Основы рентгеновской и у-дефектоскопии

Основы рентгеновской и у -дефектоскопии [c.150]

Физической основой нейтронной радиографии является зависимость сечения взаимодействия излучения с веществом от характеристик вещества и прежде всего от его атомного номера и массового числа. В отличие, например, от рентгеновского и у-излучений эта зависимость для нейтронов (преимущественно низких энергий) выражена более сильно и имеет до некоторой степени противоположный характер (рис. 25). В связи с тем что эффективные сечения взаимодействия нейтронов с ядрами веществ увеличиваются с понижением энергии нейтронов (рис. 26), в радиационной дефектоскопии нашли преимущественное использование тепловые и надтепловые нейтроны. Из анализа кривых следует, что нейтроны вполне целесообразно использовать при дефектоскопии таких веществ, как марганец, бор, кадмий, водород и др. В этих веществах наблюдается резкое изменение в зависимости от энергии, что позволяет хорошо выявлять дефекты. [c.79]

Р. л. широко используются в науке и технике. Рентгеноструктурный анализ позволяет определять ие только кристаллич. структуру вещества, но и проводить прецизионный фазовый анализ сложных систем. Высокая ироникающая способность Р. л. служит основой для многих методов рентгеновской дефектоскопии изделий из различных материалов. Р. л. широко исиользуются также в медицине и биологии. [c.326]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология