Определение железа методом появления линий

Работа 14. Определение железа методом появления линий [c.178]

Работа 16. Определение железа методом появления линий [18] [c.190]

Однако использованное в этих работах для вычисления параметра кристаллической решетки смещение линий на рентгенограмме, являясь результатом изменения межплоскостного расстояния перпендикулярно к поверхности образца, может быть вызвано двумя причинами образованием твердого раствора внедрения или возникновением остаточных напряжений первого рода, вызванных наличием в поверхностном слое железа коллекторов, заполненных водородом под высоким давлением. М. М. Швед [76] разработал остроумный метод раздельного определения изменения параметра кристаллической решетки, вызванного образованием твердого раствора, и изменения параметра решетки, вызванного появлением напряжений первого рода, а также вычисления величины этих напряжений. Метод основан на съемке рентгенограмм под углом 90° и под ф<90° (обычно 4l3 = 45°). Изменение истинного параметра решетки наблюдалось в пятом знаке (Аа== 0,00002 нм), что нах.одится в пределах ошибки измерения [77]. Таким образом, насыщение поверхности армко-железа водородом приводит к возникновению остаточных напряжений первого рода, а истинный параметр кристаллической решетки не меняется. Это может служить доказательством отсутствия твердого раствора атомо)в водорода в наводороженном железе. Причиной наблюдаемого увеличения параметра решетки являются только остаточные напряжения сжатия, вызванные появлением и развитием в приповерхностном слое железа пустот микроскопических и субмикроскопических размеров (начиная от скопления вакансий и дислокаций). [c.22]

Работа 16. Определение желез методом появления линий [К [c.190]

Количественное определение. Обычно пользуются методом сравнения с внутренним эталоном . Для сравнения выбирают такой элемент, который является постоянным компонентом анализируемого вещества (например, железо при анализе черных металлов), или же элемент, который добавляют к анализируемой пробе в определенном отнощении (например, при анализе порошков). Затем выбирают две линии, одну в спектре определяемого элемента А, другую в спектре элемента сравнения (эталона) В. Важно, чтобы линии эти были гомологичны , т. е. интенсивность их должна меняться одинаково с изменением возбуждения. Кроме того, эти линии должны быть в близких участках спектра, чтобы свести к минимуму возможность появления ошибки вследствие неоднородности фотографической эмульсии. И, наконец, интенсивности обеих линий не должны слишком различаться в измеряемых значениях концентраций. [c.584]

Н. П. Воинов разработал метод построения линии износа , основанный на определении железа в масле [82]. Преимущества метода весьма существенны не надо разбирагь двигатель для замеров и можно вести наблюдение за течением процесса изнашивания. Ранее, до появления фильтров тонкой очистки, метод широко применялся. В масляных системах с фильтром тонкой очистки его применять трудно, недостатком метода является также некоторая неточность — в основу его положено предположение о прямолинейном возрастании концентрации железа в масле по времени. [c.93]

При определении индия в минералах, рудах и продуктах их переработки предварительно производят обогащениепо методу И. П. Алимарина и Б. Н. Иванова-Эмина [3] (см. стр. 21). В полученном растворе, кроме индия, можно ожидать присутствия железа и алюминия. Опыты показали, что до 1,6% AI заметно не влияет на точность результатов, а более 1% Ге приводит к появлению сильного фона, в связи с чем фотометрирова-ние линий становится затруднительным. [c.205]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология