Поверхность металла изучение методом Мюллера

Изучение металлических поверхностей непосредственно после деформации получило новый толчок после того, как Крамер [30] показал, что такие поверхности имитируют отрицательно заряженные частицы, которые можно обнаружить счетчиком Гейгера-Мюллера. Крамер нашел, что хорошо приработавшиеся поверхности подшипников дают большое число отсчетов на счетчике, в то время как новые подшипники из того же материала неактивны. Открытие Крамера, подтвержденное рядом других работ, оставалось необъясненным, пока не было обнаруж но [31], что поверхности после деформации дают фотоэлектрическую эмиссию в видимых пределах сиектра, т. о. гораздо ниже нормального фотоэлектрического порога металла. Использование счетчика Гейгера-Мюллера по методу Крамера позволяет измерять чрезвычайно малые электронные токи. При проведении такого исследования образец помещают под счетчиком Гейгера-Мюллера и облучают светом различной длины волны. Между образцом и счетчиком расположена управляющая сетка, создающая электрическое поле, которое направляет электроны и отрицательно заряженные ионы с поверхности к счетчику. Все это устройство находится в помещении, заполненном газовой смесью, которая необходима для работы счетчика. Отсчеты регистрируются электронным оборудованием, очень похожим на то, которое употребляют при работах с радиоактивными веществами. Схема аппарата показана иа фиг. 12. [c.66]

Квор (Прага, ЧССР). В связи с докладом профессора Бонда я хочу отметить, что расчет металлической поверхности методом молекулярных орол.алей вполне применим при изучении поверхностей с помощью ионного проектора. Проводя эту работу для металлической поверхности, когда распределение электронов вокруг каждого из атомов на поверхности было аппроксимировано орбиталями изолированного атома, мы, совместно с профессором Мюллером [7], имели возможность объяснить некоторые типичные особенности эмиссионного изображения гранецентрированных металлов, как, например, локальная яркость пятен на изображении гранецентрированных металлов, отсутствие изображения некоторых рядов атомов и пр. [c.290]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология