c.109]    [c.142]    [c.127]    [c.74]    [c.26]    [c.258]    [c.80]   
Основы адгезии полимеров (1974) -- [ c.0 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте