Фотоакустическая микроскопия

Фотоакустическая микроскопия. В фотоакустической микроскопии акустические колебания генерируются вследствие термоупругого эффекта при освещении ОК модулированным световым потоком (например, импульсным лазером), сфокусированным на поверхности ОК. Энергия светового потока, поглощаясь в материале, порождает тепловую волну, параметры которой зависят от теплофизических характеристик ОК. Тепловая волна приводит к появлению термоупругих колебаний, которые регистрируются, например, пьезоэлектрическим детектором. [c.134]

Основная область применения фотоакустической микроскопии - контроль элементов электронной техники, небольших деталей. Измерение амплитуды и фазы принятого сигнала позволяют судить о глубине залегания дефекта. В [425, с. 442/566 и 615/407] говорится об измерении сдвига фазы относительно возбуж-даюш его сигнала. Изменение фазы принятого сигнала включает в себя вклад каждой точки термической зоны. Уменьшая модуляцию, увеличивают толщину исследуемой зоны. На рис. 2.101 изображены дефекты интегральной схемы при различ- [c.286]

В [53] показана возможность использования фотоакустической микроскопии для НК качества соединительного шва в биморфных пьезоэлементах. Исследуемые образцы последних представляли собой диски диаметром 30 мм. Они были собраны из двух пьезокерамических пластин толщиной 0,27 мм. [c.286]

Многие способы создания изображений, разработанные в оптической микроскопии (а именно создание стереоизображений, темнопольный, фазовый и дифференциальный фазовый контраст), имеют точные аналогии в акустической микроскопии [86]. При возбуждении РЧ-сигналом пьезоэлектрические преобразователи генерируют когерентные волны, которые в режиме приема снова превращаются в когерентный РЧ-сигнал. Следовательно, в каждой исследуемой точке развертки можно измерить как фазу, так и амплитуду. Для получения стереоизображения берут два изображения при различных углах плоскости сканирования при формировании темного поля излучатель заменяют плосковолновым преобразователем, а перед приемной линзой помещают апертурную диафрагму нулевого порядка. Принципы фотоакустической спектроскопии используют также в акустических микроскопах. При этом в каждой исследуемой точке возможны количественные измерения. [c.452]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология