Ошибочная интерпретация структуры образцов III

Ошибочная интерпретация структуры образцов может объясняться не только тем, что вещество изменяется под влиянием перегрева электронными лучами, но и некоторыми особыми свойствами электронно-микроскопического изображения, зависящими от физических условий самой электронной оптики к явлениям, которые вызывают ошибочную интерпретацию, относятся вторичное изображение, контрастная интерференция и швы границ первые два случая встречаются при кристаллическом материале. [c.280]

Сорг осадочных пород определяет количество О2, ушедшего в атмосферу в результате деятельности циано-бактериального сообщества и захоронения С рг в виде керогена. Количественная оценка массы содержавших Сорг осадочных пород архея-палеопротерозоя невозможна из-за геологического рецикла. Поэтому приходится опираться на концентрацию Сорг в анализированных образцах, и вывод зависит от выборки. В некоторых образцах осадков архея содержание Сорг не уступает более поздним породам. Первичными продуцентами могли служить оксигенные цианобактерии. История строматолитов свидетельствует о том, что циано-бактериальные сообщества, вероятно, существовали с 3,5 млрд лет тому назад, хотя для древнейших строматолитов есть вероятность ошибочной интерпретации слоистых осадочных структур, а нитчатые микрофоссилии могут принадлежать и иным, чем цианобактерии, трихомным организмам. Однако большинство исследователей склоняется к интерпретации этих микрофоссилий как цианобактерий. [c.324]

Швы у краев. Особенно частые неправильные интерпретации тонкой структуры некоторых объектов вызываются процессом экстрафокального изображения в кристаллических образцах . Их нельзя избежать даже при очень точной регулировке, если размеры образца в направлении, параллельном оптической оси, относительно велики. Такие швы ошибочно описывались, например, в качестве слоев продуктов реакции на поверхности, сконденсированных осадков у углов и краев, кристаллических игл, ориентированных параллельно последним, и вещественных нитей молекулярной толщины. Вследствие очень малой апертуры радиации электронного микроскопа отдельные частицы кажутся окруженными отчетливым швом в том случае, когда они лежат в пределах траектории падающих электронных волн. Этот шов изменяется по ширине и яркости в зависимости от р1асстояния частиц от фокальной плоскости и от апертуры радиации. Эти швы отчасти объясняются дифракцией Френеля [c.281]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология