Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Метод Вейсенберга

    Симметрия расположения пятен на рентгенограмме полного вращения всегда одинакова. То же относится к расположению линий на рентгенограмме порошка. По виду рентгенограмм вращения и дебаеграмм нельзя определять дифракционную симметрию. Наоборот, симметрия рентгенограмм, снятых полихроматическим методом или по методу качания, существенно зависит от симметрии кристалла. Кроме того, дифракционная симметрия может быть определена по рентгенограммам, дающим развертки слоевых линий. В методе Вейсенберга дифракционная симметрия сказывается в некоторой определенной закономерности расположения пятен в методе Де-Ионга — Бумена (фотографирования обратной решетки) и в прецессионном методе, так же, как в полихроматическом методе и методе качания, эта закономерность носит характер симметрии. [c.255]


    В методе Вейсенберга цилиндрическая кассета перемещается поступательно вдоль оси вращения. Помещенная внутри цилиндрическая ширма с руго вой прорезью задерживает лучи всех слоевых линий, кроме заданной. Перемещение кассеты разбрасывает пятна этой слоевой линии по всей высоте пленки. Если координата х пятна по-преж-нему определяется углом т (см. формулу (36)), то вторая координата г зависит от величины смещения кассеты вдоль оси, т. е. от угла поворота кристалла ф. [c.348]

    Схемы, при которых р, фуфО, в методе Вейсенберга практически не используются. Однако имея в виду другие рентгенгониометрические методы и метод дифрактометра, рассмотрим формулы взаимосвязи между цилиндрическими координатами узла и углами р., v, т и в этом самом общем случае. [c.366]

    Любой из рентгенгониометрических методов представляет собой определенный способ проектирования узловых сеток обратной решетки. В методе Вейсенберга проектирование осуществляется так, что радиальные прямые сетки заменяются параллельными прямыми на рентгенограмме. Можно, очевидно, разработать и такую кинематическую схему движения кристалла и кассеты, при которой на рентгенограмме возникало бы неискаженное изображение сетки обратной решетки. [c.367]

    Если X = О (обычный метод вращения, схема перпендикулярного пучка в методе Вейсенберга), [c.55]

    В равнонаклонном методе Вейсенберга LP (или 1/LP) является функцией угла г, меняющегося от отражения к отражению, и угла р. — одинакового для всех пятен данной рентгенограммы. [c.57]

    Этого осложнения нет в равнонаклонном методе Вейсенберга >= —ц и, следовательно, оба эффективных коэффициента равны [c.68]

    Во всех рентгенгониометрических методах (в частности, в методе Вейсенберга и методе фотографирования обратной решетки) благодаря движению самой пленки в каждой точке регистрируется одно индивидуальное отражение фактор повторяемости отсутствует. [c.80]

    На практике используются несколько разновидностей этого метода. В методе качаний вместо вращения кристалла на 360° его заставляют качаться в ограниченном интервале углов. Ограниченность этого интервала понижает вероятность наложения отражений различного порядка. В методах Вейсенберга и прецессии синхронно с качающимся кристаллом происходит перемещение пленки. [c.47]


Смотреть страницы где упоминается термин Метод Вейсенберга: [c.208]    [c.367]    [c.381]    [c.18]    [c.55]    [c.56]   
Физическая химия силикатов (1962) -- [ c.207 ]

Рентгеноструктурный анализ Том 1 Издание 2 (1964) -- [ c.207 , c.348 , c.367 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте