Структурные амплитуды отражений Определение структурной амплитуды. Общие формулы

В структурах средней сложности число независимых координатных параметров не превышает 150—200, а общее число дифракционных лучей, даваемых таким кристаллам, достигает нескольких тысяч. Следовательно, число экспериментально определенных F(hkl) значительно больше числа неизвестных Xj, y , z . Это обстоятельство создает возможность либо обойти проблему начальных фаз и определить координаты некоторой части атомов структуры без оценки (f hkl), либо решить проблему начальных фаз, т. е. определить значения (f hkl) [в центросимметричном случае S hkl)] некоторой части отражений. Алгоритмы, позволяющие это сделать, рассматриваются в 7 и 8 этой главы. Пока же, забегая вперед, допустим, что координаты нескольких атомов уже удалось определить (стрелка 1 на схеме). Обычно это те атомы соединения, которые имеют наибольшие атомные номера и соответственно наибольшие //. Такие атомы вносят наибольший вклад в структурные амплитуды согласно формуле (28) . [c.105]

При отсутствии в структуре центра инверсии погрешность в электронной плотности и в ее производной зависит не только от ошибок в структурных амплитудах, но и от погрешностей в определении начальных фаз отражений. Поэтому, если общая формула вероятной погрешности в координатах (180) и остается справедливой, [c.586]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология