Межплоскостные расстояния в зависимости от угла

Согласно условию Вульфа—Брэгга, дифракционные максимумы получаются только для определенных направлений и межплоскостных расстояний. Методы рентгеноструктурного анализа делятся, грубо говоря, на два типа в зависимости от условий съемки а) угол падения луча на кристалл постоянный, но меняется длина волны б) длина волны постоянная, но меняется угол падения. В том и другом случаях на фотопластинке или на счетчиках регистрируются [c.131]

Другие методы приготовления образцов, позволяющие несколько снизить рассеяние и поглощение, включают использование коллодиевых трубочек, целлофановых капсуль и клея. Такой образец состоит из большого числй маленьких кристал -литов, и, если его вращать под пучком рентгеновских лучей, некоторые из этих кристаллов окажутся ориентированными по отношению к рентгеновскому лучу таким образом, что окажутся возможными отражения, которые для каждой серии атомных плоскостей будут лежать на поверхности одного конуса. Отражения фиксируются на пленке, помещенной в виде цилиндра вокруг образца, как показано на рис. 134. По данным измерений пленки легко вычислить угол, под которым отражается падающий луч, равный 2 б, где б— угол между падающим лучом и рядом атомных плоскостей, дающих отражение. Отражение получается при условии, что п X =2а з1п б, где п — целое число, — длина волны рентгеновских лучей, й — межплоскостное расстояние (расстояние между двумя ближайшими плоскостями, дающими отражение). В кубической решетке й связано с периодом решетки простым соотношением. В кристаллах низшей симметрии зависимость между периодом решетки и межплоскостными расстояниями более сложная. Ниже приводятся данные для некоторых решеток. [c.252]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология