Дефекты, глубина залегания

При контроле наклонным преобразователем глубиномер позволяет измерять две координаты дефекта глубину залегания его под поверхностью и расстояние от преобразователя до дефекта вдоль по- [c.150]

Выходные параметры Пространственное распределение температуры Динамика температуры Температурный сигнал над дефектом Оптимальное время регистрации Выходные параметры Поперечные размеры дефекта Глубина залегания дефекта Толщина дефекта [c.42]

Глубина залегания выявляемых дефектов, мм............................до 20 [c.202]

Традиционные методы и средства НК направлены, как известно, на поиск и нахождение конкретного дефекта. При этом определение размеров дефектов (глубина залегания, протяженность), расположенных в объеме основного металла или в металле сварного соединения, является сложной практической задачей. Однако если размеры дефекта определены (современные дефектоскопы решают эту задачу), то необходимо оценить степень его опасности и ответить на вопрос Развивается дефект или нет Чтобы ответить на этот вопрос, необходимо сделать поверочный расчет на прочность данного узла с учетом размеров дефекта. Очевидно, что в широкой практике такие расчеты не выполняются. Поэтому существующие нормы допустимости дефектов (выявляемых УЗД, рентгеном), например, в сварных соединениях основаны преимущественно на статистике и в большинстве инструкций носят условный характер. Научно обоснованных норм допустимости размеров дефектов в отношении механики разрушений и прочности оборудования в широкой практике нет. [c.51]

Номинальная толщина стенкн, мм Протяженность, мм, при глубине залегания дефекта, мм Число допустимых дефектов на 100 мм шва, шт. [c.491]

Теоретические входные данные Материал объекта контроля Параметры теплообмена (нагрева или охлаждения) Поперечные размеры дефекта Глубина залегания дефекта Толщина дефекта Экспериментальные входные данные Материал объекта контроля Пространственное распределение температуры Динамика температуры [c.42]

Определение глубины залегания дефекта прн контроле любым типом искателя (прямым, призматическим и т. д.) проводят в порядке, указанном в инструкции по эксплуатации дефектоскопа. Методика определения эквивалентных размеров дефектов зависит от типа искателя и вида дефекта (точечный, протяженный). [c.481]

Таким образом, для повышения точности определения координат проекции дефекта на поверхности ОК нужно улучшить направленность поля излучения. Здесь пригодны те же рекомендации, которые были сделаны в отношении улучшения фронтальной разрешающей способности. Погрешность измерения глубины залегания дефекта оценена в 3.3. [c.144]

Катушка Р-1 содержала дефект в виде расслоения (глубина залегания — 7,5 мм), выходящего на сварной шов. Расслоение имело металлургическое происхождение и содержало окалину. [c.197]

Дефектоскоп с встроенной микроэвм — основной тип прибора общего назначения последних выпусков (рис. 2.5). Поступающие сигналы аналого-цифровой преобразователь переводит в цифровую форму, в которой производят дальнейшую обработку и выводят результаты на табло или дисплей в виде цифровых данных о глубине залегания и амплитуде эхосигнала от дефекта. Это повышает точность, помехоустойчивость и дает ряд дополнительных возможностей. МикроЭВМ может осуществлять первичную статистическую обработку результатов, сохранять информацию о режимах и результатах контроля, документировать ее, обмениваться информацией с ЭВМ более высокого уровня. [c.99]

О 2 Ч 6 10 Глубина, залегания дефекта, мм а) [c.198]

С помощью образца с большим количеством искусственных дефектов, залегающих на разной глубине, находят более точное значение мертвой зоны. Лучше всего, если эти дефекты — плоскодонные отверстия, тогда можно проверить достижение требуемого уровня фиксации, однако часто используют боковые отверстия. По мере уменьшения глубины залегания дефекта и приближения эхо-сигнала к зондирующему импульсу наблюдают интерференцию этих сигналов. В этом случае сигналы от дефекта и зондирующего импульса различаются достаточно четко, но амплитуда эхосигнала изменяется под влиянием хвоста зондирующего импульса и ее нельзя использовать как информативный параметр. [c.148]

В отличие от совмещенных в РС-преобразователях дефект обычно (но не всегда) вызывает увеличение амплитуды сигнала. Это связано с тем, что при уменьшении амплитуда колебаний, возбуждаемых в ОК излучающим вибратором, возрастает, что и регистрирует приемный вибратор. Раздельно-совмещенные преобразователи превосходят совмещенные по глубине залегания выявляемых дефектов, но уступают им по чувствительности к неглубоким дефектам. [c.227]

Предельные глубины залегания выявляемых дефектов в слоистых пластиках составляют 20. .. 25 мм для всех вариантов метода. Чувствительность зависит от параметров ОК и глубины залегания дефектов, уменьшаясь с увеличением последней. Минимальные площади обнаруживаемых дефектов лежат в пределах 2.., 15 см , причем большие значения соответствуют большим глубинам залегания. [c.231]

Контроль осуществляют при одностороннем доступе без смачивания поверхности изделия. Предельная глубина залегания выявляемых дефектов в слоистых пластиках — 30 мм — больше, чем в других рассмотренных методах. При контроле изделий без металлической основы глубина залегания обнаруживаемых дефектов не превышает 60% толщины ОК. Минимальная площадь обнаруживаемого дефекта зависит от глубины залегания и составляет 2...15 см , с увеличением глубины залегания чувствительность падает. [c.232]

Если структура поковок мелкозернистая, то контроль проводят на частоте 2,5 МГц при значительном уровне реверберационных помех, который может возникать в результате отклонений от нормальных режимов ковки, контроль осуществляют на частоте 1,8 МГц. Предельную чувствительность ультразвукового контроля устанавливают исходя из минимально недопустимого дефекта согласно техническим требованиям на поковки. При отсутствии специальных требований настройку предельной чувствительности производят по контрольному отражателю с плоским дном, перпендикулярным оси ультразвукового пучка, площадью 5 = = 5- 7 мм и глубиной залегания, близкой к толщине стенки поковки. [c.21]

На рис. 21 приведена зависимость чувствительности ультразвукового контроля от угла преломления искателя и глубины залегания дефектов в сварном шве стали 22К. Для определения этой зависимости на поверхности сварных образцов разной толщины фрезой наносили дефекты различной площади под углом, равным углу преломления ультразвукового луча. Как и следовало ожидать, чувствительность контроля, определяемая площадью 5о минимального четко выявляемого дефекта, повышается с уменьшением угла преломления искателя. [c.37]

На заводах широко применяют первый метод, сущность которого заключается в сопоставлении плотности почернения изображения дефекта на снимке с плотностью почернения изображений канавок эталона. Однако ошибка измерения по этому методу может быть весьма большой. Точнее всего по снимкам можно измерить величины пор и шлаковых включений сферической формы. При этом для оценки чувствительности метода следует пользоваться проволочным эталоном. В целом методики измерения глубины залегания дефектов и их протяженности в глубину шва при радиационном контроле нуждаются в дальнейшем совершенствовании. Поэтому при расшифровке дефектов по радиографическим снимкам оператор может дать о них лишь ограниченные сведения. [c.131]

Магнитный контроль осуществляли методом магнитной суспензии. Контролируемый участок намагничивали пропусканием тока. Ультразвуковой контроль проводили призматическими и прямыми искателями на частоте 2,5 МГц. При обнаружении дефектов определяли, по возможности, их тип (трещины, пористость и т. п.), протяженность и глубину залегания. Характер дефекта определяли исследованием изменения вида осциллограмм при установке искателя в различные положения и с разных сторон дефектного участка. Гамма-лучами участок просвечивали с использованием радиоактивного препарата кобальта Со . [c.192]

Если искатель перемещать по поверхности образца перпендикулярно оси бокового отверстия, то получим зависимость изменения амплитуды сигнала от дефекта одного и того же размера и конфигурации, но расположенного в различных точках плоскости сечения ультразвукового пучка, параллельной внешней поверхности. На образцах толщиной 8—10 мм измерения проводили двукратно отраженным лучом, а толщиной 12—20 мм— однократно отраженным. Так обычно проводят механизированный контроль изделий толщиной 8—18 мм. Независимо от глубины залегания бокового сверления перед началом измерений искатель устанавливают на расстояние, соответствующее положению, когда центральный луч отражается от бокового сверления, расположенного посередине поперечного сечения образца (центра симметрии сечения шва). [c.205]

Из-за отсутствия гониометрического столика электронно-микроскопическая картина дефектов имела несколько случайный характер, однако окончательный ее вид был скорректирован на основании многих наблюдений. Трудность, возникавшая при непосредственном исследовании алмаза в электронном микроскопе, заключалось в том, что наблюдавшаяся картина исчезала под пучком электронов через 2—5 с. Непосредственная дифракционная картина дефекта зависела от ориентации образца по отношению к электронному лучу. Контраст на изображении по этой причине является функцией толщины образца и глубины залегания дефекта. Для дефекта, расположенного наклонно к плоскости образца, периодичность чередования светлых и темных участков, отражающая глубину залегания дефекта, выявится в виде ряда контуров, параллельных линии пересечения плоскости дефекта с поверхностью образца. [c.410]

В качестве преобразователя излучения в дефектоскопе РД-ЮР использован сцинтиллирующий кристалла Nal(TI) с фотоэлектронным умножителем. Дефектоскоп РД-ЮР предназначен для неразрушающего контроля объектов различной конфигурации при перепаде толщин от 0.1 до 1 м, в связи с чем в нем предусмотрено несколько режимов работы блоков обработки сигналов и их регистрации, что позволяет оптимизировать условия контроля. В частности, режим работы ФЭУ регулируется в зависимости от средней интенсивности воздействующего на кристалл излучения путем изменения напряжения питания. Это существенно расширяет диапазон регистрируемых интенсивностей излучения до 10 раз. Блок преобразователей излучения и комплекс регистрирующей аппаратуры соединяются кабелями длиной 200 м, обеспечивая безопасную работу персонала. Сочетание мощного источника излучения иа основе изотопа Со с высокой чувствительностью радиометрических преобразователей позволяет вести контроль полуфабрикатов и изделий с плотностью материала 1,8 г/см и толщине до 1 м. Помимо пяти основных приемников излучения в дефектоскопе РД-ЮР имеется еще три дополнительных приемника для определения глубины залегания дефекта. Блок управления позволяет дистанционно управлять приемниками излучения при изменении фокусного расстояния и выбирать оптимальный режим контроля конкретных полуфабрикатов и изделий. [c.337]

Аналоговая и логическая обработка информации от нескольких преобразователей дефектоскопа дает возможность вести многопараметровый радиационный контроль качества, который состоит в определении наличия дефектов, измерении толщины слоя и нахождении глубины залегания дефектов, что является преимуществом дефектоскопа РД-ЮР по сравнению с другими. [c.337]

Предварительные результаты по пассивному тепловизионному обнаружению облаков газа из трубопроводов с невысоким давлением были сообщены С. Люнг-бергом в рамках выполнения проекта VOGUE [175]. Установлено, что эффективность выявления утечек зависит от погодных условий, диаметра дефектов, глубины залегания трубопровода и типа почвы. [c.349]

Чувствительность метода определяется наименьшими размерами выявляемых дефектов для поверхностных дефектов — шириной раскрытия у выхода на поверхность, протяженностью в глубь металла и ио поверхности детали для глубинных дефектов — размерами дефекта и глубиной залегания. Чувствительность зависит в основном от особенностей метода контроля, технических данных аппаратуры, чистоты обработки поверхности контролируемой детали, ее материала, условий контроля и других факторов. Чувствительность некоторых метолов неразрушающего контроля ириведеР1а в табл. 10.3. [c.485]

Глубину залегания дефекта при контроле одна1кды отраженным лучом определяют как сумму толщины стенки и расстояния от внутренней поперхности соединения до дефекта. [c.491]

На чувствительность контроля оказывает влияние местоположение дефекта в детали. Подповерхностные дефекты обнаруживаются хуже, чем поверхностные. До глубины залегания примерно 100 мкм чувствительность к обнаружению подповерхностных дефектов практически не уменьшается, На большем расстоянии от поверхности при прочих равных условиях могут быть обнаружены дефекты более фубые, чем поверхностные. В первом гфиближении можно принять, что на глубине 2-3 мм могут быть [c.161]

Допускается применение стали по ГОСТ 7350—77 группы поверхности М36 и М4б при условии, что в расчете на прочность должны бьггь учтены глубина залегания дефектов и минусовые отклонения. [c.20]

На рисунке 3.4.33 представлена структурная схема устройства с многоэлементным матричным преобразователем магнитных полей для измерения глубины залегания и размеров дефекта [76]. Устройство содержит устанавливаемый на объект контроля 1 мапш- [c.197]

Из общих физических представлений о поле дефекта следует, что решение проблемы измерения абсолютной величины поля, независимо от координат его расположения (глубины залегания), заключается в получении объемной топографии поля дефекта [58]. Поле дефекта Яд, как и любого другого потенциального поля, может бьпъ представлено в виде градиента скалярного потенциала Яд = - qrad (р. Следовательно, если известен закон изменения поля Нд в зависимости от расстояния между датчиком и дефектом, при измерении градиента этого поля в области наблюдения можно определить координаты расположения и действительный размер дефекта [c.199]

При контроле нормальным преобразователем два отмеченных вида погрешностей четко разделяются. Погрешность в определении положения преобразователя соответствует ошибке в оценке участка поверхности, под которым залегает дефект, а погрешность последующего измерения пути ультразвука. в ОК соответствует ошибке в оценке глубины залегания дефекта под поверхностью. Когда амплитуда эхосигнала достигает максимума, дефект в дальней зоне находится на оси прямого преобразователя, т. е. под его центром. Однако искажение акустического поля преобразователя и нестабильность акустического контакта могут привести к ошибкам в определении достижения максимума. Если нестабильность акустического контакта изменяет амплитуду на 20%, то центр преобразователя может расположиться в пределах области, где амплитуда эхосигнала составляет 0,8 от максимума. Для круглого преобразователя с помощью кривой O(ajfesinO) (см. 1 на рис. 1.35) для уровня У0,8 0,9 находят afe sin 0 = afep/r=O,9, откуда возможное смещение преобразователя р от максимального положения равно р = 0,ЗЯг/Ь. Если дефект расположен в ближней зоне преобразователя, то рй 0,5/). [c.144]

Определяет глубину залегания дефектов по ЦИФРОВОМУ ннАикатору [c.286]

Для того чтобы повысить достоверность результатов контроля, а также ускорить ориентировочное определение глубины залегания дефектов, необходимо установить на линии развертки трубки дефектоскопа зону автоматического контроля и на накладной шкале (например, полоске миллиметровой бумаги) сделать условные отметки толщины сварных щвов основного и плакирующего [c.48]

При проведении ремонта толстых (более 20 мм) швов необходимо указывать глубину залегания дефектов и их положение относительно кромки шва. Следует отметить, что измерить размеры дефектов в плоскости снимка, подсчитать их количество и определить их положение относительно кромки шва сравнительно легко. Маркировочные знаки на пленке и поверхности изделия позволяют четко указать проекцию дефекта на поверхность сварного соединения. Для определения глубины залегания дефектов рекомендуется применять методы стериорадиографии и двойного просвечивания [61, 78]. Но эти методы трудоемки, и их используют редко, например в спорных случаях, когда решение о каче- [c.130]

Переносные микроскопы имеют упрощенную конструкцию и устанавливаются непосредственно на контролируемый объект. Их увеличение невелико (обычно не более 100), а габариты гораздо меньше серийных микроскопов, что определяет удобство их применения. Перекосные микроскопы позволяют обнаруживать дефекты, определять их размеры и глубину залегания, производить измерения других геометрических характеристик. Толщина прозрачных и полупрозрачных покрытий и глубина залегания дефектов в таких изделиях могут быть определены методом фокусировки изображения. Для этого сначала фокусируют микроскоп на поверхность изделия и запоминают показание отсчетного устройства на ручке фокусировки, а затем ее фокусируют на изображение элементов основания и отмечают показание отсчетного устройства. Определив разность перемещения объектива в направлении изделия, с учетом коэффициента преломления можно рассчитать толщину покрытия или расстояние до дефекта. Фокусировка на внешнюю границу прозрачного изделия в большинстве случаев осуществляется легко, поскольку даже хорошо отполированная поверхность является шероховатой и на микрозыступах или впадинах происходит рассеяние света. Если рассеяние невелико и фокусировка на внешнюю поверхность затруднена, можно слегка загрязнить поверхность каким-либо мелкодисперсным материалом, например графитом мягкого карандаша, что повысит достоверность отсчета. Фокусируя микроскоп на разные части дефекта, можно оценить его протяженность. [c.245]

Прибор ПКПА предназначен для контроля качества прозрачных кристаллов путем оценки количества и размеров дефектов в них. Этот прибор имеет специальный осветитель, проецирующий на дефект метку монохроматического (желтого) света, и увеличительную часть с удобной системой отсчета трех координат положения дефекта и его размеров. Глубина залегания дефектов и их протяженность по глубине определяются методами фокусировки, а размеры в перпендир улярном направлении путем перемещения столика, где крепится кристалл, — по микрометрической шкале. Применение прибора ПКПА дает возможность обнаруживать, оценивать размеры пустот и инородных включений в глубине кристалла, по сравнению с серийными микроскопами упрощает и убыстряет процесс визуально-оптического контроля. [c.246]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология