Метод фотографирования обратной решетки

Метод фотографирования обратной решетки [c.368]

Рис. 234. Иллюстрация формы пятен рентгенограммы, полученной по методу фотографирования обратной решетки

Индицирование рентгенограммы, полученной по методу фотографирования обратной решетки, не представляет особого труда. Задача заключается лишь в установлении направлений на пленке, соответствующих двум наиболее характерным узловым прямым сетки (при вращении кристалла вокруг оси 2 — осям обратной решетки X и У ) и в определении масштаба сетки обратной решетки. [c.370]

В методе фотографирования обратной решетки каждый узел сетки совершает довольно большой холостой пробег отражение происходит только в моменты прохождения узла через поверхность сферы отражения остальное время, в течение которого узел движе тся по окружности, затрачивается лишь на подготовку к следующему акту отражения. Очевидно, что это холостое время можно сократить, если заменить вращение вокруг заданной оси на такое движение, при котором каждый узел удалялся бы от поверхности сферы отражения на минимальное расстояние и пересекал бы ее как можно чаще. Такая экономия времени осуществляется, в частности, при замене вращательного движения кристалла на прецессионное. [c.373]

В случае метода фотографирования обратной решетки можно предложить следующий способ определения os х, основанный на особенностях геометрии обратной решетки и сферы отражения в данном методе (рис. 6 а, б, в). [c.18]

В методе фотографирования обратной решетки LP является функцией угла т (значения х )> меняющегося от отражения к отражению, угла [X — одинакового для всех отражений данной рентгенограммы и угла V — постоянного для данного прибора. [c.57]

Аналитическая формула фактора поглощения в случае тонкой кристаллической пластинки в методе фотографирования обратной решетки [c.71]

Рис. 26. К расчету фактора поглощения при съемке по методу фотографирования обратной решетки (случай пластинчатого кристалла)

Типичная рентгенограмма изображена а рис. 132,6. Забегая несколько вперед, заметим, что такая рентгенограмма представляет собой неискаженное изображение узловой сетки обратной решетки кристалла. Поэтому в советской литературе этот метод часто называют методом фотографирования обратной решетки. Подробнее он будет рассмотрен в гл. XIII части третьей. [c.211]

На этих общих принципах основаны два рентгенгониометрических метода метод фотографирования обратной решетки (Де-Ионга—Бумена) и прецессионный рентгенгониометрический метод. Первый из них предусматривает вращение кристалла (а следовательно, и сетки обратной решетки) вокруг некоторой заданной оси, второй — прецессионное смещение кристалла (сетки) без его вращения. [c.368]

Формулу легко преобразовать применительно ко всем необходимым частным случаям обычному методу вращения ( х = 0), равнонаклонному методу Вейссенберга (v = — л), схеме постоянного конуса в методе фотографирования обратной решетки (v = onst). [c.15]

Во всех рентгенгониометрических методах (в частности, в методе Вейсенберга и методе фотографирования обратной решетки) благодаря движению самой пленки в каждой точке регистрируется одно индивидуальное отражение фактор повторяемости отсутствует. [c.80]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология